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시료를 담을 수 있고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 하판;상기 시료를 덮고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 상판 덮개;상기 상판 덮개와 상기 하판 사이의 측방향에 배치되어 상기 시료가 담겨진 공간을 밀폐시키고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키며, 시료교란을 최소화 하는 UD 샘플 크기로 제작되고, 상기 시료와 접촉하는 표면에 상기 상판 덮개의 하강 정도를 측정할 수 있는 음각의 눈금이 새겨진 다공성 압밀링; 및상기 다공성 압밀링을 관통하여 상기 다공성 압밀링을 상기 하판에 고정시키는 지지대를 포함하는 횡배수용 압밀셀
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제 1 항에 있어서,상기 다공성 압밀링은소정의 다공 금속으로 제조된 것을 특징으로 하는 횡배수용 압밀셀
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제 1 항에 있어서,상기 상판 덮개는황동판을 성형하여 제조되는 것을 특징으로 하는 횡배수용 압밀셀
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시료를 담을 수 있고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 하판;상기 시료를 덮고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 상판 덮개;상기 상판 덮개와 상기 하판 사이의 측방향에 배치되어 상기 시료가 담겨진 공간을 밀폐시키고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키는 다공성 압밀링;상기 다공성 압밀링의 외측과 내측 사이를 관통하고, 서로 마주보는 형태로 배치되어 상기 시료를 통과하는 탄성파의 속도를 측정하는 복수의 트랜스듀서; 및상기 다공성 압밀링을 관통하여 상기 다공성 압밀링을 상기 하판에 고정시키는 지지대를 포함하는 탄성파 측정을 병행하는 횡배수용 압밀셀
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제 6 항에 있어서,상기 다공성 압밀링은소정의 다공 금속으로 제조된 것을 특징으로 하는 탄성파 측정을 병행하는 횡배수용 압밀셀
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제 6 항에 있어서,상기 상판 덮개는황동판을 성형하여 제조되는 것을 특징으로 하는 탄성파 측정을 병행하는 횡배수용 압밀셀
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제 6 항에 있어서,상기 트랜스듀서는상기 다공성 압밀링에 설치된 트랜스듀서용 소켓에 고무 재질의 오링(O-ring)과 함께 결합되고, 상기 트랜스듀서의 어느 한 측은 상기 시료에 접촉하고, 상기 트랜스듀서의 다른 한 측은 탄성파 측정용 회로에 연결되는 것을 특징으로 하는 탄성파 측정을 병행하는 횡배수용 압밀셀
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제 9 항에 있어서,상기 탄성파 측정용 회로는소정의 입력파를 발생시키는 신호 발생기; 및상기 시료를 통과한 입력파를 수신하여 탄성파의 속도를 측정하는 탄성파 속도 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 탄성파 측정을 병행하는 횡배수용 압밀셀
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제 6 항에 있어서,상기 트랜스듀서는 상기 다공성 압밀링에 설치된 트랜스듀서용 소켓에 고정되고, 상기 트랜스듀서와 상기 트랜스듀서용 소켓은 고무 오링(O-ring)과 함께 결합되는 것을 특징으로 하는 탄성파 측정을 병행하는 횡배수용 압밀셀
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시료를 담을 수 있고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 하판;상기 시료를 덮고, 상기 시료의 수분이 투수되지 않는 상판 덮개;상기 상판 덮개를 미리 설정된 압력으로 누르는 로딩바;상기 상판 덮개와 상기 하판 사이의 측방향에 배치되어 상기 시료가 담겨진 공간을 밀폐시키고, 다공판으로 구성되어 상기 시료에 포함된 수분을 배수시키며 시료교란을 최소화 하는 UD 샘플 크기로 제작된 다공성 압밀링;상기 다공성 압밀링을 관통하여 상기 다공성 압밀링을 상기 하판에 고정시키는 지지대; 및상기 하판과 상기 상판 덮개 사이의 거리를 측정하는 거리 측정부를 포함하는 횡배수용 압밀셀을 이용하는 압밀 시험 장치
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