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기록 도움 회로를 갖는 SRAM 판독 선호 비트 셀

  • 기술번호 : KST2015126866
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 정적 메모리 셀들을 위한 방법들 및 장치들이 개시된다. 정적 메모리 셀은 제 1 백 게이트 노드를 포함하는 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 제 2 백 게이트 노드를 포함하는 제 2 패스 게이트 트랜지스터를 포함할 수 있다. 정적 메모리 셀은 제 3 백 게이트 노드를 포함하는 제 1 풀 다운 트랜지스터; 및 제 4 백 게이트 노드를 포함하는 제 2 풀 다운 트랜지스터를 포함할 수 있다. 제 1 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 제 2 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 제 1, 제 2, 제 3 및 제 4 백 게이트 노드들은 공통 노드를 형성하도록 서로 전기적으로 커플링된다.
Int. CL G11C 11/412 (2006.01) G11C 11/417 (2006.01)
CPC G11C 11/412(2013.01) G11C 11/412(2013.01) G11C 11/412(2013.01) G11C 11/412(2013.01)
출원번호/일자 1020157005259 (2015.02.27)
출원인 퀄컴 인코포레이티드, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0040986 (2015.04.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자 PCT/US2013/053034 (2013.07.31)
국제공개번호/일자 WO2014022565 (2014.02.06)
우선권정보 미국  |   13/741,869   |   2013.01.15
미국  |   61/679,650   |   2012.08.03
법적상태 공개
심사진행상태 보정승인간주
심판사항
구분 국제출원
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.04.04)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 퀄컴 인코포레이티드 미국 미국 *****-**** 캘리포니아주 샌 디에고 모어하우스 드라이브 *
2 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정, 승욱 대한민국 대한민국 서울시 서대문구
2 양, 영휘 대한민국 대한민국 서울시 서대문구
3 양, 빈 미국 미국 ***** 캘리포니아
4 옙, 초흐 페이 미국 미국 ***** 캘리포니아

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 남앤남 대한민국 서울특별시 중구 서소문로 ** (서소문동, 정안빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허법 제203조에 따른 서면
[Patent Application] Document according to the Article 203 of Patent Act
2015.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2015-0197769-65
2 [국제단계보정서 번역문]서류제출서
[Translation of Amendment made during International Phase] Submission of Document
2015.02.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0197770-12
3 수리안내서
Notice of Acceptance
2015.03.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2015-0052347-94
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.03.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0255165-48
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.04.04 수리 (Accepted) 1-1-2017-0331011-67
6 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.04.04 수리 (Accepted) 1-1-2017-0331013-58
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.04.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0331012-13
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.04.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0283068-34
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.04.24 수리 (Accepted) 1-1-2017-0398416-47
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0518991-07
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
정적 메모리 셀로서,제 1 백 게이트 노드를 포함하는 제 1 패스 게이트 트랜지스터;제 2 백 게이트 노드를 포함하는 제 2 패스 게이트 트랜지스터;제 3 백 게이트 노드를 포함하는 제 1 풀 다운 트랜지스터; 및제 4 백 게이트 노드를 포함하는 제 2 풀 다운 트랜지스터를 포함하고,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 1 백 게이트 노드, 상기 제 2 백 게이트 노드, 상기 제 3 백 게이트 노드 및 상기 제 4 백 게이트 노드는 공통 노드를 형성하도록 서로 전기적으로 커플링되는,정적 메모리 셀
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터는, 상기 공통 노드가 0 볼트보다 높은 전위로 상승할 때 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터에 데이터를 전달하도록 구성되고, 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터는 상기 공통 노드가 0볼트 보다 높은 전위로 상승할 때 상기 제 1 풀 다운 트랜지스터에 데이터를 전달하도록 구성되는,정적 메모리 셀
3 3
제 1 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 1 풀 다운 트랜지스터에 커플링되는 제 1 풀 업 트랜지스터; 및 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터에 커플링되는 제 2 풀 업 트랜지스터를 더 포함하는,정적 메모리 셀
4 4
제 1 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터의 바디는 상기 제 1 백 게이트 노드를 포함하는,정적 메모리 셀
5 5
제 1 항에 있어서,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 바디는 상기 제 3 백 게이트 노드를 포함하는,정적 메모리 셀
6 6
