맞춤기술찾기
이전대상기술
ＢＩＳＴ 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치
- 기술번호 : KST2015126249
- 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
- 전화번호 : 02-6124-6930
| 요약 | 본 발명에 의한 BIST 장치의 넓은 형태 중 하나는 테스트의 종류를 나타내는 테스트 신호를 출력하는 테스트 패턴 생성부, 테스트 신호에 따라 일련의 제1 명령을 생성하는 패턴 디코더, 테스트 신호와 제1 명령에 따라 제 1 주소를 생성하는 주소 카운터, 제 1 주소 및 제1 명령에 따라 반도체 장치를 제어하는 제 2 명령과 반도체 장치의 특정 위치에 접근하기 위한 제 2 주소를 생성하는 물리 신호 생성부 및 제1 명령에 따라 반도체 장치에 기록할 입력 데이터를 생성하고 반도체 장치로부터의 출력 데이터를 수신하며, 테스트 결과를 출력하는 데이터 제어부를 포함한다. 본 발명의 또 다른 넓은 형태는 이러한 BIST 장치를 포함하는 반도체 장치 또는 반도체 메모리 장치이다. |
|---|---|
| Int. CL | G11C 29/12 (2006.01) G11C 29/10 (2006.01) |
| CPC | G11C 29/14(2013.01) G11C 29/14(2013.01) G11C 29/14(2013.01) G11C 29/14(2013.01) |
| 출원번호/일자 | 1020110139826 (2011.12.22) |
| 출원인 | 에스케이하이닉스 주식회사, 연세대학교 산학협력단 |
| 등록번호/일자 | |
| 공개번호/일자 | 10-2013-0072425 (2013.07.02) 문서열기 |
| 공고번호/일자 | 문서열기 |
| 국제출원번호/일자 | |
| 국제공개번호/일자 | |
| 우선권정보 | |
| 법적상태 | 등록 |
| 심사진행상태 | 수리 |
| 심판사항 | |
| 구분 | 신규 |
| 원출원번호/일자 | |
| 관련 출원번호 | |
| 심사청구여부/일자 | Y (2016.11.02) |
| 심사청구항수 | 23 |
출원인
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 대한민국 | 경기도 이천시 |
| 2 | 연세대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
발명자
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 박기현 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
| 2 | 김일웅 | 대한민국 | 경기도 성남시 분당구 |
| 3 | 강성호 | 대한민국 | 서울특별시 종로구 |
| 4 | 권용기 | 대한민국 | 서울특별시 중랑구 |
대리인
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 김선종 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 강남대로 *** (서초동, 서초현대타워아파트) ****(김선종 특허법률사무소) |
최종권리자
| 번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
|---|---|---|---|
| 1 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 대한민국 | 경기도 이천시 |
| 2 | 연세대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
| 번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2011.12.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-1021478-32 |
| 2 | 보정요구서 Request for Amendment |
2011.12.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2011-0120606-05 |
| 3 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2011.12.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-1030961-95 |
| 4 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2012.01.04 | 불수리 (Non-acceptance) | 1-1-2012-0007698-52 |
| 5 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2012.01.06 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0015652-06 |
| 6 | 서류반려이유통지서 Notice of Reason for Return of Document |
2012.01.09 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2012-0004084-18 |
| 7 | 서류반려통지서 Notice for Return of Document |
2012.02.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2012-0015703-29 |
| 8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2012.04.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5073964-60 |
