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셀 어레이 내 고장 셀의 주소 정보를 저장하는 제 1 및 제 2 저장부;상기 제 1 및 제 2 저장부에 저장된 상기 고장 셀의 주소 정보를 기초로 상기 제 1 저장부에 저장된 주소 정보의 고장 셀을 수리하기 위한 스페어 라인과 상기 제 2 저장부에 저장된 주소 정보의 고장 셀을 수리하기 위한 스페어 라인의 중복 여부를 분석하는 리던던시 분석부; 및상기 제 1 및 제 2 저장부에 상기 고장 셀의 주소 정보를 저장하면서 상기 고장 셀 중 적어도 일부를 포함하는 상기 셀 어레이의 라인을 상기 스페어 라인으로 대체할 라인으로 일차적으로 결정하고, 상기 리던던시 분석부의 분석 결과를 기초로 상기 셀 어레이 중 상기 스페어 라인으로 대체할 라인을 이차적으로 결정하는 제어부;를 포함하는 메모리 수리 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제어부는:상기 고장 셀의 행 주소 및 열 주소가 상기 제 1 저장부에 기 저장된 고장 셀의 행 주소 및 열 주소와 일치하지 않는 경우, 해당 고장 셀의 행 주소 및 열 주소를 상기 제 1 저장부에 저장하는 메모리 수리 장치
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제 1 항에 있어서,상기 제어부는:상기 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소가 상기 제 1 저장부에 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하는 경우, 해당 고장 셀의 행 주소 및 열 주소 중 상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 및 열 주소와 일치하지 않는 주소를 상기 제 2 저장부에 저장하는 메모리 수리 장치
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제 3 항에 있어서,상기 제어부는:상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하지 않는 해당 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소를, 상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소가 저장된 상기 제 1 저장부의 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간에 대응하는 상기 제 2 저장부의 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간에 저장하는 메모리 수리 장치
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제 4 항에 있어서,상기 제어부는:또 다른 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소가 상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하는 상기 해당 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하는 경우, 상기 셀 어레이에서 상기 기 저장된 고장 셀, 상기 해당 고장 셀 및 상기 또 다른 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소 중 서로 일치하는 주소의 행 또는 열을 상기 스페어 라인으로 대체할 라인으로 일차적으로 결정하는 메모리 수리 장치
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제 2 항에 있어서,상기 제어부는:상기 제 1 저장부에 상기 고장 셀의 주소 정보를 저장할 저장 공간이 부족한 경우, 해당 메모리를 수리 불가능한 메모리로 결정하는 메모리 수리 장치
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제 5 항에 있어서,상기 제어부는:상기 제 1 저장부의 각 저장 공간마다 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간을 선택하고, 상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간에 대응하는 상기 제 2 저장부의 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간을 선택하고,상기 리던던시 분석부는:상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간으로부터 행 주소를 불러오고, 상기 제 2 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간으로부터 행 주소를 불러오고, 상기 제 1 저장부로부터 불러온 행 주소와 상기 제 2 저장부로부터 불러온 행 주소를 비교하여 일치 여부를 판별하고,상기 제 1 저장부의 선택된 열 주소 저장 공간으로부터 열 주소를 불러오고, 상기 제 2 저장부의 선택된 열 주소 저장 공간으로부터 열 주소를 불러오고, 상기 제 1 저장부로부터 불러온 열 주소와 상기 제 2 저장부로부터 불러온 열 주소를 비교하여 일치 여부를 판별하는 메모리 수리 장치
