1 |
1
고속중성자빔에 의해 미세섬광섬유에서 발생한 중성자 유발전류를 생성하는 센서유닛;
상기 중성자 유발전류를 검출데이터로 변환하는 데이터변환부로 구성되는 라인검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|
2 |
2
제 1항에 있어서,
상기 센서유닛은,
다수의 미세섬광섬유 다발로 이루어지는 미세섬광섬유부;
상기 미세섬광섬유부에서 발생한 양성자 섬광(scintillation light)에 의해 광전자를 발생시키는 실리콘 광다이오드부; 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|
3 |
3
제 2항에 있어서,
상기 라인검출기는 라인스캔방식으로 이차원 중성자 빔의 프로파일을 측정하는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|
4 |
4
제 2항에 있어서,
상기 라인검출기는 데이터변환부에 의해 검출된 데이터를 저장매체로 전송하는 통신부를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|
5 |
5
제 4항에 있어서,
상기 통신부는 상기 검출된 데이터를 실시간으로 이더넷(ethernet) 통신을 통해 저장매체로 전송하는 방식으로 구동되는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유검출기
|
6 |
6
제 4항에 있어서,
상기 데이터변환부는,
상기 라인검출기에서 발생한 중성자유발전류를 전류적분방식(current interation mode)에 의해 스캔 시간의 함수로서 데이터화하는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|
7 |
7
제 6항에 있어서,
상기 데이터변환부는,
상기 센서유닛에서 유발된 중성자 유발전류를 증폭하는 전치증폭기;
증폭된 중성자유발전류를 직류신호로 변환하는 AD변환기; 및
FPGA(field programmable gate array, 현장 프로그래머블 게이트 어레이)와 데이터버퍼를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|
8 |
8
제 1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 라인검출기는 라인스캔방식으로 대상체를 검출하되,
상기 대상체의 상하좌우 방향으로 상기 라인검출기를 구동시키는 이동유닛을 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고속중성자 빔 프로파일 측정 섬광섬유 검출기
|