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열전 반도체 모듈 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015129373
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 베이스 기판; 상기 베이스 기판 상부에 위치하는 열전 반도체 소자; 상기 열전 반도체 소자의 일단에 연결되는 제1접촉 전극부; 및 상기 열전 반도체 소자의 타단에 연결되는 제2접촉 전극부를 포함하고, 상기 제1접촉 전극부 및 상기 제2접촉 전극부는 상기 베이스 기판 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 열전 반도체 모듈 및 이의 제조방법에 관한 것으로, 열전 반도체 모듈을 구성하는 열전 반도체 소자를 형성함에 있어서, 열전 반도체 소자 패턴을 도너기판에 형성하고, 상기 도너기판 상의 열전 반도체 소자 패턴을 전사방식에 의해 베이스 기판으로 전사함으로써, 일반적으로 진행되는 고온, 고압 또는 진공 공정에 비해 온화한 조건 유지가 가능하다.
Int. CL H01L 35/02 (2006.01) H01L 35/34 (2006.01)
CPC H01L 35/34(2013.01) H01L 35/34(2013.01) H01L 35/34(2013.01)
출원번호/일자 1020120030649 (2012.03.26)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-1386682-0000 (2014.04.11)
공개번호/일자 10-2013-0108856 (2013.10.07) 문서열기
공고번호/일자 (20140421) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.03.26)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임재홍 대한민국 경상남도 창원시 가
2 이규환 대한민국 경남 창원시 성산구
3 임동찬 대한민국 서울 양천구
4 유인준 대한민국 경북 경주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0240755-11
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.05.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.06.05 수리 (Accepted) 9-1-2013-0042972-11
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.07.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0477299-75
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.09.10 수리 (Accepted) 1-1-2013-0827492-00
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.09.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0827502-79
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.01.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0050586-61
8 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2014.02.21 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-0172803-66
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.02.21 수리 (Accepted) 1-1-2014-0172792-41
10 등록결정서
Decision to Grant Registration
2014.03.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0218194-62
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
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번호 청구항
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열전 반도체 소자 패턴을 포함하는 제1도너기판을 제공하는 단계;전극층 패턴을 포함하는 제2도너기판을 제공하는 단계;베이스 기판을 제공하는 단계;상기 제1도너기판과 상기 베이스 기판을 합착하는 단계;상기 열전 반도체 소자 패턴을 상기 베이스 기판 상에 전사하는 단계;상기 전극층 패턴을 포함하는 상기 제2도너기판의 면과 상기 열전 반도체 소자 패턴이 전사된 상기 베이스 기판의 면을 합착하는 단계; 및상기 전극층 패턴을 상기 열전 반도체 소자 패턴이 전사된 상기 베이스 기판의 면에 전사하는 단계를 포함하는 열전 반도체 모듈의 제조방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 열전 반도체 소자 패턴을 포함하는 제1도너기판을 제공하는 단계는, 금속전극을 포함하는 제1기판을 작업전극으로 하여, 상기 열전 반도체 소자 패턴을 형성하기 위한 이온을 포함하는 액체 전해질에 상기 기판을 담지하고, 상대전극 및 기준전극을 이용하여 일정전류 또는 일정전압을 인가하는 것이고,상기 전극층 패턴을 포함하는 제2도너기판을 제공하는 단계는, 금속전극을 포함하는 제2기판을 작업전극으로 하여, 상기 전극층 패턴을 형성하기 위한 이온을 포함하는 액체 전해질에 상기 기판을 담지하고, 상대전극 및 기준전극을 이용하여 일정전류 또는 일정전압을 인가하는 것인 열전 반도체의 제조방법
