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구동 반사경 기반의 헤테로다인 간섭계 및 이를 이용한 센서

  • 기술번호 : KST2015126203
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 구동 반사경 기반의 헤테로다인 간섭계 및 이를 이용한 센서가 개시한다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 광신호를 출력하는 광원; 상기 광원에서 출력된 광신호를 반사광 및 투과광으로 분리하는 광분할기; 상기 반사광 및 투과광을 서로 다른 주파수로 변조하여 반사하는 구동 반사경; 및 상기 구동 반사경에 의해 주파수 변조된 광신호를 분석하는 검출부를 포함하는 헤테로다인 간섭계가 제공된다. 본 실시예에 따르면 저가의 비용으로 검출 정밀도를 높일 수 있는 장점이 있다.
Int. CL G01B 9/02 (2006.01) G01N 21/27 (2006.01)
CPC G01B 9/02034(2013.01) G01B 9/02034(2013.01) G01B 9/02034(2013.01) G01B 9/02034(2013.01)
출원번호/일자 1020110105344 (2011.10.14)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0040520 (2013.04.24) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.10.14)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김동현 대한민국 서울특별시 서대문구
2 원지유 대한민국 서울특별시 영등포구
3 류호정 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
3 민영준 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로 ****, *층(도곡동, 차우빌딩)(맥스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2011-0805089-28
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.11.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.12.20 수리 (Accepted) 9-1-2012-0094949-99
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0128125-54
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.04.25 수리 (Accepted) 1-1-2013-0365357-30
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.05.27 수리 (Accepted) 1-1-2013-0468472-10
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.06.25 무효 (Invalidation) 1-1-2013-0568932-34
11 보정요구서
Request for Amendment
2013.07.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0075194-19
12 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation
2013.08.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0089902-11
13 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0747818-83
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광신호를 출력하는 광원;상기 광원에서 출력된 광신호를 반사광 및 투과광으로 분리하는 광분할기;상기 반사광 및 투과광을 서로 다른 주파수로 변조하여 반사하는 구동 반사경; 및상기 구동 반사경에 의해 주파수 변조된 광신호를 분석하는 검출부를 포함하는 헤테로다인 간섭계
2 2
제1항에 있어서, 상기 구동 반사경은, 상기 반사광이 입사되며, 상기 반사광의 주파수를 변조하여 상기 광분할기로 다시 반사하는 제1 구동 반사경; 및상기 투과광이 입사되며, 상기 투과광의 주파수를 변조하여 상기 광분할기로 다시 반사하는 제2 구동 반사경을 포함하는 헤테로다인 간섭계
3 3
제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2 구동 반사경은, 상기 광분할기를 거쳐 입사되는 반사광 또는 투과광과 나란한 방향으로 미리 설정된 범위 내에서 미리 설정된 속도로 움직이는 헤테로다인 간섭계
4 4
제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2 구동 반사경은, 미리 설정된 주기로 소정 각도 범위 내에서 틸팅되는 헤테로다인 간섭계
5 5
제2항에 있어서,상기 제1 및 제2 구동 반사경에서 반사된 광신호는 상기 광분할기에 의해 투과 또는 반사되어 상기 검출부로 입력되는 헤테로다인 간섭계
6 6
제2항에 있어서,상기 광분할기와 상기 제2 구동 반사경 사이의 광 경로상에 시료 물질이 배치되며, 상기 검출부는 상기 제1 구동 반사경에서 반사되는 광신호와 상기 시료 물질을 통과한 광신호의 상관관계를 분석하는 헤테로다인 간섭계
7 7
광신호를 출력하는 광원;상기 광원에서 출력된 광신호를 TM 편광시키는 편광기;상기 TM 편광된 광신호를 반사광 및 투과광으로 분리하는 광분할기;상기 반사광을 전반사하는 제1 프리즘-상기 제1 프리즘 상에는 금속 박막이 배치되며 상기 반사광에 의해 1차 표면 플라즈몬 공명 현상이 발생됨-;상기 투과광을 전반사하는 제2 프리즘--상기 제2 프리즘 상에는 금속 박막이 배치되며 상기 투과광에 의해 1차 표면 플라즈몬 공명 현상이 발생됨-;상기 제1 프리즘 및 제2 프리즘에서 전반사된 광신호의 주파수를 변조하여 반사하는 하나 이상의 구동 반사경; 및상기 구동 반사경에 의해 주파수 변조된 광신호를 분석하는 검출부를 포함하는 센서
8 8
제7항에 있어서, 상기 구동 반사경은, 상기 제1 프리즘에서 전반사된 광신호를 주파수 변조하여 상기 제1 프리즘으로 다시 반사하는 제1 구동 반사경; 및 상기 제2 프리즘에서 전반사된 광신호를 주파수 변조하여 상기 제2 프리즘으로 다시 반사하는 제2 구동 반사경을 포함하는 센서
9 9
제8항에 있어서,상기 제1 및 제2 구동 반사경에 의해 반사된 광신호에 의해 상기 제1 프리즘 및 상기 제2 프리즘 상에서 2차 플라즈몬 공명 현상이 발생되며, 상기 검출부는 상기 1차 및 2차 표면 플라즈몬 공명 현상의 발생에 의한 증폭된 신호가 입력되는 센서
10 10
제8항에 있어서,상기 제1 및 제2 구동 반사경은, 상기 제1 프리즘 및 제2 프리즘에서 전반사된 광신호와 나란한 방향으로 미리 설정된 범위 내에서 미리 설정된 속도로 움직이는 센서
11 11
제10항에 있어서,상기 제1 및 제2 구동 반사경의 움직임에 따른 도플러 시프트 효과에 의해 상기 전반사된 광신호의 주파수가 변조되는 센서
12 12
광신호를 출력하는 광원;상기 광원에서 출력된 광신호를 반사광 및 투과광으로 분리하는 제1 광분할기;상기 반사광 및 투과광의 주파수를 변조하여 반사하는 복수의 구동 반사경; 상기 복수의 구동 반사경에 의해 주파수 변조된 광신호를 TM 편광시키는 편광기;상기 편광된 광신호를 반사광 및 투과광으로 분리하는 제2 광분할기;상기 제2 광분할기에서 출력된 반사광을 전반사하는 제1 프리즘-상기 제1 프리즘 상에는 금속 박막 및 시료 물질이 배치되며 상기 반사광에 의해 표면 플라즈몬 공명 현상이 발생됨-;상기 제2 광분할기에서 출력된 투과광을 전반사하는 제2 프리즘--상기 제2 프리즘 상에는 금속 박막 및 시료 물질이 배치되며 상기 투과광에 의해 표면 플라즈몬 공명 현상이 발생됨-;상기 제1 프리즘에서 전반사되는 광신호를 수신하는 제1 검출부; 및상기 제2 프리즘에서 전반사되는 광신호를 수신하는 제2 검출부를 포함하는 센서
13 13
제12항에 있어서, 상기 구동 반사경은, 상기 제1 프리즘에서 전반사된 광신호를 주파수 변조하여 상기 제1 프리즘으로 다시 반사하는 제1 구동 반사경; 및 상기 제2 프리즘에서 전반사된 광신호를 주파수 변조하여 상기 제2 프리즘으로 다시 반사하는 제2 구동 반사경을 포함하는 센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.