요약 | 실리콘층 및 금속층 사이에 그래핀층이 개재하는 금속 배선 구조가 제공된다. |
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Int. CL | H01L 21/31 (2006.01) |
CPC | H01L 29/1606(2013.01) H01L 29/1606(2013.01) H01L 29/1606(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020120064344 (2012.06.15) |
출원인 | 연세대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1335714-0000 (2013.11.26) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20131205) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2012.06.15) |
심사청구항수 | 4 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 연세대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 이태윤 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
2 | 홍주리 | 대한민국 | 경기 김포시 |
3 | 이현익 | 대한민국 | 서울특별시 송파구 |
4 | 이상근 | 대한민국 | 경기도 광명시 소하로 * |
5 | 한희탁 | 대한민국 | 인천광역시 남동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 오세준 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려) |
2 | 권혁수 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소) |
3 | 송윤호 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 연세대학교 산학협력단 | 서울특별시 서대문구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2012.06.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0477594-58 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2012.07.05 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0538412-22 |
3 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2013.01.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2013.02.08 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0009835-56 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
7 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2013.07.02 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0460309-57 |
8 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2013.08.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0774290-52 |
9 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2013.08.26 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0774289-16 |
10 | 등록결정서 Decision to grant |
2013.11.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0791620-16 |
11 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2014.04.25 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-0395433-95 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
번호 | 청구항 |
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9 실리콘층 상에 그래핀층을 형성하는 단계;상기 실리콘층상에 금속층을 형성하는 단계를 포함하며,상기 그래핀층은 상기 실리콘층 및 상기 금속층 사이에 형성되는 단계;를 포함하고,상기 실리콘층 상에 그래핀층을 형성하는 단계는 탄소 함유 폴리머를 상기 실리콘층 상에 형성하는 단계; 및 수소 분위기의 열처리를 진행하는 단계;를 포함하는 전자소자 형성 방법 |
10 |
10 제9항에 있어서,상기 그래핀층은 CVD 방법으로 형성되는 전자소자 형성 방법 |
11 |
11 제10항에 있어서,상기 그래핀층은 상기 금속층이 형성되기 전에 상기 실리콘층 상에 형성되는 전자소자 형성 방법 |
12 |
12 실리콘층 상에 그래핀층을 형성하는 단계;상기 실리콘층 상에 금속층을 형성하는 단계를 포함하며,상기 그래핀층은 상기 실리콘층 및 상기 금속층 사이에 형성되는 단계;를 포함하고,상기 그래핀층은 상기 금속층을 상기 실리콘층 상에 형성한 후 CVD 방법으로 상기 실리콘층과 상기 금속층 사이의 계면에 형성되는 전자소자 형성 방법 |
13 |
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지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
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1 | 한국항공우주연구원 | 연세대학교 산학협력단 | 2010년도 학연협력강화사업 성과창출형 | 나노기술(NT)을 활용한 인공위성 효율성 향상 요소기술 개발 |
2 | 한국연구재단 | 연세대학교 산학협력단 | 신기술융합형 성장동력사업 | 지능형 대면적 디스플레이용 나노패턴소재 기술 (2/4) |
3 | 한국산업기술평가관리원 | 연세대학교 산학협력단 | 산업원천기술개발 | [RCMS]한국디스플레이연구조합/TFT 백플레인을 위한 비진공 비노광 5㎛급 Cu interconnect 기술개발(1/4) |
4 | 한국연구재단 | 연세대학교 산학협력단 | 중견연구자지원사업(핵심연구사업) | 테라헤르츠 기반 초민감 다중 분자 검지 시스템 1/3 |
공개전문 정보가 없습니다 |
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특허 등록번호 | 10-1335714-0000 |
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표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20120615 출원 번호 : 1020120064344 공고 연월일 : 20131205 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20131118 청구범위의 항수 : 4 유별 : H01L 21/31 발명의 명칭 : 그래핀 확산 방지막 및 이를 이용한 전자소자 존속기간(예정)만료일 : 20191127 |
순위번호 | 사항 |
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1 |
(권리자) 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 100,500 원 | 2013년 11월 27일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 89,600 원 | 2016년 11월 21일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 89,600 원 | 2017년 11월 20일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 64,000 원 | 2018년 11월 19일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2012.06.15 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0477594-58 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2012.07.05 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0538412-22 |
3 | 선행기술조사의뢰서 | 2013.01.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 | 2013.02.08 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0009835-56 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
7 | 의견제출통지서 | 2013.07.02 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0460309-57 |
8 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2013.08.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0774290-52 |
9 | [명세서등 보정]보정서 | 2013.08.26 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0774289-16 |
10 | 등록결정서 | 2013.11.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0791620-16 |
11 | [출원서등 보정]보정서 | 2014.04.25 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-0395433-95 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1345160604 |
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세부과제번호 | 2011-0028594 |
연구과제명 | 테라헤르츠 기반 초민감 다중 분자 검지 시스템 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 연세대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201109~201408 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1415131572 |
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세부과제번호 | 10041041 |
연구과제명 | TFT 백플레인을 위한 비진공, 비노광 5㎛급 Cu interconnect 기술개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201112~201602 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1711005186 |
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세부과제번호 | 2010-50193 |
연구과제명 | 지능형 대면적 디스플레이용 나노패턴소재 기술 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201011~201406 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1345167680 |
---|---|
세부과제번호 | 2010-50193 |
연구과제명 | 지능형 대면적 디스플레이용 나노패턴소재 기술 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 연세대학교 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 201011~201406 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1345175562 |
---|---|
세부과제번호 | 2011-0028594 |
연구과제명 | 테라헤르츠 기반 초민감 다중 분자 검지 시스템 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 연세대학교 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 201109~201408 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1415120953 |
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세부과제번호 | 10041041 |
연구과제명 | TFT 백플레인을 위한 비진공, 비노광 5㎛급 Cu interconnect 기술개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 한국디스플레이연구조합 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201112~201602 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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심판사항 정보가 없습니다 |
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