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제 7 항에 있어서,상기 제어부는:상기 제 2 저장부로부터 불러온 행 주소 전부가 상기 제 1 저장부로부터 불러온 행 주소 중 적어도 일부와 일치하고, 상기 제 2 저장부로부터 불러온 열 주소 전부가 상기 제 1 저장부로부터 불러온 열 주소 중 적어도 일부와 일치하는 경우, 상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간 및 열 주소 저장 공간에 각각 저장된 행 주소 및 열 주소에 대응하는 상기 셀 어레이의 행 및 열을 상기 스페어 라인으로 대체할 행 및 열로 이차적으로 결정하는 메모리 수리 장치
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제 8 항에 있어서,상기 리던던시 분석부는:상기 제 1 저장부로부터 불러온 행 주소와 일치하지 않는 상기 제 2 저장부로부터 불러온 비일치 행 주소 및 상기 제 1 저장부로부터 불러온 열 주소와 일치하지 않는 상기 제 2 저장부로부터 불러온 비일치 열 주소의 개수를 카운팅하고, 상기 비일치 행 주소 및 상기 비일치 열 주소의 개수와 상기 고장 셀의 주소 정보가 저장되지 않은 상기 제 1 저장부의 남은 저장 공간의 개수를 비교하는 비교부를 더 포함하는 메모리 수리 장치
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제 9 항에 있어서,상기 제어부는:상기 비일치 행 주소 및 상기 비일치 열 주소의 개수가 상기 남은 저장 공간의 개수보다 작거나 같은 경우, 상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간 및 열 주소 저장 공간에 각각 저장된 행 주소 및 열 주소에 대응하는 상기 셀 어레이의 행 및 열, 그리고 상기 비일치 행 주소 및 상기 비일치 열 주소에 대응하는 상기 셀 어레이의 행 및 열을 상기 스페어 라인으로 대체할 행 및 열로 이차적으로 결정하는 메모리 수리 장치
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메모리 수리 장치가 셀 어레이 내 고장 셀을 포함하는 행 또는 열을 스페어 라인으로 대체하여 메모리를 수리하는 방법에 있어서,상기 고장 셀의 주소 정보를 제 1 및 제 2 저장부에 저장하는 단계;상기 고장 셀 중 적어도 일부를 포함하는 상기 셀 어레이의 라인을 상기 스페어 라인으로 대체할 라인으로 일차적으로 결정하는 단계;상기 제 1 및 제 2 저장부에 저장된 상기 고장 셀의 주소 정보를 기초로 상기 제 1 저장부에 저장된 주소 정보의 고장 셀을 수리하기 위한 스페어 라인과 상기 제 2 저장부에 저장된 주소 정보의 고장 셀을 수리하기 위한 스페어 라인의 중복 여부를 분석하는 단계; 및분석 결과를 기초로 상기 셀 어레이 중 상기 스페어 라인으로 대체할 라인을 이차적으로 결정하는 단계;를 포함하는 메모리 수리 방법
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제 11 항에 있어서,상기 저장하는 단계는:상기 고장 셀의 행 주소 및 열 주소가 상기 제 1 저장부에 기 저장된 고장 셀의 행 주소 및 열 주소와 일치하지 않는 경우, 해당 고장 셀의 행 주소 및 열 주소를 상기 제 1 저장부에 저장하는 단계; 및상기 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소가 상기 제 1 저장부에 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하는 경우, 해당 고장 셀의 행 주소 및 열 주소 중 상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 및 열 주소와 일치하지 않는 주소를 상기 제 2 저장부에 저장하는 단계;를 포함하는 메모리 수리 방법
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제 12 항에 있어서,상기 제 2 저장부에 저장하는 단계는:상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하지 않는 해당 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소를, 상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소가 저장된 상기 제 1 저장부의 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간에 대응하는 상기 제 2 저장부의 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간에 저장하는 단계를 포함하는 메모리 수리 방법
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제 13 항에 있어서,상기 일차적으로 결정하는 단계는:또 다른 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소가 상기 기 저장된 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하는 상기 해당 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소와 일치하는 경우, 상기 셀 어레이에서 상기 기 저장된 고장 셀, 상기 해당 고장 셀 및 상기 또 다른 고장 셀의 행 주소 또는 열 주소 중 서로 일치하는 주소의 행 또는 열을 상기 스페어 라인으로 대체할 라인으로 일차적으로 결정하는 단계를 포함하는 메모리 수리 방법
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제 12 항에 있어서,상기 제 1 저장부에 상기 고장 셀의 주소 정보를 저장할 저장 공간이 부족한 경우, 해당 메모리를 수리 불가능한 메모리로 결정하는 단계를 더 포함하는 메모리 수리 방법
