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저밀도 패리티 검사 부호용 장치

  • 기술번호 : KST2015132441
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 체크 노드의 연산 수행 결과를 복수의 블록 열에 대한 가변 노드 연산에서 공유함으로써 지연 시간을 절감할 수 있고, 메모리 읽기 동작의 횟수를 경감할 수 있는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치를 제공한다.본원의 제1 발명에 따른 저밀도 패리티 검사 부호용 장치는, 체크 노드 유닛, 가변 노드 유닛, 제어 유닛 및 메모리를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치에 있어서, 상기 가변 노드 유닛이 상기 메모리 내 체크 노드 결과값을 읽어들여 가상의 복수의 블록 열에 대하여 가변 노드 연산을 동시에 수행할 때, 상기 메모리 내 하나의 뱅크에서 서로 다른 어드레스의 데이터를 동시에 읽는 경우, 상기 제어 유닛은 상기 서로 다른 어드레스 중 어느 하나를 소정 간격 쉬프트 시켜 상기 서로 다른 어드레스를 상호 일치시킨다.
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC H03M 13/11(2013.01) H03M 13/11(2013.01) H03M 13/11(2013.01) H03M 13/11(2013.01)
출원번호/일자 1020120024917 (2012.03.12)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0103910 (2013.09.25) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.02.07)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박종선 대한민국 서울 서대문구
2 윤지환 대한민국 서울 강북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 이노 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 ***, *층 (서초동, 신한국빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 경기도 이천시
2 고려대학교 산학협력단 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.03.12 수리 (Accepted) 1-1-2012-0196551-37
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.06 수리 (Accepted) 4-1-2012-5073964-60
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2012-5270171-92
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2015-5055330-26
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0127860-17
8 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.10.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
9 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.01.09 수리 (Accepted) 9-1-2018-0000615-47
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.01.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0024506-13
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.01.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0106237-91
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.01.30 수리 (Accepted) 1-1-2018-0106236-45
13 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2018.02.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0125396-78
14 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.02.23 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2018-0190939-26
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2018-0190938-81
16 등록결정서
Decision to grant
2018.03.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0146971-58
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
체크 노드 유닛, 가변 노드 유닛, 제어 유닛 및 메모리를 포함하고, 상기 메모리는 복수의 뱅크로 이루어진 저밀도 패리티 검사 부호용 장치에 있어서,상기 메모리 내 상기 복수의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크 - 상기 뱅크는 다수의 블록열을 포함하고, 상기 블록열 각각은 다수의 어드레스를 저장함 - 에서 상기 다수의 블록열 중 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스의 데이터와, 상기 다수의 블록열 중 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스의 데이터를 동시에 읽는 경우, 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스가 상기 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스와 불일치하면, 상기 제어 유닛은 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스가 상기 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스와 상호 일치하도록 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스를 소정 간격 쉬프트 시키고, 이후 상기 가변 노드 유닛이 상기 메모리 내 체크 노드 결과값을 읽어들여 가변 노드 연산을 동시에 수행하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
2 2
