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조사되는 엑스레이에 의해 가스가 이온화되는 전하를 생성하는 단계;상기 가스에 전기장을 인가하는 단계;상기 가스로부터 생성된 전하를 수집하는 단계;상기 전기장의 인가시점으로부터 상기 전하가 수집되기 시작하는 시점 사이의 시간을 측정하는 단계; 및상기 측정된 시간을 기반으로 엑스레이 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 엑스레이 검출방법
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제 1항에 있어서,상기 엑스레이가 조사되기 이전에 상기 가스의 이온화 상태를 초기화하는 단계를 더 포함하는 엑스레이 검출방법
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제 1항에 있어서,상기 전기장의 인가시점으로부터 상기 전하가 수집되기 시작하는 시점 사이의 시간을 상기 조사된 엑스레이에 대한 정보로 변환하는 단계를 더 포함하는 엑스레이 검출방법
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제 3항에 있어서,상기 엑스레이에 대한 정보는 디지털 정보인 엑스레이 검출방법
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제 1항에 있어서,상기 가스에 상기 전기장을 인가하는 단계에서 상기 가스에 인가되는 상기 전기장의 방향을 한 번 이상 변경하는 엑스레이 검출방법
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다수의 픽셀을 포함하는 엑스레이 검출기가 엑스레이를 검출하는 방법에 있어서,상기 다수의 픽셀에 상기 엑스레이를 조사하여 전하를 생성하는 단계;상기 조사된 엑스레이를 검출하기 위해 상기 다수의 픽셀 내부에 전기장을 인가하는 단계;상기 조사된 엑스레이를 검출하기 위해 상기 다수의 픽셀에 생성된 상기 전하를 수집하는 단계;상기 다수의 픽셀 내부에 전기장을 인가하는 시점부터 상기 다수의 픽셀에 생성된 상기 전하가 수집되기 시작하는 시점 사이의 시간을 측정하는 단계; 및상기 측정된 시간을 기반으로 엑스레이 이미지를 생성하는 단계를 포함하는 엑스레이 검출방법
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제 6항에 있어서,상기 엑스레이가 상기 다수의 픽셀에 조사되기 이전에 상기 다수의 픽셀을 초기화하는 단계를 더 포함하는 엑스레이 검출방법
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제 6항에 있어서,상기 다수의 픽셀에 전기장을 인가하는 시점으로부터 상기 다수의 픽셀에 생성된 전하가 수집되기 시작하는 시점 사이의 시간을 디지털 정보로 변환하는 단계를 더 포함하는 엑스레이 검출방법
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제 6항에 있어서,상기 조사된 엑스레이를 검출하기 위해 상기 다수의 픽셀 내부에 전기장을 인가하는 단계에서 상기 전기장의 방향을 한 번 이상 변경하는 엑스레이 검출방법
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가스층을 포함하는 픽셀;상기 가스층에 전기장을 생성하기 위한 2이상의 전극;상기 전극에 수집되는 전하를 감지하기 위한 검출부; 및상기 2이상의 전극에 의한 전기장 생성시점으로부터 상기 검출부가 상기 전하를 감지하는 시점까지의 시간을 측정하는 계측부를 포함하되 상기 계측부에서 측정된 시간은 엑스레이 이미지 생성의 기반이 되는 엑스레이 검출기
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제 10항에 있어서,상기 2이상의 전극은,상기 픽셀에 엑스레이가 조사되기 이전에는 상기 픽셀을 초기화하기 위한 전기장을 생성하고,상기 픽셀에 엑스레이가 조사된 이후에는 상기 전하를 수집하기 위한 전기장을 생성하는 엑스레이 검출기
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제 11항에 있어서,상기 픽셀에 엑스레이가 조사된 이후에 상기 2이상의 전극에 의해 상기 픽셀 내부에 생성되는 전기장은 한 번 이상 방향이 변경되는 엑스레이 검출기
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제 10항에 있어서,상기 픽셀은 상기 엑스레이를 흡수하여 전자나 자외선을 방출하는 변환층을 포함하는 엑스레이 검출기
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제 10항에 있어서,상기 계측부에 의해 측정된 시간을 디지털 정보로 변환하는 변환부를 더 포함하는 엑스레이 검출기
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