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엑스선 디텍터 및 이를 이용한 엑스선 영상장치와 이의 구동방법

  • 기술번호 : KST2015126670
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 기판 상에 형성되고 제 1 구동전압(V1)이 인가되는 하부전극과; 상기 하부전극 주변에 형성되고 제 2 구동전압(V2)이 인가되는 보조전극과; 상기 하부전극 및 보조전극 상에 형성된 광도전층과; 상기 광도전층 상에 형성되고 제 3 구동전압(V3)이 인가되는 상부전극을 포함하며, X선 조사 오프 직후 상기 제 3 구동전압(V3)은 역 바이어스 전압인 X선 디텍터를 제공한다.
Int. CL H01L 31/115 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020130149934 (2013.12.04)
출원인 주식회사 레이언스, (주)바텍이우홀딩스, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-2116321-0000 (2020.05.22)
공개번호/일자 10-2015-0064959 (2015.06.12) 문서열기
공고번호/일자 (20200528) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.07.16)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 레이언스 대한민국 경기도 화성시
2 (주)바텍이우홀딩스 대한민국 경기도 화성시 삼
3 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이동진 대한민국 경기 화성시 삼성*
2 김태우 대한민국 경기 화성시 삼성*
3 임성일 대한민국 서울특별시 서대문구
4 전표진 대한민국 서울특별시 서대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 네이트특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, ***호(역삼동, 하나빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 레이언스 경기도 화성시
2 (주)바텍이우홀딩스 경기도 화성시 삼
3 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.12.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-1110626-38
2 보정요구서
Request for Amendment
2013.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0158260-04
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.01.13 수리 (Accepted) 1-1-2014-0030760-05
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.10.20 수리 (Accepted) 4-1-2014-5123888-74
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.06 수리 (Accepted) 4-1-2015-5001543-45
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.06 수리 (Accepted) 4-1-2015-5001535-80
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2016-5052170-37
9 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.07.16 수리 (Accepted) 1-1-2018-0695659-03
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0623181-41
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2019-1106014-85
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.10.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-1106015-20
13 등록결정서
Decision to grant
2020.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0140825-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 형성되고 제 1 구동전압(V1)이 인가되는 하부전극과;상기 하부전극 주변에 형성되고 제 3 구동전압(V3)이 인가되는 보조전극과;상기 하부전극 및 보조전극 상에 형성된 광도전층과;상기 광도전층 상에 형성되고 제 2 구동전압(V2)이 인가되는 상부전극을 포함하며,X선 조사 오프 직후 상기 제 3 구동전압(V3)은 역 바이어스 전압이고,상기 X선 조사 오프 구간 중 적어도 일부에서 상기 제 1 내지 제 3 구동전압은 V2003c#V1003c#V3의 관계를 나타내는X선 디텍터
2 2
제 1 항에 있어서,상기 X선 조사 온 구간에서 상기 제 1 내지 제 3 구동전압은 V2003c#V3003c#V1의 관계를 나타내는 X선 디텍터
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 역 바이어스의 제 3 구동전압(V3)는 X선 조사 오프와 동시에 펄스 형태로 동기되는 펄스 형태인 X선 디텍터
4 4
제 1 항에 있어서,상기 하부전극과 상기 보조전극 사이에 개재되어 상기 하부전극을 노출시키는 패드홀을 갖는 보호막을 더 포함하여,상기 보조전극은 상기 패드홀 주변에 위치하는 X선 디텍터
5 5
제 1 항에 있어서,상기 광도전층은, CdTe, CdZnTe, PbO, PbI2, HgI2, GaAs, Se, TlBr, BiI3 중 적어도 하나로 이루어진 X선 디텍터
6 6
기판 상에 형성된 하부전극과, 상기 하부전극 주변에 형성된 보조전극과, 상기 하부전극 및 보조전극 상에 형성된 광도전층과, 상기 광도전층 상에 형성된 상부전극을 포함하는 X선 디텍터와;상기 X선 디텍터에 X선을 조사하는 X선 조사장치와;상기 하부전극과 상부전극과 보조전극 각각에 제1, 2, 3구동전압(V1, V2, V3)을 인가하는 전원부를 포함하고, 상기 X선 조사 오프 직후 상기 제3구동전압(V3)은 역 바이어스 전압이고,상기 X선 조사 오프 구간 중 적어도 일부에서 상기 제 1 내지 제 3 구동전압(V1, V2, V3)은 V2003c#V1003c#V3의 관계를 나타내는X선 영상장치
7 7
제 6 항에 있어서,상기 X선 조사 온 구간에서 상기 제 1 내지 제 3 구동전압(V1, V2, V3)은 V2003c#V3003c#V1의 관계를 나타내는 X선 영상장치
8 8
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,상기 역 바이어스의 제 3 구동전압(V3)는 X선 조사 오프와 동시에 펄스 형태로 동기되는 X선 영상장치
9 9
기판 상에 형성된 하부전극과, 상기 하부전극 주변에 형성된 보조전극과, 상기 하부전극 및 보조전극 상에 형성된 광도전층과, 상기 광도전층 상에 형성된 상부전극을 포함하는 X선 디텍터에 X선 조사 온 구간 동안 X선을 조사하는 단계와;상기 X선 오프 구간에서 상기 보조전극에 역 바이어스 전압을 인가하는 단계를 포함하고,상기 X선 오프 구간 중 적어도 일부에서 상기 하부전극과 상부전극과 보조전극에 각각 제 1 내지 제 3 구동전압(V1, V2, V3)이 V2003c#V1003c#V3의 관계로 인가되는X선 영상장치 구동방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 X선 조사 온 구간에서 상기 제 1 내지 제 3 구동전압이 V2003c#V3003c#V1의 관계로 인가되는X선 영상장치 구동방법
11 11
제 9 항 또는 제 10 항에 있어서,상기 역 바이어스 전압은 X선 조사 오프와 동시에 펄스 형태로 동기되는 X선 영상장치 구동방법
12 12
제 1 전극;X선을 수광하여 전하를 발생시키는 광도전층;상기 광도전층을 사이에 두고 상기 제 1 전극의 적어도 일부와 마주보며, 상기 전하가 상기 제 1 전극에 수집되도록 전압을 인가받는 제 2 전극; 및상기 광도전층의 적어도 일부와 접하는 제 3 전극을 포함하며, 상기 X선 조사 과정 중 상기 제 3 전극의 전위는, 상기 제 1 전극의 전위와 제 2 전극의 전위 사이로 결정되고,상기 X선 조사가 오프된 직후 상기 제 3 전극의 전위는, 상기 제 2 전극과 제 3 전극의 전위차가 상기 제 1 전극과 제 3 전극의 전위차 보다 높도록 인가되는 X선 디텍터
13 13
제 12 항에 있어서,상기 제 1 전극, 제 2 전극, 제 3 전극은 서로 다른 층에 형성되며, 상기 제 3 전극은 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이의 높이에 위치하는 X선 디텍터
14 14
제 12 항 또는 제13 항에 있어서,상기 X선 조사 과정 또는 X선 조사 오프 후, 상기 제 1 전극과 제 2 전극에 인가되는 전압은 변화가 없는 X선 디텍터
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1 CN105940502 CN 중국 FAMILY
2 EP03079174 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 EP03079174 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
4 US10222487 US 미국 FAMILY
5 US20160377744 US 미국 FAMILY
6 WO2015084068 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 CN105940502 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN105940502 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 EP3079174 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 EP3079174 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
5 EP3079174 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
6 US10222487 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US2016377744 US 미국 DOCDBFAMILY
8 WO2015084068 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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