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테스트 데이터를 압축하는 방법, 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체 및 압축된 테스트 데이터 복원장치

  • 기술번호 : KST2015126186
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 테스트 데이터를 압축하는 방법, 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체 및 압축된 테스트 데이터 복원장치에 관한 발명으로서 N비트의 스캔슬라이스를 압축하여 슬라이스코드를 생성하는 테스트 데이터 압축방법으로 상기 슬라이스코드는 1비트의 컨트롤코드(control code)와 003c#003e#비트의 데이터 코드(data code)를 포함하되, 상기 데이터 코드는 적응코드와 선택코드를 포함하며, (a) 상기 스캔슬라이스를 상기 선택코드의 비트수와 같은 수의 구역을 형성하도록 나누는 단계, (b) 상기 스캔슬라이스가 동일한 비트가 반복되는 형태의 그룹모드인지, 다른 비트가 교대로 반복되는 형태의 교대모드인지를 결정하는 단계, (c) 상기 (b)단계에서 결정된 모드에 따라서 상기 컨트롤 코드와 상기 적응코드에 소정의 비트를 할당하는 단계, (d) 상기 스캔슬라이스에 의한 상기 선택코드를 할당하는 단계 및 (e) 상기 슬라이스코드를 생성하는 단계를 포함하고, 압축된 테스트 데이터를 복원하는 장치는 압축된 슬라이스 코드에서 컨플릭트 비트의 위치를 검색하는 디코더, SIC(scan chain input cell)로 입력되는 값을 결정하는 SIC 입력 선택기, 스캔체인으로 들어가는 입력값을 생성하기 위한 SIC(scan chain input cell)를 포함한다. 본 발명에 의해서 테스트데이터의 압축효율을 높이고 집적회로를 테스트하는 시간을 단축시키는 효과가 제공된다.
Int. CL G11C 29/40 (2006.01)
CPC G01R 31/318335(2013.01) G01R 31/318335(2013.01)
출원번호/일자 1020110017817 (2011.02.28)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1221868-0000 (2013.01.08)
공개번호/일자 10-2012-0098101 (2012.09.05) 문서열기
공고번호/일자 (20130115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.02.28)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 종로구
2 이근수 대한민국 서울특별시 은평구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 오세준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려)
2 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
3 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2011-0144731-62
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.12.19 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2012.01.17 수리 (Accepted) 9-1-2012-0005504-21
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.06.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0375792-79
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.08.28 수리 (Accepted) 1-1-2012-0693151-57
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.08.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0693152-03
8 등록결정서
Decision to grant		 2012.12.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0761927-45
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
N비트의 스캔슬라이스를 압축하여 슬라이스코드를 생성하는 테스트 데이터 압축방법으로 상기 슬라이스코드는 1비트의 컨트롤코드(control code)와 003c#003e#비트의 데이터 코드(data code)를 포함하되, 상기 데이터 코드는 적응코드와 선택코드를 포함하며, 데이터 압축 장치에 의해(a) 상기 스캔슬라이스를 상기 선택코드의 비트수와 같은 수의 구역을 형성하도록 나누는 단계;(b) 상기 스캔슬라이스가 동일한 비트가 반복되는 형태의 그룹모드인지, 다른 비트가 교대로 반복되는 형태의 교대모드인지를 결정하는 단계;(c) 상기 (b)단계에서 결정된 모드에 따라서 상기 컨트롤 코드와 상기 적응코드에 소정의 비트를 할당하는 단계;(d) 상기 스캔슬라이스에 의한 상기 선택코드를 할당하는 단계;및(e) 상기 슬라이스코드를 생성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 테스트를 위한 테스트 데이터 압축방법
2 2
제1항에 있어서,상기 적응코드는 상기 데이터 코드의 최상위 비트에 할당하는 것을 특징으로 하는 집적회로 테스트를 위한 테스트 데이터 압축방법
3 3
제1항에 있어서,상기 (c)단계는 상기 그룹모드인 경우 상기 컨트롤 코드는 "0"을 할당하고, 상기 적응코드는 "0"을 할당하며, 상기 교대모드인 경우 상기 컨트롤 코드는 "0"을 할당하고, 상기 적응코드는 "1"을 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 테스트를 위한 테스트 데이터 압축방법
4 4
제1항에 있어서,상기 (d)단계인 상기 스캔슬라이스에 의한 상기 선택코드를 할당하는 단계에서 상기 각 구역 첫번째 비트가 돈케어(don`t care)인 경우 "0" 또는 "1"의 값을 갖는 최상의 비트 값을 선택코드로 할당하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 테스트를 위한 테스트 데이터 압축방법
5 5
제1항에 있어서,상기 (d)단계인 상기 스캔슬라이스에 의한 상기 선택코드를 할당하는 단계 이후 상기 선택된 그룹모드, 교대모드에 의해 표시된 스캔 슬라이스와 상기 스캔슬라이스의 비트값이 서로 다른 컨플릭트(conflict)비트가 발생한 경우 상기 컨트롤 코드에 상기 그룹모드, 교대모드시에 할당했던 비트와 다른 특정 비트를 할당하고 상기 컨플릭트 비트의 위치를 나타내는 비트를 할당하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 집적회로 테스트를 위한 테스트 데이터 압축방법
6 6
제1항에 기재된 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체
7 7
선택코드, 적응코드, 컨트롤 코드를 포함하는 슬라이스 코드에서 컨플릭트 비트의 위치를 검색하는 디코더;상기 컨트롤 코드에 기초하여 상기 디코더의 결과값과 상기 선택코드 중 어느 하나를 SIC(scan chain input cell)의 입력값으로 결정하는 SIC 입력 선택기;상기 SIC 입력 선택기에 의해 결정된 값을 스캔체인으로 들어가는 입력값으로 생성하기 위한 SIC(scan chain input cell);를 포함하는 것을 특징으로 하는 압축된 테스트 데이터 복원 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 컨트롤 코드가 "0"인 경우 상기 선택코드가 상기 SIC에 입력되고,상기 컨트롤 코드가 "1"인 경우 상기 선택코드와 상기 적응코드를 상기 디코더의 입력값으로 한 결과값이 상기 SIC에 입력되는 것을 특징으로 하는 압축된 테스트 데이터 복원장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.