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변위 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015130247
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 유연 시편을 잡고 있는 양쪽 그립 모두의 변위를 측정하는 그립-투-그립(grip-to-grip) 변위 측정 장치를 제공한다. 본 발명의 변위 측정 장치는 유연 시편의 양 단부를 잡아 고정하는 제1 그립 및 제2 그립과, 제1 그립에 결합되는 로드셀과, 제2 그립에 결합되며 유연 시편에 장력을 가하는 작동기를 포함하는 인장 및 피로 시험 설비에 적용된다. 변위 측정 장치는 제1 그립과 제2 그립 중 어느 한 그립에 설치되는 하프 미러와, 제1 그립과 제2 그립 중 다른 한 그립에 설치되는 제1 미러와, 하프 미러를 향해 빛을 방출하는 광원과, 하프 미러에서 반사된 빛을 제공받아 하프 미러를 향해 재반사하는 제2 미러와, 하프 미러를 통과해 제1 미러에서 반사된 빛을 검출하는 광 센서를 포함한다.
Int. CL G01B 11/16 (2006.01) G01N 3/02 (2006.01)
CPC G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01) G01B 11/162(2013.01)
출원번호/일자 1020100095321 (2010.09.30)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-1033032-0000 (2011.04.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20110509) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.09.30)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김재현 대한민국 대전 유성구
2 황보윤 대한민국 대전 유성구
3 장봉균 대한민국 대전 유성구
4 김경식 대한민국 대전 유성구
5 이학주 대한민국 대전 유성구
6 최병익 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 팬코리아특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 역삼***빌딩 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2010-0632900-16
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2010.10.05 수리 (Accepted) 1-1-2010-0643362-09
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2010.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0741102-11
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2010.12.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.01.05 수리 (Accepted) 9-1-2011-0000271-82
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2011.01.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0032779-40
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2011.03.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0192356-13
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2011.03.16 수리 (Accepted) 1-1-2011-0192355-67
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069919-31
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.04.08 수리 (Accepted) 4-1-2011-5069914-14
11 등록결정서
Decision to grant		 2011.04.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0206901-17
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
