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마이크로/나노 스케일에서 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템

  • 기술번호 : KST2015128389
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 마이크로/나노 스케일의 인장시험에 사용되는 VIT시스템에 관한 것으로, 더 상세하게는 인장시험시 길이방향으로의 변형률과 폭방향으로의 변형률을 동시에 실시간으로 측정하여 이 값에 의해 푸아송비를 즉시 계산하도록 하는 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템 및 이를 이용한 변위/변형률과 푸아송비의 실시간 측정방법에 관한 것이다.본 발명의 VIT시스템 및 측정방법은 다수의 마커가 표시된 마이크로/나노 시편을 구동기인 PTZ엑츄에이터 와 하중계인 로드셀 사이에 고정시키고, 상기 시편에 인장력을 가한 후 시편에 표시된 마커간의 거리를 측정하여 변형률을 측정하는 광학계 및 CCD카메라로 구성된 VIT시스템에 있어서, 상기 시스템은 구동기와 하중계가 설치된 베드에 XY축으로 조정가능하게 장착된 주축대와, 상기 주축대의 일측에 Z축 방향으로 이동가능하게 장착된 이동대로 구성되는데; 상기 이동대는 하부에 줌렌즈와 튜브렌즈를 순차적으로 설치하여 줌렌즈로부터 측정된 상을 튜브렌즈로 결상하여 빔스플리터에 의해 수직방향과 수평방향으로 분광되도록 하고, 상기 분광된 수직방향의 영상은 줌렌즈와 정수직 상방에 설치된 제1 CCD카메라에 공급되어 시편의 길이방향 변형률을 측정하도록 하고, 상기 분광된 수평방향의 영상은 상기 제1 CCD카메라와 줌렌즈를 연결한 선상과 교차되는 방향에 설치된 제2 CCD카메라에 공급되어 시편의 폭방향 변형률을 측정하도록 한다.인장시험, 나노 시편, CCD카메라, 변형률, 푸아송비
Int. CL G01N 21/00 (2011.01) B82Y 35/00 (2011.01) G01B 11/00 (2011.01)
CPC G01N 3/08(2013.01) G01N 3/08(2013.01) G01N 3/08(2013.01) G01N 3/08(2013.01)
출원번호/일자 1020070013990 (2007.02.09)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0074625 (2008.08.13) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.02.09)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이학주 대한민국 대전광역시 유성구
2 한승우 대한민국 대전광역시 유성구
3 김재현 대한민국 대전광역시 유성구
4 이상주 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 웰 대한민국 서울특별시 서초구 방배로**길*, *~*층(방배동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2007-0123956-63
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.11.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.12.05 수리 (Accepted) 9-1-2007-0071866-52
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.04.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0208053-57
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2008-0433195-07
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.06.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0433213-31
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0515483-99
8 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2008.12.05 보정각하 (Rejection of amendment) 7-1-2008-0056798-14
9 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2009.01.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0009247-85
10 심사전치출원의 심사결과통지서
Notice of Result of Reexamination
2009.01.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0009249-76
11 심사관의견요청서
Request for Opinion of Examiner
2009.02.16 수리 (Accepted) 7-8-2009-0005226-90
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069919-31
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069914-14
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다수의 마커가 표시된 마이크로/나노 시편을 구동기인 PTZ엑츄에이터 와 하중계인 로드셀 사이에 고정시키고, 상기 시편에 인장력을 가한 후 시편에 표시된 마커간의 거리를 측정하여 변형률을 측정하는 광학계와 CCD카메라로 구성된 VIT시스템에 있어서,상기 시스템(10)은 구동기(20)와 하중계(30)가 설치된 베드에 XY축으로 조정가능하게 장착된 주축대(50)와, 상기 주축대의 일측에 Z축 방향으로 이동가능하게 장착된 이동대(60)로 구성되는데;상기 이동대(60)는 하부에 줌렌즈(61)와 튜브렌즈(62)를 순차적으로 설치하여 줌렌즈로부터 측정된 상을 튜브렌즈로 결상하여 빔스플리터(63)에 의해 수직방향과 수평방향으로 분광되도록 하고, 상기 분광된 수직방향의 영상은 줌렌즈와 정수직 상방에 설치된 제1 CCD카메라(64)에 공급되어 시편의 길이방향 변형률을 측정하도록 하고, 상기 분광된 수평방향의 영상은 상기 제1 CCD카메라와 줌렌즈를 연결한 선상과 교차되는 방향에 설치된 제2 CCD카메라(65)에 공급되어 시편의 폭방향 변형률을 측정하도록 한 것을 특징으로 하는 마이크로/나노 스케일에서 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템
2 2
제 1항에 있어서,상기 제1, 2 CCD카메라(64, 65)는 이동대(60)와의 결합되는 부분에 미세조정부(641, 651)가 더 결합되어 상기 미세조정부에 설치된 두개의 조절나사에 의해 입사되는 분광영상의 수직평면 상에서 2축 미세조정이 이루어지도록 한 것을 특징으로 하는 마이크로/나노 스케일에서 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템
3 3
제 2항에 있어서,상기 제2 CCD카메라(65)에는 보조줌렌즈(66)를 더 장착하여 분광영상의 광학배율을 증가시킨 것을 특징으로 하는 마이크로/나노 스케일에서 변위/변형률 측정을 위한 VIT시스템
4 4
본 발명에 따른 제1, 2 CCD카메라가 설치된 VIT시스템을 이용하여 다수의 마커가 형성된 시편의 마커간 거리를 측정하여 변위/변형률을 실시간 측정하는 측정방법에 있어서,양측면이 좌굴된 마이크로/나노 시편의 상부면에 길이방향과 폭방향으로 각각 한쌍의 마커를 형성하는 마커형성단계(S1)와;VIT시스템의 줌렌즈를 이용하여 시편영상을 수집하고 이를 빔스플리터에 의해 분광하며, 상기 분광된 일측영상은 제1CCD카메라로 전송되어 시편 길이방향인 가로길이에 표시된 마커 사이의 간격을 측정하고, 분광된 타측영상은 제2CCD카메라로 전송되어 시편 폭방향의 마커부 사이의 간격을 측정하여 기준간격을 측정하는 기준간격측정단계(S2)와;상기 시편에 인장력을 가하고, 실시간으로 줌렌즈를 통해 영상을 수집하여 제1, 2 CCD카메라로 간격을 측정하는 실시간측정단계(S3)와;상기 기준간격측정단계에서 측정된 기준값과, 실시간측정단계에서 측정된 실측값으로 길이방향의 인장변형률과 폭방향의 횡변형률을 계산하는 변형률계산단계(S4);를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 VIT시스템을 이용한 변위/변형률과 푸아송비의 실시간 측정방법
5 5
제 4항에 있어서,상기 계산된 길이방향의 인장변형률과 폭방향의 횡변형률을 이용하여 푸아송비를 계산하는 푸아송비계산단계(S5)가 더 포함됨을 특징으로 하는 VIT시스템을 이용한 변위/변형률과 푸아송비의 실시간 측정방법
6 6
제 4항에 있어서,상기 시편의 마커 간격은 에지 디텍션(Edge detection)기법에 의해 측정이 이루어짐을 특징으로 하는 VIT시스템을 이용한 변위/변형률과 푸아송비의 실시간 측정방법
7 7
제 4항에 있어서,상기 시편의 마커 간격은 패턴 메칭(Pattern matching)기법에 의해 측정이 이루어짐을 특징으로 하는 VIT시스템을 이용한 변위/변형률과 푸아송비의 실시간 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.