복수의 뱅크로 이루어진 메모리를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치에 있어서,저밀도 패리티 검사 부호에 의해 부호화된 신호가 전송됨에 따라, 상기 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 검사 행렬에 포함된 가변 노드를 초기화시키는 초기화부;각 체크 노드에 연결된 모든 다른 가변 노드로부터의 정보를 바탕으로 가변 노드의 신뢰를 갱신하는 체크 노드 유닛;상기 가변 노드의 연산을 수행하는 가변 노드 유닛;상기 가변 노드 유닛이 연산한 결과값의 부호를 이용하여 상기 결과값의 부호에 따라 이진으로 판정하는 판정 유닛; 및상기 복수의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크 - 상기 뱅크는 다수의 블록열을 포함하고, 상기 블록열 각각은 다수의 어드레스를 저장함 - 에서 상기 다수의 블록열 중 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스의 데이터와, 상기 다수의 블록열 중 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스의 데이터를 동시에 읽는 경우, 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스가 상기 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스와 불일치하면, 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스가 상기 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스와 상호 일치하도록 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스를 소정 간격 쉬프트 시키는 제어 유닛을 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
3 3
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제어 유닛은,상기 가변 노드 유닛과 상기 메모리를 연결하는 네트웍; 및상기 다수의 블록열 중 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스의 데이터와, 상기 다수의 블록열 중 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스의 데이터를 동시에 읽는 경우, 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스가 상기 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스와 불일치하면, 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스가 상기 다른 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스와 상호 일치하도록 상기 어느 하나의 블록열 내 어느 하나의 어드레스를 소정 간격 쉬프트 시키는 서브 컨트롤러를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
4 4
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제어 유닛은,상기 복수의 뱅크 중 상기 어느 하나의 뱅크를 제외한 나머지 뱅크 내 다수의 어드레스를 상기 소정 간격 쉬프트 시키는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
5 5
제3항에 있어서, 상기 복수의 뱅크 중 상기 어느 하나의 뱅크를 제외한 나머지 뱅크에서의 어드레스 간에는 충돌이 없는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
6 6
체크 노드 유닛, 가변 노드 유닛, 제어 유닛 및 메모리를 포함하고, 상기 메모리는 복수의 뱅크로 이루어진 저밀도 패리티 검사 부호용 장치에 있어서,상기 복수의 뱅크 - 상기 복수의 뱅크는 각각 다수의 블록열을 포함하고, 상기 다수의 블록열은 각각 다수의 어드레스를 저장함 - 에서 상기 복수의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스의 데이터와, 상기 복수의 뱅크 중 다른 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스의 데이터를 동시에 읽는 경우, 상기 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스와, 상기 다른 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스가 불일치하면, 상기 제어 유닛은 상기 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스와, 상기 다른 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스가 상호 일치하도록 상기 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스를 소정 간격 쉬프트 시키고, 이후 상기 가변 노드 유닛이 상기 메모리 내 체크 노드 결과값을 읽어들여 가변 노드 연산을 동시에 수행하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
7 7
복수의 뱅크로 이루어진 메모리를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치에 있어서,저밀도 패리티 검사 부호에 의해 부호화된 신호가 전송됨에 따라, 상기 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 검사 행렬에 포함된 가변 노드를 초기화시키는 초기화부;각 체크 노드에 연결된 모든 다른 가변 노드로부터의 정보를 바탕으로 가변 노드의 신뢰를 갱신하는 체크 노드 유닛;상기 가변 노드의 연산을 수행하는 가변 노드 유닛;상기 가변 노드 유닛이 연산한 결과값의 부호를 이용하여 상기 결과값의 부호에 따라 이진으로 판정하는 판정 유닛; 및상기 복수의 뱅크 - 상기 복수의 뱅크는 각각 다수의 블록열을 포함하고, 상기 다수의 블록열은 각각 다수의 어드레스를 저장함 - 에서 상기 복수의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스의 데이터와, 상기 복수의 뱅크 중 다른 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스의 데이터를 동시에 읽는 경우, 상기 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스와, 상기 다른 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스가 불일치하면, 상기 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스와, 상기 다른 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스가 상호 일치하도록 상기 어느 하나의 뱅크 내 어느 하나의 블록열에 속한 어느 하나의 어드레스를 소정 간격 쉬프트 시키는 제어 유닛을 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
8 8
제6항 또는 제7항에 있어서,상기 제어 유닛은,상기 가변 노드 유닛과 상기 메모리를 연결하는 네트웍;상기 복수의 뱅크 중 어느 하나의 뱅크를 제외한 나머지 뱅크에 대하여 상기 쉬프트 후 불일치하는 어드레스 차이를 보상하기 위한 레지스터 어레이; 및상기 레지스터 어레이의 갱신되는 데이터를 가변 노드 유닛에 공급하는 서브 컨트롤러를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
9 9
제8항에 있어서,상기 서브 컨트롤러는, 상기 메모리 내 해당 어드레스의 데이터를 읽어들여 상기 레지스터 어레이 내 최후 데이터를 갱신하고, 상기 레지스터 어레이 내 최선 데이터를 상기 가변 노드 유닛으로 출력하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호용 장치
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