| 9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2012.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5270171-92 |
| 10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
| 11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
| 12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
| 13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.04.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5055330-26 |
| 14 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 [Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination) |
2016.11.02 | 수리 (Accepted) | 1-1-2016-1071184-14 |
| 15 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2016.11.02 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2016-1070968-13 |
| 16 | 보정요구서 Request for Amendment |
2016.11.14 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2016-0163921-07 |
| 17 | [출원서등 보정]보정서(납부자번호) [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number) |
2016.11.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2016-1111055-50 |
| 18 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2017.01.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
| 19 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2017.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-2017-0006907-79 |
| 20 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2017.09.15 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2017-0647841-59 |
| 21 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2017.10.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2017-1059489-86 |
| 22 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2017.10.26 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2017-1059561-76 |
| 23 | 거절결정서 Decision to Refuse a Patent |
2018.03.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2018-0202580-13 |
| 24 | [명세서등 보정]보정서(재심사) Amendment to Description, etc(Reexamination) |
2018.04.16 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2018-0375167-24 |
| 25 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2018.04.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2018-0375196-48 |
| 26 | 등록결정서 Decision to Grant Registration |
2018.05.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2018-0332480-16 |
| 번호 | 청구항 |
|---|---|
| 1 |
1 다수의 테스트 중 선택된 테스트를 나타내는 테스트 신호를 출력하는 테스트 패턴 생성부;상기 테스트 신호에 따라 상기 선택된 테스트에서 수행할 일련의 제 1 명령을 생성하는 패턴 디코더;상기 테스트 신호에 포함되는 주소의 진행 방향에 관한 정보와 상기 일련의 제 1 명령에 포함되는 주소 변경 명령에 따라 제 1 주소를 생성하는 주소 카운터; 상기 제 1 주소 및 상기 제 1 명령에 따라 반도체 장치를 제어하는 제 2 명령과 상기 반도체 장치의 특정 위치에 접근하기 위한 제 2 주소를 생성하여 상기 반도체 장치에 출력하는 물리 신호 생성부; 및상기 제 1 명령에 따라 상기 반도체 장치에 기록할 입력 데이터를 생성하여 상기 반도체 장치에 출력하고, 상기 반도체 장치로부터의 출력 데이터를 수신하며, 테스트 결과를 출력하는 데이터 제어부를 포함하되,상기 주소 카운터는 상기 제 1 주소가 상기 선택된 테스트가 수행될 마지막 테스트 주소이면 상기 테스트 패턴 생성부에 이를 표시하고, 이에 대한 응답으로 상기 테스트 패턴 생성부는 상기 다수의 테스트 중 다음 차례의 테스트를 나타내는 테스트 신호를 출력하는 BIST 장치 |
