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비파괴 검사 장치

  • 기술번호 : KST2015132423
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비파괴 검사 장치에 관한 것으로, 방사선 선원을 통해 검사 대상물에 방사선을 조사한 후, 검사 대상물을 투과한 방사선을 검출하여 영상 정보를 수집하고, 방사선과 상호 작용하여 검사 대상물로부터 방출되는 물질 고유의 에너지 스펙트럼을 검출하여 성분 정보를 수집하며, 영상 정보와 성분 정보를 조합하여 검사 대상물의 성분 정보가 영상 정보 상에 3차원적으로 표시되는 형태의 물질 분석 정보를 얻을 수 있고, 검사 대상물에 대한 물질 분석 정보를 시간에 따라 변화하는 상태로 산출함으로써, 검사 대상물에 대한 3차원 영상 정보, 성분 정보 및 시간 변화 상태를 포함하는 5가지 다른 차원의 정보를 얻을 수 있는 비파괴 검사 장치를 제공한다.
Int. CL G01N 23/04 (2006.01)
CPC G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01) G01N 23/043(2013.01)
출원번호/일자 1020120125584 (2012.11.07)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0059012 (2014.05.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.02.03)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이원호 대한민국 서울 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 홍동우 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, * 층 (역삼동, 혜천빌딩)(지혜안국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.11.07 수리 (Accepted) 1-1-2012-0915726-41
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.11.16 수리 (Accepted) 1-1-2012-0946639-93
3 보정요구서
Request for Amendment
2012.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0138317-15
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2012.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2012-0961670-06
5 직권수리안내서
Notification of Ex officio Acceptance
2012.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0141027-40
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
8 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.02.03 수리 (Accepted) 1-1-2016-0116822-01
9 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.09.20 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
10 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.12.20 수리 (Accepted) 9-1-2016-0051848-83
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.01.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0007494-75
12 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2017-0217474-30
13 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2017-0325972-11
14 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.05.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0433860-62
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.05.04 수리 (Accepted) 1-1-2017-0433859-15
16 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.05.04 무효 (Invalidation) 1-1-2017-0433858-70
17 보정요구서
Request for Amendment
2017.05.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0065905-34
18 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.06.05 수리 (Accepted) 1-1-2017-0536184-43
19 [지정기간단축]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Reduction of Designated Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2017.06.05 수리 (Accepted) 1-1-2017-0536185-99
20 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation
2017.06.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0077391-92
21 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0571986-55
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
방사선을 발생시켜 검사 대상물에 조사하는 방사선 선원;상기 방사선 선원으로부터 상기 검사 대상물을 투과하여 방출되는 방사선을 검출하여 상기 검사 대상물에 대한 영상 정보를 수집하는 영상 검출부와, 상기 검사 대상물로부터 방출되는 에너지 스펙트럼을 검출하여 상기 검사 대상물에 대한 성분 정보를 수집하는 성분 검출부를 포함하는 방사선 검출 유닛; 및상기 방사선 검출 유닛에 의해 검출된 검출 결과를 연산 처리하여 상기 검사 대상물의 영상 정보에 성분 정보가 표시된 상태로 물질 분석 정보를 산출하는 정보 산출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 방사선 검출 유닛은 상기 영상 검출부와 상기 성분 검출부가 다수개의 검출 플레이트에 장착되고, 다수개의 상기 검출 플레이트는 상기 검사 대상물을 감싸는 형태로 일정 각도를 이루도록 배치되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
3 3
제 2 항에 있어서,상기 영상 검출부와 성분 검출부는 각각의 상기 검출 플레이트에 동시에 장착되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
4 4
제 2 항에 있어서,상기 영상 검출부와 성분 검출부는 다수개의 상기 검출 플레이트 중 각각 서로 다른 검출 플레이트에 독립적으로 장착되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
5 5
제 2 항에 있어서,상기 검출 플레이트는 링 형태를 이루거나 또는 구 형태를 이루며 상기 검사 대상물을 감싸도록 형성되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
6 6
제 2 항에 있어서,상기 검출 플레이트는 별도의 검출 이송부에 의해 배치 각도가 변경될 수 있도록 이동 가능하게 구비되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
7 7
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 정보 산출부는 상기 성분 검출부를 통해 검출된 에너지 스펙트럼을 상기 영상 검출부를 통해 수집된 영상 정보를 이용하여 보정한 후 상기 물질 분석 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
8 8
제 7 항에 있어서,상기 방사선 검출 유닛은 일정 시간 동안 계속해서 작동하고,상기 정보 산출부는 상기 검사 대상물에 대한 물질 분석 정보를 시간에 따라 변화하는 상태로 산출하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
9 9
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 방사선 선원으로부터 발생된 방사선이 상기 검사 대상물에 다양한 각도로 조사되도록 상기 검사 대상물 또는 방사선 선원을 이동시키는 이동 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
10 10
제 9 항에 있어서,상기 이동 유닛은상기 검사 대상물 또는 방사선 선원을 직선 이동시키거나 또는 회전 이동시키는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
11 11
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 정보 산출부에 의해 산출된 물질 분석 정보를 출력하는 정보 출력부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
12 12
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 방사선 검출 유닛은 상기 영상 검출부 및/또는 성분 검출부로부터 검출된 신호들로부터 겹쳐진 스펙트럼 정보를 분리시켜 겹쳐진 영상 신호의 중첩을 방지하는 스펙트럼 디스크리미네이터를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
13 13
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 방사선 검출 유닛은 상기 방사선 선원의 작동 상태와 연동하여 작동하는 것을 특징으로 하는 비파괴 검사 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 보건과학대학학사지원부 고려대학교 산학협력단 원자력연구개발사업 새로운 방사선 검출 방식:민감형 컬리메이터