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광열 효과 검출 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015127447
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광열 효과 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로 측정 대상체를 향하여 탐침 빛을 조사하는 제 1 광원; 측정 대상체를 향하여 일정한 주기로 여기 빛을 조사하는 제 2 광원; 상기 측정 대상체의 조사된 영역의 영상을 측정하는 카메라; 및 상기 카메라를 통해 측정된 영상신호를 분석하는 분석장치를 포함하는 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 광열 효과 검출 장치 및 방법은 측정 대상체에 접근이 어렵거나 측정 범위가 광범위한 경우에도 광열 효과에 의한 신호를 검출하여 측정 대상체의 내부 결함, 열적 성질 또는 농도 변화를 분석할 수 있다.광열 효과, 탐침 빛, 여기 빛, 카메라, 영상 표시부
Int. CL G01N 21/17 (2006.01) G01N 25/00 (2006.01) G01N 25/72 (2006.01) G01N 21/00 (2006.01)
CPC G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01)
출원번호/일자 1020080072206 (2008.07.24)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1215362-0000 (2012.12.18)
공개번호/일자 10-2010-0011133 (2010.02.03) 문서열기
공고번호/일자 (20121226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.07.24)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최중길 대한민국 서울특별시 양천구
2 김지웅 대한민국 서울특별시 마포구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.07.24 수리 (Accepted) 1-1-2008-0532867-14
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2008.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2008-0881461-88
3 보정요구서
Request for Amendment		 2009.01.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0002564-82
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2009.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2009-0023637-60
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2009.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2009.09.15 수리 (Accepted) 9-1-2009-0052561-11
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2010.05.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0220547-30
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2010.07.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0479936-47
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2010.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0422454-75
10 심사관의견요청서
Request for Opinion of Examiner		 2011.01.03 수리 (Accepted) 7-8-2011-0000068-69
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5252006-10
12 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.04.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0214330-13
13 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2012.06.12 수리 (Accepted) 1-1-2012-0465286-75
14 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.07.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0557014-54
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.07.12 수리 (Accepted) 1-1-2012-0557011-17
16 등록결정서
Decision to grant		 2012.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0719342-16
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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측정 대상체를 향하여 탐침 빛을 조사하고, 직진성 있는 빛을 방출하는 제 1 광원;측정 대상체를 향하여 일정한 주기로 여기 빛을 조사하고, 측정 대상체가 흡수할 수 있는 파장을 방출하는 제 2 광원;상기 측정 대상체에 형성되거나 통과한 탐침 빛의 영상을 측정하는 카메라;상기 카메라를 통해 측정된 영상신호를 분석하는 분석장치; 및상기 제 2 광원과 측정 대상체 사이에 배치되어, 제 2 광원으로부터 조사된 여기 빛의 주파수를 변조하는 초퍼(chopper)를 포함하고,상기 분석장치는,카메라로부터 측정된 영상신호를 퓨리에 변환하는 계산부; 및상기 계산부로부터 계산된 결과를 모니터 상에 표시하는 영상 표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광열 효과 검출 장치
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유체인 측정 대상체를 향하여 탐침 빛을 조사하고, 직진성 있는 빛을 방출하는 제 1 광원;유체인 측정 대상체를 향하여 일정한 주기로 여기 빛을 조사하고, 측정 대상체가 흡수할 수 있는 파장을 방출하는 제 2 광원;유체인 측정 대상체를 통과한 각 빛이 조사되는 스크린;상기 스크린에 형성된 탐침 빛의 영상을 측정하는 카메라;상기 카메라를 통해 측정된 영상신호를 분석하는 분석장치; 및상기 제 2 광원과 측정 대상체 사이에 배치되어, 제 2 광원으로부터 조사된 여기 빛의 주파수를 변조하는 초퍼(chopper)를 포함하고,상기 분석장치는,카메라로부터 측정된 영상신호를 퓨리에 변환하는 계산부; 및상기 계산부로부터 계산된 결과를 모니터 상에 표시하는 영상 표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광열 효과 검출 장치
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패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육부 학술진흥재단 기초과학연구지원 전기음향효과를 이용한 새로운 이온 검출방법 개발