맞춤기술찾기

이전대상기술

기판 구조물의 형성 방법 및 투명 전극체의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015134191
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 기판 구조물의 형성 방법에 있어서, 나노 사이즈를 갖는 미세 패턴이 형성된 투명 기판 상에 용매를 포함하는 에스오지(SOG)층을 형성하고, 상기 에스오지층에 대하여 상기 용매가 투과 가능한 몰드로 가압하여, 상기 투명 기판 상에 평탄화층을 형성한 후, 상기 몰드를 상기 평탄화층으로부터 분리하여 상기 나노 사이즈를 갖는 미세 패턴이 형성된 투명 기판 상에 평탄화층이 형성된다.
Int. CL H01L 31/18 (2006.01) H01L 31/0224 (2006.01) H01B 13/00 (2006.01) H01L 31/042 (2006.01)
CPC H01L 31/1884(2013.01)
출원번호/일자 1020120049242 (2012.05.09)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0125597 (2013.11.19) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.09)
심사청구항수 9

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이헌 대한민국 서울 서초구
2 한강수 대한민국 서울 도봉구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이동건 대한민국 서울특별시 강남구 논현로***길 *, *층 ***호 (논현동)(차암특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.05.09 수리 (Accepted) 1-1-2012-0371248-13
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.06.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.07.09 수리 (Accepted) 9-1-2013-0053873-57
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.08.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0566271-63
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2013.10.21 수리 (Accepted) 1-1-2013-0949337-69
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.01.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0069280-39
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
나노 사이즈를 갖는 미세 패턴이 형성된 투명 기판 상에 용매를 포함하는 에스오지(SOG)층을 형성하는 단계;상기 에스오지층에 대하여 상기 용매가 투과 가능한 몰드로 가압하여, 상기 투명 기판 상에 평탄화층을 형성하는 단계; 및상기 몰드를 상기 평탄화층으로부터 분리하는 단계를 포함하는 기판 구조물의 형성 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 에지오지층은 실록산(siloxane), 메틸 실세퀴옥산 (methylsilsequioxane(MSQ)), 하이드로겐 실세퀴옥산(hydrogen silsequioxane(HSQ)), 퍼하이드로폴리실라잔(perhydropolysilazane ((SiH2NH)n)), 폴리실라잔(polysilazane), 디비닐 실록산 비스벤조클로로부탄(divinyl siloxane bis-benzocyclobutane), 페르프루오로사이클로부탄(perfluorocyclobutane; PFCB), SiLKMTM 제품 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 것을 용질로 하는 용액을 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 기판 구조물의 형성 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 에지오지층은 상기 투명 기판보다 높은 굴절율을 갖는 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 기판 구조물의 형성 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 에스오지층에 대하여 상기 용매를 투과 가능한 몰드로 가압하는 단계는 1-5 기압의 압력에서 수행되는 것을 특징으로 하는 기판 구조물의 형성 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 몰드는 PDMS(polydimethylesiloxane) 또는 h-PDMS(h-polydimethylesiloxane)로 이루어진 것을 특징으로 하는 기판 구조물의 형성 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 에스오지층에 대하여 상기 용매를 투과 가능한 몰드로 가압하는 단계는 상기 용매의 끊는점 이하의 온도로 상기 에스오지층을 가열하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 구조물의 형성 방법
7 7
나노 사이즈를 갖는 미세 패턴이 형성된 투명 기판 상에 용매를 포함하는 에스오지(SOG)층을 형성하는 단계;상기 에스오지층에 대하여 상기 용매를 투과 가능한 몰드로 가압하여, 상기 투명 기판 상에 평탄화층을 형성하는 단계;상기 몰드를 상기 평탄화층으로부터 분리하는 단계; 및상기 평탄화층 상에 투명 전극을 형성하는 것을 포함하는 투명 전극체의 제조 방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 에지오지층은 실록산(siloxane), 메틸 실세퀴옥산 (methylsilsequioxane(MSQ)), 하이드로겐 실세퀴옥산(hydrogen silsequioxane(HSQ)), 퍼하이드로폴리실라잔(perhydropolysilazane ((SiH2NH)n)), 폴리실라잔(polysilazane), 디비닐 실록산 비스벤조클로로부탄(divinyl siloxane bis-benzocyclobutane), 페르프루오로사이클로부탄(perfluorocyclobutane; PFCB), SiLKMTM 제품 및 이들의 혼합물로 이루어진 군에서 선택되는 것을 용질로 하는 용액을 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 투명 전극체의 제조 방법
9 9
제7항에 있어서, 상기 에지오지층은 상기 투명 기판보다 높고 상기 투명 전극보다 낮은 굴절율을 갖는 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 투명 전극체의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.