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제 5 항에 있어서,상기 열전 반도체 소자 패턴을 포함하는 제1도너기판을 제공하는 단계는, 제1기재층 상에 열전 반도체 소자층을 형성하는 단계; 상기 열전 반도체 소자층의 상부에 제1포토레지스트막을 형성하고, 제1마스크를 사용하여 노광공정을 진행하는 단계; 상기 노광공정이 진행된 제1포토레지스트막을 현상공정을 진행하여, 제1포토레지스트막 패턴을 형성하는 단계; 및 상기 제1포토레지스트막 패턴을 마스크로 하여, 상기 열전 반도체 소자층을 식각함으로써, 열전 반도체 소자 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것이고,상기 전극층 패턴을 포함하는 제2도너기판을 제공하는 단계는, 제2기재층 상에 전극층을 형성하는 단계; 상기 전극층의 상부에 제2포토레지스트막을 형성하고, 제2마스크를 사용하여 노광공정을 진행하는 단계; 상기 노광공정이 진행된 제2포토레지스트막을 현상공정을 진행하여, 제2포토레지스트막 패턴을 형성하는 단계; 및 상기 제2포토레지스트막 패턴을 마스크로 하여, 상기 전극층을 식각함으로써, 전극층 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것인 열전 반도체의 제조방법
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열전 반도체 소자 패턴 및 전극층 패턴을 포함하는 도너기판을 제공하는 단계;상기 도너기판과 베이스 기판을 합착하는 단계; 및상기 열전 반도체 소자 패턴 및 상기 전극층 패턴을 상기 베이스 기판 상에 전사하는 단계를 포함하고,상기 열전 반도체 소자 패턴 및 전극층 패턴을 포함하는 도너기판을 제공하는 단계는, 기재층의 상부에, 제조하고자 하는 열전 반도체 소자와 대응되는 형상의 개구부를 포함하는 제1마스크를 제공하는 단계; 상기 제1마스크를 마스크로 하여, 상기 기재층의 상부에 열전 반도체 소자 패턴을 형성하는 단계; 상기 기재층의 상부에, 제조하고자 하는 전극과 대응되는 형상의 개구부를 포함하는 제2마스크를 제공하는 단계; 상기 제2마스크를 마스크로 하여, 상기 기재층의 상부에 전극층 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것인 열전 반도체의 제조방법
9 9
제1열전 반도체 모듈; 및상기 제1열전 반도체 모듈 상에 적층된 제2열전 반도체 모듈을 포함하고,상기 제1열전 반도체 모듈 및 상기 제2열전 반도체 모듈은, 각각 베이스 기판; 상기 베이스 기판의 상부에 위치하는 열전 반도체 소자; 상기 베이스 기판 상에 형성되고, 상기 열전 반도체 소자의 일단에 연결되는 제1접촉 전극부; 및 상기 베이스 기판 상에 형성되고, 상기 열전 반도체 소자의 타단에 연결되는 제2접촉 전극부를 포함하고,상기 제1열전 반도체 모듈의 상기 열전 반도체 소자는 제1열전 반도체 소자 및 제2열전반도체 소자를 포함하고, 상기 제1열전 반도체 모듈의 상기 제1접촉 전극부는 제1상부 접촉 전극부 및 제2상부 접촉 전극부를 포함하며, 상기 제1열전반도체 모듈의 상기 제2접촉 전극부는 제1하부 접촉 전극부 및 제2하부 접촉 전극부를 포함하고,상기 제1열전 반도체 모듈에 있어서, 상기 제1하부 접촉 전극부는 상기 제1열전 반도체 소자의 타단에 연결되고, 상기 제1상부 접촉 전극부는 상기 제1열전 반도체 소자의 일단에 연결되며, 상기 제2하부 접촉 전극부는 상기 제2열전 반도체 소자의 타단에 연결되고, 상기 제2상부 접촉 전극부는 제2열전 반도체 소자의 일단에 연결되며, 상기 제1상부 접촉 전극부 및 상기 제2하부 접촉 전극부는 연결전극부에 의해 연결되고, 상기 제1하부 접촉 전극부 및 상기 제2상부 접촉 전극부는 리드전극인 것을 특징으로 하는 적층형 열전 반도체 모듈
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삭제
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제 9 항에 있어서,상기 제2열전 반도체 모듈의 상기 열전 반도체 소자는 제1열전 반도체 소자 및 제2열전반도체 소자를 포함하고, 상기 제2열전 반도체 모듈의 상기 제1접촉 전극부는 제1상부 접촉 전극부 및 제2상부 접촉 전극부를 포함하며, 상기 제2열전반도체 모듈의 상기 제2접촉 전극부는 제1하부 접촉 전극부 및 제2하부 접촉 전극부를 포함하고,상기 제2열전 반도체 모듈에 있어서, 상기 제1하부 접촉 전극부는 상기 제1열전 반도체 소자의 타단에 연결되고, 상기 제1상부 접촉 전극부는 상기 제1열전 반도체 소자의 일단에 연결되며, 상기 제2하부 접촉 전극부는 상기 제2열전 반도체 소자의 타단에 연결되고, 상기 제2상부 접촉 전극부는 제2열전 반도체 소자의 일단에 연결되며, 상기 제1상부 접촉 전극부 및 상기 제2하부 접촉 전극부는 연결전극부에 의해 연결되고, 상기 제1하부 접촉 전극부 및 상기 제2상부 접촉 전극부는 리드전극인 것을 특징으로 하는 적층형 열전 반도체 모듈
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제 11 항에 있어서,상기 제1열전 반도체 모듈의 리드전극 중 어느 하나와 상기 제2열전 반도체 모듈의 리드전극 중 어느 하나가 콘택전극을 통해 상호 연결됨으로써, 상기 제1열전 반도체 모듈 및 상기 제2열전 반도체 모듈이 직렬연결되는 것을 특징으로 하는 적층형 열전 반도체 모듈
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제 11 항에 있어서,상기 제1열전 반도체 모듈의 리드전극 중 어느 하나와 상기 제2열전 반도체 모듈의 리드전극 중 어느 하나가 제1콘택전극을 통해 상호 연결되고, 상기 제1열전 반도체 모듈의 리드전극 중 다른 하나와 상기 제2열전 반도체 모듈의 리드전극 중 다른 하나가 제2콘택전극을 통해 상호 연결됨으로써,상기 제1열전 반도체 모듈 및 상기 제2열전 반도체 모듈이 병렬연결되는 것을 특징으로 하는 적층형 열전 반도체 모듈
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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