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제 14 항에 있어서,상기 분석하는 단계는:상기 제 1 저장부의 각 저장 공간마다 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간을 선택하고, 상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간에 대응하는 상기 제 2 저장부의 행 주소 저장 공간 또는 열 주소 저장 공간을 선택하는 단계;상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간으로부터 행 주소를 불러오고, 상기 제 2 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간으로부터 행 주소를 불러오고, 상기 제 1 저장부의 선택된 열 주소 저장 공간으로부터 열 주소를 불러오고, 상기 제 2 저장부의 선택된 열 주소 저장 공간으로부터 열 주소를 불러오는 단계; 및상기 제 1 저장부로부터 불러온 행 주소와 상기 제 2 저장부로부터 불러온 행 주소를 비교하여 일치 여부를 판별하고, 상기 제 1 저장부로부터 불러온 열 주소와 상기 제 2 저장부로부터 불러온 열 주소를 비교하여 일치 여부를 판별하는 단계;를 포함하는 메모리 수리 방법
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제 16 항에 있어서,상기 이차적으로 결정하는 단계는:상기 제 2 저장부로부터 불러온 행 주소 전부가 상기 제 1 저장부로부터 불러온 행 주소 중 적어도 일부와 일치하고, 상기 제 2 저장부로부터 불러온 열 주소 전부가 상기 제 1 저장부로부터 불러온 열 주소 중 적어도 일부와 일치하는 경우, 상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간 및 열 주소 저장 공간에 각각 저장된 행 주소 및 열 주소에 대응하는 상기 셀 어레이의 행 및 열을 상기 스페어 라인으로 대체할 행 및 열로 이차적으로 결정하는 단계를 포함하는 메모리 수리 방법
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제 17 항에 있어서,상기 분석하는 단계는:상기 제 1 저장부로부터 불러온 행 주소와 일치하지 않는 상기 제 2 저장부로부터 불러온 비일치 행 주소 및 상기 제 1 저장부로부터 불러온 열 주소와 일치하지 않는 상기 제 2 저장부로부터 불러온 비일치 열 주소의 개수를 카운팅하는 단계; 및상기 비일치 행 주소 및 상기 비일치 열 주소의 개수와 상기 고장 셀의 주소 정보가 저장되지 않은 상기 제 1 저장부의 남은 저장 공간의 개수를 비교하는 단계;를 더 포함하는 메모리 수리 방법
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제 18 항에 있어서,상기 이차적으로 결정하는 단계는:상기 비일치 행 주소 및 상기 비일치 열 주소의 개수가 상기 남은 저장 공간의 개수보다 작거나 같은 경우, 상기 제 1 저장부의 선택된 행 주소 저장 공간 및 열 주소 저장 공간에 각각 저장된 행 주소 및 열 주소에 대응하는 상기 셀 어레이의 행 및 열, 그리고 상기 비일치 행 주소 및 상기 비일치 열 주소에 대응하는 상기 셀 어레이의 행 및 열을 상기 스페어 라인으로 대체할 행 및 열로 이차적으로 결정하는 단계를 더 포함하는 메모리 수리 방법
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다수의 행 및 열로 구성된 셀 어레이;적어도 하나의 스페어 라인; 및상기 셀 어레이 내 고장 셀을 포함하는 행 또는 열을 상기 스페어 라인으로 대체하여 메모리를 수리하는 수리 장치를 포함하되, 상기 수리 장치는: 셀 어레이 내 고장 셀의 주소 정보를 저장하는 제 1 및 제 2 저장부; 상기 제 1 및 제 2 저장부에 저장된 상기 고장 셀의 주소 정보를 기초로 상기 제 1 저장부에 저장된 주소 정보의 고장 셀을 수리하기 위한 스페어 라인과 상기 제 2 저장부에 저장된 주소 정보의 고장 셀을 수리하기 위한 스페어 라인의 중복 여부를 분석하는 리던던시 분석부; 및 상기 제 1 및 제 2 저장부에 상기 고장 셀의 주소 정보를 저장하면서 상기 고장 셀 중 적어도 일부를 포함하는 상기 셀 어레이의 라인을 상기 스페어 라인으로 대체할 라인으로 일차적으로 결정하고, 상기 리던던시 분석부의 분석 결과를 기초로 상기 셀 어레이 중 상기 스페어 라인으로 대체할 라인을 이차적으로 결정하는 제어부;를 포함하는 메모리 칩
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컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 있어서,제 11 항 내지 제 19 항 중 어느 한 항에 따른 메모리 수리 방법을 컴퓨터로 실행하기 위한 프로그램이 기록된 기록매체
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컴퓨터와 결합되어 제 11 항 내지 제 19 항 중 어느 한 항에 따른 메모리 수리 방법을 실행시키기 위하여 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램
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