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반도체장비용 오링의 내구성시험장치

  • 기술번호 : KST2015128091
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체장비인 예로, 화학기상증착(CVD)장비, 물리기상증착(PVD)장비, 식각장비(Etcher) 중 프로세스쳄버의 기밀성을 유지하기 위하여 사용되는 오링에 대한 내구성을 실제 사용환경 하에서 시험하는 반도체장비용 오링의 내구성시험장치에 관한 것이다.본 발명에 따르면, 기밀이 유지되는 기밀쳄버(11)와;상기 기밀쳄버(11)내에 회전자재되게 설치되고 각기 시험오링(10)의 장착홈 (28-1,29-1)을 갖는 구동시험봉(18)과 종동시험봉(29)을 구비하되, 이들 구동시험봉(18)과 종동시험봉(29)간의 간격을 조절가능하도록 상기 종동시험봉(29)을 리니어가이드(6)에 의해 지지시킴과 동시에 상기 구동시험봉(18)을 기밀챔버(11)의 외측에 장착된 모터(9)에 연동하도록 구성된 시험구동부(32)와;가스공급라인(16)을 통한 유해가스를 가스공급제어기(15)에 의해 제어되는 전자밸브(13) 또는 바이패스라인(16-1)의 조절밸브(14)을 통해 상기 기밀쳄버(11)내에 공급하도록 설치되는 유해가스공급부(30)와;로터리펌프(26)를 작동시켜 1차 감압한 후, 오일확산펌프(22)를 이용하여 설정압력으로 2차 감압함으로써 상기 기밀쳄버(11)의 내압을 진공상태로 낮추는 진공형성부(31)와;상기 기밀쳄버(11)의 내부를 가열하도록 설치되는 할로겐히터(13)와;상기 기밀쳄버(11)내의 유해가스, 온도, 압력을 감지하도록 설치되는 센서 (12)와;상기 기밀쳄버(11)내의 환경이 반도체장비의 프로세스쳄버와 동일상태를 이루도록 상기 유해가스공급부(30)와 진공형성부(31) 및 할로겐히터(13)를 제어하고, 상기 모터(9)의 구동속도 및 시간을 제어하도록 설치되는 제어부(27)를 포함한 것을 특징으로 한다.반도체장비, 오링, 내구성시험
Int. CL H01L 21/66 (2006.01)
CPC H01L 21/67126(2013.01) H01L 21/67126(2013.01)
출원번호/일자 1020000069746 (2000.11.22)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-0359994-0000 (2002.10.24)
공개번호/일자 10-2002-0039914 (2002.05.30) 문서열기
공고번호/일자 (20021107) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.11.22)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김동수 대한민국 대전광역시서구
2 김광영 대한민국 경상남도창원시
3 박화영 대한민국 대전광역시서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 손은진 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)(특허법인 아이퍼스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2000.11.22 수리 (Accepted) 1-1-2000-0247272-64
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2001.03.03 수리 (Accepted) 4-1-2001-0023554-29
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2002.05.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2002.06.11 수리 (Accepted) 9-1-2002-0007444-81
5 등록결정서
Decision to grant
2002.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0262176-02
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.01.21 수리 (Accepted) 4-1-2005-0002690-32
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069919-31
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069914-14
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
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번호 청구항
1 1

기밀이 유지되는 기밀쳄버(11)와;

상기 기밀쳄버(11)내에 회전자재되게 설치되고 각기 시험오링(10)의 장착홈 (28-1,29-1)을 갖는 구동시험봉(18)과 종동시험봉(29)을 구비하되, 이들 구동시험봉(18)과 종동시험봉(29)간의 간격을 조절가능하도록 상기 종동시험봉(29)을 리니어가이드(6)에 의해 지지시킴과 동시에 상기 구동시험봉(18)을 기밀챔버(11)의 외측에 장착된 모터(9)에 연동하도록 구성된 시험구동부(32)와;

가스공급라인(16)을 통한 유해가스를 가스공급제어기(15)에 의해 제어되는 전자밸브(13) 또는 바이패스라인(16-1)의 조절밸브(14)을 통해 상기 기밀쳄버(11)내에 공급하도록 설치되는 유해가스공급부(30)와;

로터리펌프(26)를 작동시켜 1차 감압한 후, 오일확산펌프(22)를 이용하여 설정압력으로 2차 감압함으로써 상기 기밀쳄버(11)의 내압을 진공상태로 낮추는 진공형성부(31)와;

상기 기밀쳄버(11)의 내부를 가열하도록 설치되는 할로겐히터(13)와;

상기 기밀쳄버(11)내의 유해가스, 온도, 압력을 감지하도록 설치되는 센서 (12)와;

상기 기밀쳄버(11)내의 환경이 반도체장비의 프로세스쳄버와 동일상태를 이루도록 상기 유해가스공급부(30)와 진공형성부(31) 및 할로겐히터(13)를 제어하고, 상기 모터(9)의 구동속도 및 시간을 제어하도록 설치되는 제어부(27)를 포함한 것을 특징으로 하는 반도체장비용 오링의 내구성시험장치

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패밀리정보가 없습니다
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