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N형 열전 반도체 소자를 포함하는 열전 반도체의 제조방법에 있어서,상기 N형 열전 반도체 소자는 전기화학적 방법에 의해 전착되고,상기 전기화학적 방법은, 기판을 작업전극으로 하여, 상기 N형 열전 반도체 소자를 형성하기 위한 이온을 포함하는 액체 전해질에 상기 기판을 담지하는 단계를 포함하며,상기 액체 전해질의 조성은 XmM Bi2O3/YmM TeO2 (7
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제 1 항에 있어서,상기 전착된 열전 반도체 소자를 열처리하는 단계를 포함하는 열전 반도체의 제조방법
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제 2 항에 있어서,상기 열처리의 온도는 100 내지 500℃의 인 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 전기화학적 방법은, 상기 N형 열전 반도체 소자를 형성하기 위한 이온을 포함하는 액체 전해질에 상기 기판을 담지하는 단계 이후, 상대전극 및 기준전극을 이용하여 일정전류 또는 일정전압을 인가하는 것인 열전 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 계면 활성제는 음이온성 계면 활성제, 양이온성 계면 활성제 또는 비이온성 계면 활성제를 포함하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 제조방법
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제 5 항에 있어서,상기 양이온성 계면활성제는 CTAB(Cetyl Trimethyl Ammonium Bromide)이고, 상기 음이온 계면활성제는 SDS(sodium dodecyl sulphate)이며, 상기 비이온성 계면 활성제는 Triton X-100 (octylphenolpoly(ethyleneglycolether)인 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 제조방법
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제 1 항에 있어서,상기 액체전해질은 Ag, Cu, Pb, Sn 및 Ge로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 어느 하나의 물질을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체의 제조방법
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