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단말기 및 그를 이용한 방사선 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015127707
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 단말기 및 그를 이용한 방사선 측정 방법에 관한 것으로, 특히 스마트 폰, 스마트 와치와 같은 스마트 디바이스에 방사선 측정 기능을 부여하도록 반도체를 이용한 선량계를 디스플레이에 탑재한 단말기 및 그를 이용한 방사선 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 단말기는, 방사선을 감지하여 신호를 출력하는 반도체 선량계; 상기 반도체 선량계가 탑재되는 디스플레이; 및 상기 반도체 선량계로부터 출력된 신호를 입력받아 처리하여 방사선 피폭 정보를 제공하는 처리부;를 포함할 수 있다.
Int. CL G01T 1/24 (2006.01) G01T 7/00 (2006.01) G01T 1/02 (2006.01)
CPC G01T 1/026(2013.01) G01T 1/026(2013.01) G01T 1/026(2013.01)
출원번호/일자 1020140027242 (2014.03.07)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1636838-0000 (2016.06.30)
공개번호/일자 10-2015-0105566 (2015.09.17) 문서열기
공고번호/일자 (20160707) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.03.07)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김시호 대한민국 인천광역시 연수구
2 박현빈 대한민국 인천광역시 연수구
3 심민섭 대한민국 인천광역시 연수구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권혁수 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소)
2 송윤호 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-0225508-23
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.04.09 수리 (Accepted) 1-1-2014-0338050-31
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.07.14 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2014-0656901-51
4 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2014.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0120982-50
5 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2014.09.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0153591-74
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
7 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.10.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.11.12 수리 (Accepted) 9-1-2014-0088806-52
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.01.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0029895-16
10 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2015-0060422-60
11 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.03.16 수리 (Accepted) 1-1-2015-0250989-81
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.04.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-0363076-38
13 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.04.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0363077-84
14 심사처리보류(연기)보고서
Report of Deferment (Postponement) of Processing of Examination
2015.08.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2015-0067249-90
15 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.10.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0730655-19
16 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2015-1259657-16
17 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.12.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-1259666-27
18 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2016.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0277216-75
19 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.31 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2016-0525425-60
20 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.31 수리 (Accepted) 1-1-2016-0525417-05
21 등록결정서
Decision to grant
2016.06.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0461075-40
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
방사선을 감지하여 신호를 출력하는 반도체 선량계;상기 반도체 선량계가 탑재되는 디스플레이; 및상기 반도체 선량계로부터 출력된 신호를 입력받아 처리하여 방사선 피폭 정보를 제공하는 처리부;를 포함하며,상기 반도체 선량계는, 상기 디스플레이의 TFT 소자가 형성되는 기판상에 상기 TFT 소자와 동일한 구조를 갖는 MOSFET으로 형성되며, 상기 디스플레이의 복수 개의 표시 영역에 각각 대응되도록 복수 개가 탑재되고,상기 처리부는:복수의 반도체 선량계 중 사전에 결정된 기준 수량 이상의 반도체 선량계가 기 설정된 제 1 임계값을 넘는 방사선량을 감지하는 경우, 감지된 방사선량을 유효 측정값으로 결정하는 단말기
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 반도체 선량계는 상기 기판 상에 형성된 홈 내에 형성되는 단말기
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
제 1 항에 있어서,상기 처리부는:상기 복수의 반도체 선량계 중 상기 기준 수량 미만의 반도체 선량계가 상기 제 1 임계값을 넘는 방사선량을 감지하는 경우, 감지된 방사선량을 무시하는 단말기
7 7
제 1 항에 있어서,상기 기준 수량은 상기 반도체 선량계의 개수에 기 설정된 민감도 파라미터를 곱한 값인 단말기
8 8
제 1 항에 있어서,상기 처리부는:상기 복수의 반도체 선량계 중 상기 기준 수량 이상의 반도체 선량계가 상기 제 1 임계값을 넘는 방사선량을 감지하는 경우, 상기 복수의 반도체 선량계가 감지한 방사선량의 평균을 계산하여 출력하는 단말기
9 9
제 8 항에 있어서,상기 처리부는:기 설정된 제 2 임계값을 넘는 상기 방사선량의 평균이 기 설정된 임계 시간을 초과하여 감지되는 경우, 사용자에게 방사선 피폭을 경고하는 알람을 제공하는 단말기
10 10
제 8 항에 있어서,상기 단말기는 상기 방사선 피폭 정보를 저장하는 저장부를 더 포함하고,상기 처리부는 상기 방사선량의 평균 및 감지 시각을 상기 저장부에 저장하는 단말기
11 11
방사선을 감지하여 신호를 출력하는 반도체 선량계;상기 반도체 선량계가 탑재되는 디스플레이; 및상기 반도체 선량계로부터 출력된 신호를 입력받아 처리하여 방사선 피폭 정보를 제공하는 처리부;를 포함하며,상기 반도체 선량계는, 상기 디스플레이의 TFT 소자가 형성되는 기판상에 상기 TFT 소자와 동일한 구조를 갖는 MOSFET으로 형성되며, 상기 디스플레이의 주위에 걸쳐 복수 개의 표시 영역에 각각 대응되도록 복수 개가 배치되고,상기 처리부는:복수의 반도체 선량계가 감지하는 방사선량을 기초로, 각각의 반도체 선량계에 대응하는 상기 디스플레이의 영역에 해당 반도체 선량계가 감지한 방사선량을 표시하도록 처리하는 단말기
12 12
제 11 항에 있어서,상기 처리부는 상기 방사선량을 이미지, 숫자, 기호 및 심볼 중 적어도 하나로 표시하도록 처리하는 단말기
13 13
제 12 항에 있어서,상기 처리부는:각각의 반도체 선량계가 감지한 서로 다른 방사선량에 대응하는 이미지가 상기 디스플레이의 영역에 걸쳐 단속적으로 또는 연속적으로 변화하여 표시되도록 처리하는 단말기
14 14
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15 15
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16 16
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21 21
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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