유연 시편의 양 단부를 잡아 고정하는 제1 그립 및 제2 그립과, 상기 제1 그립에 결합되는 로드셀과, 상기 제2 그립에 결합되며 상기 유연 시편에 장력을 가하는 작동기를 포함하는 인장 및 피로 시험 설비용 변위 측정 장치에 있어서,상기 제1 그립과 상기 제2 그립 중 어느 한 그립에 설치되는 하프 미러;상기 제1 그립과 상기 제2 그립 중 다른 한 그립에서 상기 유연 시편의 장력 인가 방향에 대해 경사지게 설치되는 제1 미러;상기 유연 시편의 장력 인가 방향과 수직한 방향을 따라 상기 하프 미러의 외측에 위치하고 상기 하프 미러를 향해 빛을 방출하는 광원;상기 하프 미러에서 반사된 빛을 제공받아 상기 하프 미러를 향해 재반사하는 제2 미러; 및상기 유연 시편의 장력 인가 방향과 수직한 방향을 따라 상기 제1 미러의 외측에 위치하고 상기 하프 미러를 통과해 상기 제1 미러에서 반사된 빛의 위치를 감지하는 광 센서를 포함하며,상기 작동기에 의해 상기 제1 그립과 상기 제2 그립이 이동할 때 상기 광 센서에서 산출된 빛의 위치 변화량을 이용하여 상기 제1 그립과 상기 제2 그립의 변위 차이를 측정하는 변위 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 하프 미러는 상기 제1 그립과 상기 제2 그립 중 상대적으로 변위가 작은 그립에 설치되고, 상기 제1 미러는 상대적으로 변위가 큰 그립에 설치되는 변위 측정 장치
3 3
제2항에 있어서,상기 하프 미러는 상기 제1 그립에 설치되고, 상기 제1 미러는 상기 제2 그립에 설치되는 변위 측정 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 하프 미러는 반투명 거울면을 갖는 2개의 프리즘 모양 투명체를 각자의 투명 거울면이 접하도록 결합한 구성으로 이루어지는 변위 측정 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 제1 미러는 상기 유연 시편의 장력 인가 방향을 따라 상기 하프 미러와 평행하게 위치하며, 상기 하프 미러와 상기 제1 미러를 연결하는 가상의 수평선에 대해 경사지게 배치되는 변위 측정 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 가상의 수평선에 대한 상기 제1 미러의 경사각은 예각이며, 상기 하프 미러의 반투명 거울면은 상기 제1 미러의 경사각과 같은 경사각으로 배치되는 변위 측정 장치
7 7
제5항에 있어서,상기 제2 미러는 상기 유연 시편의 장력 인가 방향을 따라 상기 하프 미러와 평행하게 위치하며, 상기 하프 미러는 상기 제1 미러와 상기 제2 미러 사이에 위치하는 변위 측정 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 제2 미러는 상기 인장 및 피로 시험 설비의 프레임에 고정되거나 상기 로드셀과 상기 제1 그립 중 어느 하나에 고정되는 변위 측정 장치
9 9
제5항에 있어서,상기 제2 미러는 상기 하프 미러의 한쪽 면에 코팅된 거울면으로 이루어지는 변위 측정 장치
10 10
제9항에 있어서,상기 제2 미러는 상기 하프 미러의 반투명 거울면에서 반사된 빛이 도달하는 상기 하프 미러의 한쪽 면에 형성되는 변위 측정 장치
11 11
삭제
12 12
제1항에 있어서,상기 광원과 상기 광 센서는 상기 작동기와 분리된 곳에 고정 설치되는 변위 측정 장치
13 13
제1항에 있어서,상기 광원은 발광 다이오드이고, 상기 광 센서는 포토 다이오드인 변위 측정 장치
14 14
제1항 내지 제10항, 제12항, 제13항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제1 미러와 상기 광 센서 사이에 위치하는 광학 렌즈를 더 포함하는 변위 측정 장치
15 15
유연 시편의 양 단부를 잡아 고정하는 제1 그립 및 제2 그립과, 상기 제1 그립에 결합되는 로드셀과, 상기 제2 그립에 결합되며 상기 유연 시편에 장력을 가하는 작동기를 포함하는 인장 및 피로 시험 설비용 변위 측정 장치에 있어서,상기 제1 그립과 상기 제2 그립 중 어느 한 그립에 연동하는 하프 미러;상기 제1 그립과 상기 제2 그립 중 다른 한 그립에 연동하며 상기 유연 시편의 장력 인가 방향에 대해 경사지게 설치되는 제1 미러;상기 유연 시편의 장력 인가 방향과 수직한 방향을 따라 상기 하프 미러의 외측에 위치하고 상기 하프 미러를 향해 빛을 방출하는 광원;상기 하프 미러에서 반사된 빛을 제공받아 상기 하프 미러를 향해 재반사하는 제2 미러; 및상기 유연 시편의 장력 인가 방향과 수직한 방향을 따라 상기 제1 미러의 외측에 위치하고 상기 하프 미러를 통과해 상기 제1 미러에서 반사된 빛의 위치를 감지하는 광 센서를 포함하며,상기 작동기에 의해 상기 제1 그립과 상기 제2 그립이 이동할 때 상기 광 센서에서 측정되는 빛의 위치 변화량(d)은 하기 수식 (1)로 표현되는 변위 측정 장치
16 16
제15항에 있어서,상기 제1 미러와 상기 광 센서 사이에 위치하는 광학 렌즈를 더 포함하는 변위 측정 장치
17 17
제16항에 있어서,상기 광학 렌즈의 초점 거리를 f라 할 때 상기 광 센서는 광학 렌즈로부터 f 지점과 2f 지점 사이에 위치하며, 상기 광 센서에서 측정되는 빛의 위치 변화량(d)은 하기 수식 (2)로 표현되는 변위 측정 장치
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제16항에 있어서,상기 광학 렌즈의 초점 거리를 f라 할 때 상기 광 센서는 상기 광학 렌즈로부터 2f 지점보다 멀리 위치하며, 상기 광 센서에서 측정되는 빛의 위치 변화량(d)은 하기 수식 (3)으로 표현되는 변위 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부,교육과학기술부 한국기계연구원 국가플랫폼기술개발사업,21c 프론티어기술개발사업 안전성 향상을 위한 나노 제품 설계 기술, 10nm급 나노측정원천기술 개발