| 2 |
2 청구항 1에 있어서, 상기 주소 카운터는 상기 주소의 진행 방향에 관한 정보에 따라 상기 제 1 주소의 진행 방향을 결정하는 BIST 장치 |
| 3 |
3 삭제 |
| 4 |
4 청구항 1에 있어서, 상기 주소 카운터는 열 주소의 시작 및 종료에 관한 정보를 상기 패턴 디코더에 지시하고 상기 패턴 디코더는 상기 시작 및 종료에 관한 정보를 상기 테스트 신호와 함께 고려하여 상기 일련의 제 1 명령을 생성하는 BIST 장치 |
| 5 |
5 청구항 1에 있어서, 상기 주소 카운터는 상기 주소 변경 명령에 따라 상기 제 1 주소를 변경하는 BIST 장치 |
| 6 |
6 청구항 1에 있어서, 상기 물리 신호 생성부는 미리 정해진 테이블에 따라 상기 제 1 명령에 대응하는 상기 제 2 명령을 생성하는 BIST 장치 |
| 7 |
7 청구항 1에 있어서, 상기 물리 신호 생성부는 상기 제 1 명령에 따라 상기 제 1 주소로부터 상기 제 2 주소를 생성하는 BIST 장치 |
| 8 |
8 청구항 1에 있어서, 상기 데이터 제어부는 타이밍 조건을 포함하는 상기 반도체 장치의 데이터 입출력 조건을 저장하는 레지스터를 포함하는 BIST 장치 |
| 9 |
9 청구항 1에 있어서, 상기 제 1 명령은 데이터 입출력 제어 명령을 포함하고 상기 데이터 제어부는 상기 데이터 입출력 제어 명령에 따라 상기 반도체 장치에 기록할 입력 데이터를 생성하고, 상기 반도체 장치로부터의 출력 데이터를 수신하며, 테스트 결과를 출력하는 BIST 장치 |
| 10 |
10 청구항 9에 있어서, 상기 데이터 입출력 제어 명령이 읽기 명령이면 상기 데이터 제어부는 상기 반도체 장치로부터 상기 출력 데이터를 수신하고 이에 대응하는 기준 데이터와 상기 출력 데이터를 비교하여 상기 테스트 결과를 출력하는 BIST 장치 |
| 11 |
11 청구항 1에 있어서, 상기 반도체 장치의 초기화를 제어하는 초기화 제어부 및초기화 진행 신호에 따라 상기 초기화 제어부 또는 상기 물리 신호 생성부의 출력을 선택하여 상기 반도체 장치에 제공하는 선택부를 더 포함하는 BIST 장치 |
| 12 |
12 청구항 1에 있어서, 상기 제 1 명령은 상기 반도체 장치의 초기화 동작을 위한 초기화 명령을 포함하고, 상기 초기화 명령에 따라 상기 물리 신호 생성부는 상기 초기화 명령에 대응하는 상기 제 2 명령과 상기 제 2 주소를 생성하는 BIST 장치 |
| 13 |
13 청구항 1에 있어서, 상기 주소 카운터는 상기 제 1 주소가 테스트 도중 하나 또는 둘 이상의 미리 설정된 리프레시 주소에 도달하면 리프레시 개시 신호를 출력하고, 상기 패턴 디코더는 상기 리프레시 개시 신호에 응답하여 리프레시 동작을 위한 리프레시 명령을 상기 제 1 명령으로서 출력하는 BIST 장치 |
| 14 |
14 청구항 1에 있어서, 의사 임의 데이터 패턴을 생성하는 PRPG(의사 임의 데이터 패턴 생성부)를 더 포함하되, 상기 의사 임의 데이터 패턴을 이용한 테스트시 상기 PRPG의 출력을 상기 입력 데이터로 제공하는 BIST 장치 |
| 15 |
15 청구항 14에 있어서, 상기 PRPG는직렬로 연결된 N(N은 2 이상의 자연수)개의 플립플롭;N-1개의 탭 설정부;상기 N-1개의 탭 설정부 중 어느 하나의 출력과 첫번째 ~ N-1번째 플립플롭 중 어느 하나의 출력을 연산하는 N-1 개의 제 1 연산부; 및N-1 개의 제 2 연산부를 포함하되,상기 N-1 개의 제 2 연산부는 N 번째 플립플롭의 출력단과 첫번째 플립플롭의 입력단 사이에서 하나의 제 2 연산부의 출력이 또 다른 제 2 연산부의 입력으로 제공되는 형태로 연결되어 피드백 루프를 형성하고, 상기 제 1 연산부 중 어느 하나의 출력은 상기 제 2 연산부의 또 다른 입력으로 제공되는 BIST 장치 |
| 16 |
16 청구항 15에 있어서, 상기 N개의 플립플롭 또는 상기 N-1 개의 탭 설정부는 외부에서 입력된 값을 이용하여 초기화되는 BIST 장치 |
| 17 |
17 청구항 15에 있어서, 상기 N개의 플립플롭의 데이터를 임시 저장하는 초기값 저장 레지스터를 더 포함하는 BIST 장치 |
| 18 |
18 청구항 15에 있어서, 상기 PRPG는 반복 카운터를 더 포함하고, 상기 BIST 장치는 상기 반복 카운터에 저장된 값에 대응하는 횟수만큼 상기 의사 임의 데이터 패턴을 이용한 테스트를 반복 수행하는 BIST 장치 |
| 19 |
19 청구항 18에 있어서, 상기 PRPG는 상기 테스트를 반복할 때마다 새로운 의사 임의 데이터 패턴을 생성하는 BIST 장치 |
| 20 |
20 반도체 장치 코어 및 BIST 장치를 포함하되, 상기 BIST 장치는 다수의 테스트 중 선택된 테스트를 나타내는 테스트 신호를 출력하는 테스트 패턴 생성부; 상기 테스트 신호에 따라 일련의 제 1 명령을 생성하는 패턴 디코더; 상기 테스트 신호에 포함되는 주소의 진행 방향에 관한 정보와 상기 일련의 제 1 명령에 포함되는 주소 변경 명령에 따라 제 1 주소를 생성하는 주소 카운터; 상기 제 1 주소 및 상기 제 1 명령에 따라 상기 반도체 장치 코어를 제어하는 제 2 명령과 상기 반도체 장치 코어의 특정 위치에 접근하기 위한 제 2 주소를 생성하여 상기 반도체 장치 코어에 출력하는 물리 신호 생성부; 및 상기 제 1 명령에 따라 상기 반도체 장치 코어에 기록할 입력 데이터를 생성하여 상기 반도체 장치 코어에 출력하고, 상기 반도체 장치 코어로부터의 출력 데이터를 수신하며, 테스트 결과를 출력하는 데이터 제어부를 포함하되,상기 주소 카운터는 상기 제 1 주소가 상기 선택된 테스트가 수행될 마지막 테스트 주소이면 상기 테스트 패턴 생성부에 이를 표시하고, 이에 대한 응답으로 상기 테스트 패턴 생성부는 상기 다수의 테스트 중 다음 차례의 테스트를 나타내는 테스트 신호를 출력하는 반도체 장치 |
