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전자후방산란회절을 이용한 이상조직강의 상분석 방법

  • 기술번호 : KST2015130944
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자후방산란회절(EBSD)을 이용하여 대상 시편의 결정방위를 측정하는 단계; 상기 측정된 결정방위를 바탕으로, 특정 기준값에 따라 미세조직을 구성하는 구조단위를 구분하는 단계; 및 상기 구분된 구조단위 내에 포함되는 다수의 픽셀의 평균 Band Slope(BS) 값을 산출하고, 상기 산출된 평균 BS 값을 상기 다수의 픽셀에 각각 적용하는 단계를 포함하는 전자후방산란회절(EBSD)을 이용한 상분석 방법에 관한 것으로, 하나의 구조단위의 일부 영역에서 매우 높은 BS값을 보이더라도, 하나의 구조단위에 포함되는 각각의 픽셀에 하나의 대표 BS 값을 적용시킴으로써, phase 맵에서 하나의 콜로니 단위가 마르텐사이트 및 페라이트로 정의되는 오류를 방지할 수 있다.
Int. CL G01N 23/203 (2006.01)
CPC G01N 23/203(2013.01) G01N 23/203(2013.01) G01N 23/203(2013.01) G01N 23/203(2013.01) G01N 23/203(2013.01)
출원번호/일자 1020110129811 (2011.12.06)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-1301684-0000 (2013.08.23)
공개번호/일자 10-2013-0063342 (2013.06.14) 문서열기
공고번호/일자 (20130830) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.12.06)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강전연 대한민국 경상남도 창원시 성산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.12.06 수리 (Accepted) 1-1-2011-0969240-28
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.11.29 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.12.21 수리 (Accepted) 9-1-2012-0095614-88
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.02.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0114918-71
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.04.22 수리 (Accepted) 1-1-2013-0352919-96
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2013-0441595-51
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.05.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0441606-76
8 등록결정서
Decision to grant
2013.08.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0562434-15
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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전자후방산란회절(EBSD)을 이용하여 대상 시편의 결정방위를 측정하는 단계;상기 측정된 결정방위를 바탕으로, 특정 기준값에 따라 미세조직을 구성하는 구조단위를 구분하는 단계; 및상기 구분된 구조단위 내에 포함되는 다수의 픽셀의 평균 Band Slope(BS) 값을 산출하고, 상기 산출된 평균 BS 값을 상기 다수의 픽셀에 각각 적용하는 단계를 포함하고,상기 Band Slope(BS) 값은 상기 전자후방산란회절(EBSD)에 의한 패턴 중의 밴드의 가장자리에서 밝기의 기울기인 것을 특징으로 하는 전자후방산란회절(EBSD)을 이용한 상분석 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 적용된 평균 BS 값을 바탕으로, Band Slope(BS) 히스토그램을 작성하고, 상기 Band Slope(BS) 히스토그램을 바탕으로, 상구분 기준값을 설정하는 단계; 및상기 상구분 기준값을 바탕으로, phase 맵을 작성하는 단계를 더 포함하는 전자후방산란회절(EBSD)을 이용한 상분석 방법
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삭제
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제 1 항에 있어서,상기 대상시편은 이상조직강인 것을 특징으로 하는 전자후방산란회절(EBSD)을 이용한 상분석 방법
5 5
제 1 항에 있어서,상기 구조단위 구분 특정 기준값은 결정립계의 어긋남각이 1 내지 15 °인 것을 특징으로 하는 전자후방산란회절(EBSD)을 이용한 상분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.