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반도체 장치

  • 기술번호 : KST2015127476
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 장치에 관한 것으로, 적층되는 복수의 반도체 칩; 복수의 반도체 칩 간에 신호들을 전달하며, 다수의 행과 열을 이루도록 배열되는 복수개의 관통 전극; 적어도 일부의 관통 전극들과 일대일로 연결되고, 신호들 각각을 서로 다른 관통 전극으로 스위칭하는 스위치들; 및 신호들을 스위치들로 입력하거나 스위치들로부터 입력받는 신호 포트들을 포함하며, 적어도 하나의 신호 포트는, 제1 행에 배열된 관통 전극들 중 하나의 관통 전극을 사이에 두고 양측에 배열된 2개의 제1 관통 전극에 대응하는 2개의 제1 스위치, 및 제1 행 혹은 제1 행과 이웃하는 제2 행에 배열된 관통 전극들 중 상기 하나의 관통 전극과 같은 열에 배열된 2개의 제2 관통 전극에 연결된 2개의 제2 스위치로 동시에 신호를 입력하거나, 제1 스위치 및 제2 스위치 중 어느 하나로부터 신호를 입력받는 반도체 장치를 제공한다.
Int. CL H01L 21/60 (2006.01) H01L 23/48 (2006.01)
CPC H01L 23/481(2013.01) H01L 23/481(2013.01)
출원번호/일자 1020140089049 (2014.07.15)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1503737-0000 (2015.03.12)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150320) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.07.15)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강성호 대한민국 서울특별시 종로구
2 김일웅 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
2 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.07.15 수리 (Accepted) 1-1-2014-0663758-82
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.12.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-1230547-45
4 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2014.12.22 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2015.01.06 수리 (Accepted) 9-1-2015-0000392-46
6 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2015.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2015-0006761-20
7 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2015.01.16 수리 (Accepted) 9-1-2015-0006802-15
8 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2015.01.17 수리 (Accepted) 9-1-2015-0006823-63
9 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2015.01.18 수리 (Accepted) 9-1-2015-0006836-56
10 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2015-0060422-60
11 등록결정서
Decision to grant
2015.03.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0157596-83
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번호 청구항
1 1
적층되는 복수의 반도체 칩;상기 복수의 반도체 칩 간에 신호들을 전달하며, 다수의 행과 열을 이루도록 배열되는 복수개의 관통 전극;적어도 일부의 관통 전극들과 일대일로 연결되고, 상기 신호들 각각을 서로 다른 관통 전극으로 스위칭하는 스위치들; 및상기 신호들을 상기 스위치들로 입력하거나 상기 스위치들로부터 입력받는 신호 포트들을 포함하며,적어도 하나의 신호 포트는, 제1 행에 배열된 관통 전극들 중 하나의 관통 전극을 사이에 두고 양측에 배열된 2개의 제1 관통 전극에 대응하는 2개의 제1 스위치, 및 상기 제1 행 혹은 상기 제1 행과 이웃하는 제2 행에 배열된 관통 전극들 중 상기 하나의 관통 전극과 같은 열에 배열된 2개의 제2 관통 전극에 연결된 2개의 제2 스위치로 동시에 신호를 입력하거나, 상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치 중 어느 하나로부터 신호를 입력받는 반도체 장치
2 2
제1 항에 있어서,상기 제2 관통 전극은, 상기 2개의 제1 관통 전극 모두에 대하여 동시에 대각선 위치에 배열된 관통 전극이거나, 상기 2개의 제1 관통 전극 사이에 배열된 상기 하나의 관통 전극인 반도체 장치
3 3
제1 항에 있어서,상기 하나의 관통 전극이 양끝 행에 배열되지 않은 관통 전극인 경우, 상기 제2 관통 전극은, 상기 하나의 관통 전극과 동일한 열에 배열되는 동시에 상기 하나의 관통 전극을 사이에 두고 상기 제1 행의 양측으로 이웃하는 2개의 제2 행에 배열된 2개의 관통 전극인 반도체 장치
4 4
제1 항에 있어서,상기 하나의 관통 전극이 양끝 행에 배열된 관통 전극인 경우, 상기 제2 관통 전극은 상기 하나의 관통 전극 및 상기 하나의 관통 전극과 동일한 열에 배열되는 동시에 상기 하나의 관통 전극과 이웃하는 하나의 제2 행에 배열된 관통 전극을 포함하는 반도체 장치
5 5
제1 항에 있어서,상기 제1 스위치는 상기 복수개의 관통 전극 중 첫 열과 마지막 열에 배치된 관통 전극과 신호 포트 간을 연결하는 퓨즈(fuze)를 포함하는 반도체 장치
6 6
제1 항에 있어서,하나의 신호 포트에 연결 가능한 4개의 관통 전극들의 그룹인 관통 전극 그룹은 'T자' 형, '◇' 형 및 '뒤집힌 T자' 형 중 어느 하나의 2차원 배열 구조를 갖는 반도체 장치
7 7
제6 항에 있어서,적어도 하나의 관통 전극은 서로 다른 관통 전극 그룹에 중복하여 소속되며,상기 관통 전극 그룹은 하나의 신호 포트에 연결될 수 있는 4개의 관통 전극들의 그룹인 반도체 장치
8 8
제7 항에 있어서,상기 스위치들 각각은 상기 관통 전극 그룹에 속하는 4개의 관통 전극들 중 어느 하나를 선택하여, 선택한 관통 전극과 상기 하나의 신호 포트 간을 연결하는 반도체 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 연세대학교 중견연구자지원 초미세폭 3차원 반도체 제조비용 절감을 위한 설계 및 테스트 기술 연구