| 21 |
21 청구항 20에 있어서, 상기 반도체 장치 코어의 초기화를 제어하는 초기화 제어부 및 초기화 진행 신호에 따라 상기 초기화 제어부 또는 상기 물리 신호 생성부의 출력을 선택하여 상기 반도체 장치 코어에 제공하는 선택부를 더 포함하는 반도체 장치 |
| 22 |
22 청구항 20에 있어서, 상기 제 1 명령은 상기 반도체 장치 코어의 초기화 동작을 위한 초기화 명령을 포함하고, 상기 초기화 명령에 따라 상기 물리 신호 생성부는 상기 초기화 명령에 대응하는 상기 제 2 명령과 상기 제 2 주소를 생성하는 반도체 장치 |
| 23 |
23 청구항 20에 있어서, 상기 주소 카운터는 상기 제 1 주소가 테스트 도중 하나 또는 둘 이상의 미리 설정된 리프레시 주소에 도달하면 리프레시 개시 신호를 출력하고, 상기 패턴 디코더는 상기 리프레시 개시 신호에 응답하여 리프레시 동작을 위한 리프레시 명령을 상기 제 1 명령으로서 출력하는 반도체 장치 |
| 24 |
24 청구항 20에 있어서, 상기 반도체 장치는 의사 임의 데이터 패턴을 생성하는 PRPG(의사 임의 데이터 패턴 생성부)를 더 포함하되, 상기 BIST 장치는 상기 의사 임의 데이터 패턴을 이용한 테스트 중 쓰기 동작 시 상기 PRPG의 출력을 상기 반도체 장치 코어에 기록할 입력 데이터로 제공하는 반도체 장치 |
| 25 |
25 삭제 |
| 26 |
26 삭제 |
| 27 |
27 삭제 |
| 28 |
28 삭제 |
| 29 |
29 삭제 |
| 30 |
30 삭제 |
| 31 |
31 삭제 |
| 32 |
32 삭제 |
| 33 |
33 삭제 |
| 34 |
34 삭제 |
| 35 |
35 삭제 |
| 36 |
36 삭제 |
| 37 |
37 삭제 |
| 38 |
38 삭제 |
| 39 |
39 삭제 |
| 40 |
40 삭제 |
| 41 |
41 삭제 |
| 42 |
42 삭제 |
| 43 |
43 삭제 |
| 44 |
44 삭제 |
| 지정국 정보가 없습니다 |
|---|
| 패밀리정보가 없습니다 |
|---|
| 국가 R&D 정보가 없습니다. |
|---|
| 등록사항 정보가 없습니다 |
|---|
- 본 '원본보기 서비스'는 참고용이므로, 일부 오류 및 누락이 발생할 수 있습니다.
- 정확한 서류를 확인하시려면 해당 웹사이트에서 조회하시기 바랍니다. (특허로 바로가기: http://www.patent.go.kr)
- 해당 서비스는 점검으로 인해 매주 일요일 00:00 ~ 02:00까지 이용이 중단됩니다.
| 번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | [특허출원]특허출원서 | 2011.12.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-1021478-32 |
| 2 | 보정요구서 | 2011.12.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2011-0120606-05 |
| 3 | [출원서등 보정]보정서 | 2011.12.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-1030961-95 |
| 4 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2012.01.04 | 불수리 (Non-acceptance) | 1-1-2012-0007698-52 |
| 5 | [출원서등 보정]보정서 | 2012.01.06 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0015652-06 |
| 6 | 서류반려이유통지서 | 2012.01.09 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2012-0004084-18 |
| 7 | 서류반려통지서 | 2012.02.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2012-0015703-29 |
| 8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2012.04.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5073964-60 |
| 9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2012.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5270171-92 |
| 10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
| 11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
| 12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
| 13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.04.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5055330-26 |
