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시료를 담을 수 있고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키는 다공 하판;상기 시료를 덮고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키는 다공 상판 덮개;상기 다공 상판 덮개와 상기 다공 하판 사이의 측방향에 배치되어 상기 시료가 담겨진 공간을 밀폐시키고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 압밀링;지표면과 수직인 방향으로 상기 압밀링을 관통하여 상기 압밀링을 상기 다공 하판에 고정시키는 지지대; 및상기 다공 압밀링의 외측과 내측 사이를 관통하고, 서로 마주보는 형태로 배치되고, 지반의 이방성 측정을 위해 떨림 방향이 서로 다르게 배치되어 상기 시료를 통과하는 탄성파의 속도를 측정하는 복수의 트랜스듀서를 포함하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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제 1 항에 있어서,상기 복수의 트랜스듀서는한쌍의 압전판 사이에 강판을 적층한 구조로서, 상기 한쌍의 압전판에 서로 다른 전극을 인가하면, 상기 한쌍의 압전판 사이의 전압차에 해당하는 파장을 갖는 입력파를 전파시키는 소자인 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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제 2 항에 있어서,상기 복수의 트랜스듀서는상기 입력파에 따른 상기 시료 입자의 운동방향이 서로 다르도록 지면에 수직인 방향이 상기 강판과 이루는 각이 서로 다르게 배치되는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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제 1 항에 있어서,상기 복수의 트랜스듀서는상기 압밀링에 설치된 트랜스듀서용 소켓에 고무 재질의 오링(O-ring)과 함께 결합되고, 상기 트랜스듀서의 어느 한 측은 상기 시료에 접촉하고, 상기 트랜스듀서의 다른 한 측은 탄성파 측정용 회로에 연결되는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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제 4 항에 있어서,상기 탄성파 측정용 회로는소정의 입력파를 발생시키는 신호 발생부; 및상기 시료를 통과한 입력파를 수신하여 탄성파의 속도를 측정하는 속도 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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제 1 항에 있어서,상기 다공 상판 덮개 및 상기 다공 하판은소정의 다공 금속으로 제조된 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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제 1 항에 있어서,상기 압밀링은황동판을 성형하여 제조되는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀
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시료를 담을 수 있고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키는 다공 하판;상기 시료를 덮고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키는 다공 상판 덮개;상기 다공 상판 덮개를 미리 설정된 압력으로 누르는 로딩바;상기 다공 상판 덮개와 상기 다공 하판 사이의 측방향에 배치되어 상기 시료가 담겨진 공간을 밀폐시키고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 압밀링;지표면과 수직인 방향으로 상기 압밀링을 관통하여 상기 압밀링을 상기 다공 하판에 고정시키는 지지대;상기 다공 압밀링의 외측과 내측 사이를 관통하고, 서로 마주보는 형태로 배치되고, 지반의 이방성 측정을 위해 떨림 방향이 서로 다르게 배치되어 상기 시료를 통과하는 탄성파의 속도를 측정하는 복수의 트랜스듀서; 및상기 다공 하판과 상기 다공 상판 덮개 사이의 거리를 측정하는 거리 측정부를 포함하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀을 이용하는 압밀 시험 장치
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제 8 항에 있어서,상기 복수의 트랜스듀서는한쌍의 압전판 사이에 강판을 적층한 구조로서, 상기 한쌍의 압전판에 서로 다른 전극을 인가하면, 상기 한쌍의 압전판 사이의 전압차에 해당하는 파장을 갖는 입력파를 전파시키는 소자인 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀을 이용하는 압밀 시험 장치
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제 9 항에 있어서,상기 복수의 트랜스듀서는상기 입력파에 따른 상기 시료 입자의 운동방향이 서로 다르도록 지면에 수직인 방향이 상기 강판과 이루는 각이 서로 다르게 배치되는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀을 이용하는 압밀 시험 장치
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제 8 항에 있어서,사용자 입력에 따라, 상기 복수의 트랜스듀서 중 입력파를 전파시키는 트랜스듀서를 선택하고, 정현파, 구형파 또는 임펄스 중 어느 하나의 입력파 생성을 위한 제어 신호를 생성하는 제어부; 및상기 제어 신호에 따라 정현파, 구형파 또는 임펄스 중 어느 하나의 입력파를 생성하는 신호 발생부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀을 이용하는 압밀 시험 장치
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제 8 항에 있어서,상기 복수의 트랜스듀서에 의해 수신된 탄성파로부터 노이즈를 제거하는 필터; 및상기 노이즈를 제거한 신호로부터 소정의 연산식을 이용하여 탄성파의 속도를 연산하고, 연산 결과를 출력하는 속도 연산부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이방 특성 파악을 위한 압밀셀을 이용하는 압밀 시험 장치
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