정적 메모리 셀에 기록하는 방법으로서,메모리 셀을 제공하는 단계 ― 상기 메모리 셀은,제 1 백 게이트 노드를 포함하는 제 1 패스 게이트 트랜지스터;제 2 백 게이트 노드를 포함하는 제 2 패스 게이트 트랜지스터;제 3 백 게이트 노드를 포함하는 제 1 풀 다운 트랜지스터; 및제 4 백 게이트 노드를 포함하는 제 2 풀 다운 트랜지스터를 포함하고,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 1 백 게이트 노드, 상기 제 2 백 게이트 노드, 상기 제 3 백 게이트 노드 및 상기 제 4 백 게이트 노드는 공통 노드를 형성하도록 서로 전기적으로 커플링됨 ― ; 및접지를 초과하게 상기 공통 노드의 전위를 상승시키는 단계; 및상기 공통 노드의 전위가 접지를 초과하는 동안, 상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터에 전류를 통과시키는 단계를 포함하는,정적 메모리 셀에 기록하는 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터는, 상기 공통 노드가 0 볼트보다 높은 전위로 상승할 때 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터에 데이터를 전달하도록 구성되고, 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터는 상기 공통 노드가 0볼트 보다 높은 전위로 상승할 때 상기 제 1 풀 다운 트랜지스터에 데이터를 전달하도록 구성되는,정적 메모리 셀에 기록하는 방법
8 8
제 6 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 1 풀 다운 트랜지스터에 커플링되는 제 1 풀 업 트랜지스터; 및 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터에 커플링되는 제 2 풀 업 트랜지스터를 더 포함하는,정적 메모리 셀에 기록하는 방법
9 9
제 6 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터의 바디는 상기 제 1 백 게이트 노드를 포함하는,정적 메모리 셀에 기록하는 방법
10 10
제 6 항에 있어서,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 바디는 상기 제 3 백 게이트 노드를 포함하는,정적 메모리 셀에 기록하는 방법
11 11
정적 메모리 셀로서,제 1 백 게이트 노드 및 패스 게이트 판독 선호 게이트 길이를 포함하는 제 1 패스 게이트 트랜지스터;제 2 백 게이트 노드 및 패스 게이트 판독 선호 게이트 길이를 포함하는 제 2 패스 게이트 트랜지스터;제 3 백 게이트 노드 및 풀 다운 판독 선호 게이트 폭을 포함하는 제 1 풀 다운 트랜지스터; 및제 4 백 게이트 노드 및 풀 다운 판독 선호 게이트 폭을 포함하는 제 2 풀 다운 트랜지스터를 포함하고,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 1 백 게이트 노드, 상기 제 2 백 게이트 노드, 상기 제 3 백 게이트 노드 및 상기 제 4 백 게이트 노드는 공통 노드를 형성하도록 서로 전기적으로 커플링되는,정적 메모리 셀
12 12
제 11 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터 각각은 판독 선호 게이트 길이를 갖고, 상기 판독 선호 게이트 길이는 상기 정적 메모리 셀에서 다른 디바이스들의 게이트 길이보다 더 긴,정적 메모리 셀
13 13
제 11 항에 있어서,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터 및 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터 각각은 판독 선호 게이트 폭을 갖고, 상기 판독 선호 게이트 폭은 상기 정적 메모리 셀에서 다른 디바이스들의 게이트 폭보다 더 넓은,정적 메모리 셀
14 14
제 1 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터는, 상기 공통 노드가 0 볼트보다 높은 전위로 상승할 때 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터에 데이터를 전달하도록 구성되고, 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터는 상기 공통 노드가 0볼트 보다 높은 전위로 상승할 때 상기 제 1 풀 다운 트랜지스터에 데이터를 전달하도록 구성되는,정적 메모리 셀
15 15
제 11 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 1 풀 다운 트랜지스터에 커플링되는 제 1 풀 업 트랜지스터; 및 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터에 커플링되는 제 2 풀 업 트랜지스터를 더 포함하는,정적 메모리 셀
16 16
제 11 항에 있어서,상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터의 바디는 상기 제 1 백 게이트 노드를 포함하는,정적 메모리 셀
17 17
제 11 항에 있어서,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 바디는 상기 제 3 백 게이트 노드를 포함하는,정적 메모리 셀
18 18
정적 메모리 셀로서,제 1 패스 게이트 트랜지스터를 바이어싱하기 위한 제 1 수단을 포함하는 제 1 패스 게이트 트랜지스터;제 2 패스 게이트 트랜지스터를 바이어싱하기 위한 제 2 수단을 포함하는 제 1 패스 게이트 트랜지스터;제 1 풀 다운 트랜지스터를 바이어싱하기 위한 제 3 수단을 포함하는 제 1 풀 다운 트랜지스터; 및제 2 풀 다운 트랜지스터를 바이어싱하기 위한 제 4 수단을 포함하는 제 2 풀 다운 트랜지스터를 포함하고,상기 제 1 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 2 풀 다운 트랜지스터의 소스 노드, 상기 제 1 수단, 상기 제 2 수단, 상기 제 3 수단 및 상기 제 4 수단은 공통 노드를 형성하도록 서로 전기적으로 커플링되는,정적 메모리 셀
19 19
제 18 항에 있어서,접지를 초과하게 상기 공통 노드의 전위를 상승시키기 위한 수단; 및상기 공통 노드의 전위가 접지를 초과하는 동안 상기 제 1 패스 게이트 트랜지스터 및 상기 제 2 패스 게이트 트랜지스터에 전류를 통과시키기 위한 수단을 더 포함하는,정적 메모리 셀
20 20
제 18 항에 있어서,상기 제 1 수단, 상기 제 2 수단, 상기 제 3 수단 및 상기 제 4 수단 중 적어도 하나는 백 게이트인,정적 메모리 셀
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1 CN104704566 CN 중국 FAMILY
2 JP06312674 JP 일본 FAMILY
3 JP27524980 JP 일본 FAMILY
4 US09583178 US 미국 FAMILY
5 US20140036578 US 미국 FAMILY
6 WO2014022565 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 CN104704566 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN104704566 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 JP2015524980 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 JP6312674 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 US2014036578 US 미국 DOCDBFAMILY
6 US9583178 US 미국 DOCDBFAMILY
7 WO2014022565 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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