맞춤기술찾기

이전대상기술

절연 게이트 바이폴라 트랜지스터 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015132755
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터 및 이의 제조방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 기판; 상기 기판의 상부에 에피택시 공정을 통해 형성되는 N형 드리프트영역; 상기 N형 드리프트영역의 상부에 에미터와 게이트를 포함하도록 형성되는 상부단자; 및 상기 기판의 하부에 컬렉터를 포함하도록 형성되는 하부단자; 를 포함하되, 상기 N형 드리프트영역은 내부에 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층이 형성되는 것을 특징으로 한다. 이러한 구성에 의해, 본 발명의 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터 및 이의 제조방법은 N 드리프트 영역에 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층을 삽입함에 따라, 드리프트 층의 농도를 높이는 경우, 항복전압이 감소하는 것을 방지하며, 온 상태에서의 전압강하를 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
Int. CL H01L 21/328 (2006.01) H01L 29/73 (2006.01)
CPC H01L 29/7393(2013.01) H01L 29/7393(2013.01) H01L 29/7393(2013.01) H01L 29/7393(2013.01) H01L 29/7393(2013.01)
출원번호/일자 1020110099967 (2011.09.30)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0035579 (2013.04.09) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.09.30)
심사청구항수 4

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성만영 대한민국 서울 중랑구
2 오주현 대한민국 서울특별시 도봉구
3 이현웅 대한민국 제주특별자치도 제주

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2011-0767670-65
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.07.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.08.22 수리 (Accepted) 9-1-2012-0066953-71
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0058574-65
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2013-0268085-18
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2013-0370047-10
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.05.28 수리 (Accepted) 1-1-2013-0472970-96
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.05.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0472973-22
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2013.10.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0715403-55
10 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Extension of Legal Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2013.11.15 수리 (Accepted) 7-1-2013-0044687-92
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터에 있어서,기판의 상부에 형성되는 N형 드리프트 영역 내 적어도 하나의 플로팅 아일랜드(Floating Island) 구조를 갖는 P층이 형성되는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
2 2
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터에 있어서,기판;상기 기판의 상부에 에피택시 공정을 통해 형성되는 N형 드리프트영역;상기 N형 드리프트영역의 상부에 에미터와 게이트를 포함하도록 형성되는 상부단자; 및상기 기판의 하부에 컬렉터를 포함하도록 형성되는 하부단자;를 포함하되,상기 N형 드리프트영역은 내부에 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층이 형성되는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
3 3
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터에 있어서,상부에 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층이 형성되는 기판;상기 기판의 상부에 에피택시 공정을 통해 형성되는 N형 드리프트영역;상기 N형 드리프트영역의 상부에 에미터와 게이트를 포함하도록 형성되는 상부단자; 및상기 기판의 하부를 CMP공정을 통해 연마한 후, 연마된 상기 기판의 하부에 컬렉터를 포함하도록 형성되는 하부단자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
4 4
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터에 있어서,적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층이 상부에 형성되는 제1기판;상기 제1기판의 상부에 웨이퍼본딩되는 제2기판;상기 제2기판의 상부를 CMP(Chemical Mechanical Polishing)공정을 통해 연마한 후, 연마된 상기 제2기판의 상부에 에미터와 게이트를 포함하도록 형성되는 상부단자; 및상기 제1기판의 하부를 CMP공정을 통해 연마한 후, 연마된 상기 제1기판의 하부에 컬렉터를 포함하도록 형성되는 하부단자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
5 5
제4항에 있어서,상기 제1기판 및 제2기판은 동일한 도핑농도를 갖는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
6 6
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법에 있어서,기판을 준비하는 기판준비단계;상기 기판의 상부에 에피택시 공정을 통해 N형 드리프트영역을 성장하는 성장단계;상기 N형 드리프트영역의 상부에 리소그래피 공정을 통해 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층을 형성하는 FLI형성단계;상기 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층이 형성된 N형 드리프트영역의 상부로 에피택시 공정을 통해 N형 드리프트영역을 재성장하는 재성장단계; 및재성장된 N형 드리프트영역의 상부로 에미터와 게이트를 포함하는 상부단자 및 상기 기판의 하부에 컬렉터를 포함하는 하부단자를 형성하는 단자형성단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
7 7
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법에 있어서,기판을 준비하는 준비단계;상기 기판의 상부에 리소그래피 공정을 통해 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층을 형성하는 FLI형성단계;상기 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층이 형성된 상기 기판의 상부에 에피택시 공정을 통해 N형 드리프트영역을 성장하는 성장단계; 및 성장된 N형 드리프트영역의 상부로 에미터와 게이트를 포함하는 상부단자 및 상기 기판의 하부에 컬렉터를 포함하는 하부단자를 형성하는 단자형성단계;를 포함하되,상기 단자형성단계는상기 기판의 하부를 CMP공정을 통해 연마한 후, 연마된 상기 기판의 하부에 컬렉터를 포함하도록 하부단자를 형성하는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
8 8
절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법에 있어서,제1기판의 상부에 적어도 하나의 플로팅 아일랜드 구조를 갖는 P층을 형성하는 FLI형성단계;상기 제1기판의 상부에 제2기판을 웨이퍼 본딩 공정을 통해 본딩하는 웨이퍼본딩단계;상기 제2기판의 상부를 CMP(Chemical Mechanical Polishing)공정을 통해 연마한 후, 에미터와 게이트를 포함하는 상부단자를 형성하는 상부단자형성단계;상기 제1기판의 하부를 CMP공정을 통해 연마한 후, 컬렉터를 포함하는 하부단자를 형성하는 하부단자형성단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
9 9
제8항에 있어서,상기 제1기판 및 제2기판은 동일한 도핑농도를 갖는 것을 특징으로 하는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.