| 14 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 | 2016.11.02 | 수리 (Accepted) | 1-1-2016-1071184-14 |
| 15 | [명세서등 보정]보정서 | 2016.11.02 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2016-1070968-13 |
| 16 | 보정요구서 | 2016.11.14 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2016-0163921-07 |
| 17 | [출원서등 보정]보정서(납부자번호) | 2016.11.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2016-1111055-50 |
| 18 | 선행기술조사의뢰서 | 2017.01.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
| 19 | 선행기술조사보고서 | 2017.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-2017-0006907-79 |
| 20 | 의견제출통지서 | 2017.09.15 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2017-0647841-59 |
| 21 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2017.10.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2017-1059489-86 |
| 22 | [명세서등 보정]보정서 | 2017.10.26 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2017-1059561-76 |
| 23 | 거절결정서 | 2018.03.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2018-0202580-13 |
| 24 | [명세서등 보정]보정서(재심사) | 2018.04.16 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2018-0375167-24 |
| 25 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2018.04.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2018-0375196-48 |
| 26 | 등록결정서 | 2018.05.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2018-0332480-16 |
| 기술정보가 없습니다 |
|---|
| 과제고유번호 | 1345165029 |
|---|---|
| 세부과제번호 | 과C6A1606 |
| 연구과제명 | TMS정보기술사업단 |
| 성과구분 | 출원 |
| 부처명 | 교육과학기술부 |
| 연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
| 연구주관기관명 | 연세대학교 |
| 성과제출연도 | 2011 |
| 연구기간 | 200603~201302 |
| 기여율 | 1 |
| 연구개발단계명 | 응용연구 |
| 6T분류명 | IT(정보기술) |
특허성과
| [1020110145657] | 산화물 반도체용 조성물 및 이를 이용한 박막 트랜지스터 기판의 제조방법 | 새창보기 |
|---|---|---|
| [1020110143833] | 산화물 박막용 조성물, 산화물 박막용 조성물 제조 방법, 산화물 박막용 조성물을 이용한 산화물 박막 및 전자소자 | 새창보기 |
| [1020110139826] | ＢＩＳＴ 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치 | 새창보기 |
| [1020110131969] | 전력 증폭기 | 새창보기 |
| [1020110115801] | 전력 제어 방법 및 전력 제어 시스템 | 새창보기 |
| [1020110114540] | 이동통신 시스템에서의 그룹 기반 ＭＴＣ 디바이스 제어 방법 및 장치 | 새창보기 |
| [1020110114527] | 이동통신 시스템에서의 그룹 기반 ＭＴＣ 디바이스 제어 방법 및 장치 | 새창보기 |
| [1020110109269] | 다중 수신 안테나를 포함하는 수신기에서 생존 경로의 결합을 이용한 심볼 검출 방법 | 새창보기 |
| [1020110101935] | 경판정에 의한 ＭＤＣＭ 신호 복조 방법 및 연판정에 의한 ＭＤＣＭ 신호 복조 방법 | 새창보기 |
| [1020110090361] | 시간-디지털 변환기를 이용한 거리 측정 레이더 | 새창보기 |
| [1020110090361] | 시간-디지털 변환기를 이용한 거리 측정 레이더 | 새창보기 |
| [1020110089180] | 산화물 박막 형성을 위한 조성물, 산화물 박막 제조방법 및 박막 트랜지스터 제조방법 | 새창보기 |
| [1020110085292] | 이명 치료기 | 새창보기 |
| [1020110083352] | 초광대역 레이더 | 새창보기 |
| [1020110076730] | 데이터 전송 및 수신 방법 | 새창보기 |
| [1020110076729] | 데이터 전송 장치 | 새창보기 |
| [1020110072831] | UWB 신호 처리 기술 | 새창보기 |
| [1020110065988] | 부하 모델링 방법 및 시스템 | 새창보기 |
| [1020110062318] | 발전 장치 및 저장 장치를 포함하는 전력 공급 시스템 및 전력 공급 방법 | 새창보기 |
| [1020110057252] | 산화물 박막 트랜지스터 제조 기술 | 새창보기 |
| [1020110055770] | 산화물반도체 조성물, 박막 형성, 전자소자 제조 기술 | 새창보기 |
| [1020110052847] | 스마트 플러그 및 전력 품질 감시 시스템 | 새창보기 |
| [1020110051718] | 산화물 박막 및 박막 트랜지스터 제조 기술 | 새창보기 |
| [1020110043493] | 액상 공정 산화물 박막, 전자소자 및 박막 트랜지스터 제조 기술 | 새창보기 |
| [1020110026787] | CuO 나노 물질을 PEDOT:PSS 층에 첨가한 형태의 유기 박막 제작 및 이를 이용한 전자 소자 제조 방법 | 새창보기 |
| [1020110023676] | 셀룰러 통신 시스템에서 협력 통신을 위한 클러스터링 방법 및 장치 | 새창보기 |
| [1020110017817] | 테스트 데이터를 압축하는 방법, 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체 및 압축된 테스트 데이터 복원장치 | 새창보기 |
| [1020110016340] | 이동통신 시스템에서 제한적 피드백 기반 공동 처리 및 전송에서의 전처리 모드 선택을 위한 방법 및 장치 | 새창보기 |
| [1020110015353] | 이동통신 시스템에서 그룹 기반 ＭＴＣ 디바이스 제어 방법 및 장치 | 새창보기 |
| [1020110012217] | 분산 안테나를 사용하는 무선통신 시스템에서 하향링크 다중입출력 프리코딩을 하기 위한 송신 장치 및 방법 | 새창보기 |
| [1020110009290] | 무선통신 시스템에서 셀 간 제한적 협력을 통한 프리코딩 장치 및 방법 | 새창보기 |
| [1020110008986] | 중복된 애크를 이용한 통신 방법 | 새창보기 |
| [1020110004767] | 수정체의 움직임을 파악한 능동형 초점 보정기구 | 새창보기 |
| [1020100138283] | 저온 공정을 이용한 3Ｄ 적층셀 구조의 플래쉬 메모리 소자의 제조 방법 및 3Ｄ 적층셀 구조의 플래쉬 메모리 소자 | 새창보기 |
| [1020100016641] | 달리 효과의 줌기능을 갖는 3차원 영상획득 장치 및 방법 | 새창보기 |
| [1020100016582] | 금속산화물 나노와이어를 이용한 나노활성화 물질과 박막트랜지스터의 제조방법 | 새창보기 |
| [1020100015831] | ＺｎＯ 나노 물질을 이용한 고효율의 유기 태양전지 제조 방법 | 새창보기 |
| [1020100015000] | 독립적인 두 통과대역을 가지는 이중 대역 필터의 설계 방법 | 새창보기 |
| [1020090135162] | 지연 동기 루프의 클럭 발생부 및 그것의 클럭 신호 생성 방법 | 새창보기 |
| [1020090129082] | 지연 동기 루프 및 그것의 듀티 사이클 보정 회로 | 새창보기 |
| [1020090092635] | 졸-겔 공정과 나노 구조체를 이용한 산화물 반도체 소자의 제조 방법 및 이에 의해 제조되는 산화물 반도체 소자 | 새창보기 |
| [1020090082649] | 평행 결합 선로를 이용한 소형화된 대역 통과 필터 및 그 설계 방법 | 새창보기 |
| [1020090072494] | 지연 동기 루프 및 그것의 지연 동기 방법 | 새창보기 |
| [1020090027038] | 자외선 조사를 이용한 절연막의 선택적 표면 처리방법 | 새창보기 |
| [1020090015020] | 비정질 실리콘층의 결정화 방법 및 다공성 실리콘 구조 형성방법 | 새창보기 |
| [1020090009901] | 유기 모노실란과 사염화규소를 이용한 규소 나노 구조체의 합성방법 | 새창보기 |
| [1020090009040] | 기준 디바이스의 위치 오차를 포함하는 무선 환경에서의 최대우도함수 기반 위치 추정 방법 및 장치 | 새창보기 |
| [1020090008897] | 지연 동기 루프 및 이를 포함하는 전자 장치 | 새창보기 |
| [1020080109745] | 다이내믹 직렬-병렬 캠 | 새창보기 |
| [1020080056744] | 속력을 측정하는 공 및 그 방법 | 새창보기 |
| [1020060010246] | 통신 시스템에서 기지국 동기화 시스템 및 방법 | 새창보기 |
중요키워드
| [KST2015125174][연세대학교] | 확률 모델 기반의 저전력 ＢＩＳＴ 장치 및 방법 | 새창보기 |
|---|---|---|
| [KST2015124807][연세대학교] | 유사랜덤 비아이에스티 기반의 통합 스캔천이 감소회로 및방법 | 새창보기 |
| [KST2015125688][연세대학교] | 초기 종결 조건들에 따른 메모리 테스트 방법 및 시스템 | 새창보기 |
| [KST2015127181][연세대학교] | 메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 칩 | 새창보기 |
| [KST2019009849][연세대학교] | 베이스 다이 스페어 셀을 이용한 적층형 메모리 장치 및 그 수리 방법 | 새창보기 |
| [KST2015126093][연세대학교] | 반도체 메모리 장치 테스트 방법 및 테스트 장치 | 새창보기 |
| [KST2015012753][연세대학교] | 메모리 수리 장치 및 방법 | 새창보기 |
| [KST2015126852][연세대학교] | 메모리 수리 장치 및 방법 | 새창보기 |
| [KST2015126064][연세대학교] | 메모리 수리 방법 및 메모리 수리 장치 | 새창보기 |
| 심판사항 정보가 없습니다 |
|---|