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분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터 및그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015134231
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터 및 그 제조방법이 개시된다.본 발명은 실리콘의 전면층에 불순물을 주입하여 생성된 캐소드 영역, 상기 실리콘의 전면층에서 상기 캐소드 영역에 접하여 게이트 절연물질 및 게이트 도전체로 형성된 게이트, 상기 실리콘의 후면층에 복수의 트렌치가 형성되고, 상기 형성된 트렌치에 채워진 절연물질에 의해 복수의 영역으로 분할된 분할형 애노드 영역 및 상기 캐소드 영역 및 상기 분할형 애노드 영역 사이의 캐리어를 전달하는 드리프트 영역을 포함한다.본 발명에 의하면, 절연 물질에 의해 분할된 애노드 영역을 구비함으로써, 별도로 정공을 제거하지 않고도 트랜지스터의 스위칭 속도를 향상시키고, 온 상태의 저항을 감소시킬 수 있다.
Int. CL H01L 29/73 (2006.01)
CPC H01L 29/0834(2013.01) H01L 29/0834(2013.01) H01L 29/0834(2013.01)
출원번호/일자 1020060108944 (2006.11.06)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0776827-0000 (2007.11.08)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20071119) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.11.06)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 성만영 대한민국 서울 중랑구
2 이한신 대한민국 경기 용인시 기흥구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 현종철 대한민국 서울특별시 중구 다산로 **, *층 특허법인충현 (신당동, 두지빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성만영 서울시 중랑구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2006-0811076-69
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.03.22 수리 (Accepted) 4-1-2007-5043540-16
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.09.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.10.12 수리 (Accepted) 9-1-2007-0058825-30
5 등록결정서
Decision to grant
2007.10.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0562758-06
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5034712-96
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.06.09 수리 (Accepted) 4-1-2009-5111177-32
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실리콘의 전면층에 불순물을 주입하여 생성된 캐소드 영역;상기 실리콘의 전면층에서 상기 캐소드 영역에 접하여 게이트 절연물질 및 게이트 도전체로 형성된 게이트;상기 실리콘의 후면층에 복수의 트렌치가 형성되고, 상기 형성된 트렌치에 채워진 절연물질에 의해 복수의 영역으로 분할된 분할형 애노드 영역; 및상기 캐소드 영역 및 상기 분할형 애노드 영역 사이의 캐리어를 전달하는 드리프트 영역을 포함하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
2 2
제 1 항에 있어서,상기 분할형 애노드 영역은p 타입으로 도핑된 실리콘 영역을 복수개로 분할하고, 상기 분할된 p 타입으로 도핑된 실리콘 영역들 사이를 상기 절연물질로 채운 구조인 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
3 3
제 1 항에 있어서,상기 분할형 애노드 영역은p 타입으로 도핑된 실리콘 영역이 상기 드리프트 영역의 후면층에 곡면 형태로 형성되고, 상기 절연물질로 형성된 복수개의 영역이 상기 p 타입으로 도핑된 실리콘 영역에 접하는 형태로 형성된 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
4 4
제 1 항에 있어서,상기 게이트는평판형 또는 트렌치형 중 어느 하나의 형태인 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
5 5
제 1 항에 있어서,상기 절연물질은실리콘 옥사이드, 폴리 실리콘, 아말포스 실리콘, 실리콘 나이트 라이드 또는 실리콘 옥시 나이트라이드 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
6 6
제 1 항에 있어서,상기 드리프트 영역은저농도로 도핑된 n 타입의 영역이고,상기 캐소드 영역은상기 드리프트 영역에 p 타입의 베이스가 도핑되고, 상기 p 타입의 베이스에 고농도로 도핑된 n 타입의 영역이 형성된 형태인 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
7 7
실리콘의 전면층에 불순물을 주입하여 생성된 캐소드 영역;상기 실리콘의 전면층에서 상기 캐소드 영역에 접하여 게이트 절연물질 및 게이트 도전체로 형성된 게이트;상기 캐소드 영역 및 게이트와 이격된 상기 실리콘의 전면층에 복수의 트렌치가 형성되고, 상기 형성된 트렌치에 채워진 절연물질에 의해 복수의 영역으로 분할된 분할형 애노드 영역; 및상기 실리콘의 후면층에서 상기 캐소드 영역 및 상기 분할형 애노드 영역 사이의 캐리어를 전달하는 드리프트 영역을 포함하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
8 8
제 7 항에 있어서,상기 분할형 애노드 영역은p 타입으로 도핑된 실리콘 영역을 복수개로 분할하고, 상기 분할된 p 타입으로 도핑된 실리콘 영역들 사이를 상기 절연물질로 채운 구조인 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
9 9
제 7 항에 있어서,상기 드리프트 영역은저농도로 도핑된 n 타입의 영역이고,상기 캐소드 영역은상기 드리프트 영역에 p 타입의 베이스가 도핑되고, 상기 p 타입의 베이스에 고농도로 도핑된 n 타입의 영역이 형성된 형태인 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터
10 10
실리콘에 불순물을 주입하여 캐리어 전달을 위한 드리프트 영역을 형성하는 단계;상기 실리콘의 전면층에 게이트 절연물질 및 게이트 도전체를 이용하여 게이트를 형성하고, 상기 게이트에 사진 식각 공정을 적용하여 게이트 패턴을 형성하는 단계;상기 실리콘의 전면층에 불순물을 주입하여 캐소드 영역을 형성하는 단계; 및상기 실리콘의 후면층에 복수의 트렌치를 형성하고, 상기 형성된 트렌치에 절연물질을 채워 복수의 영역으로 분할한 분할형 애노드 영역을 형성하는 단계를 포함하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
11 11
제 10 항에 있어서,상기 캐소드 영역을 형성하는 단계는상기 게이트 및 상기 캐소드 영역의 상부에 층간 절연물을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
12 12
제 10 항에 있어서,상기 분할형 애노드 영역을 형성하는 단계는p 타입으로 도핑된 상기 실리콘의 후면층을 에치백하는 단계;상기 실리콘의 후면층에 사진 식각 공정을 적용하여 복수의 트렌치를 형성하는 단계;상기 형성된 트렌치에 실리콘 옥사이드, 폴리 실리콘, 아말포스 실리콘, 실리콘 나이트 라이드 또는 실리콘 옥시 나이트라이드 중 어느 하나의 절연물을 채우는 단계; 및상기 채워진 절연물을 에치백하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
13 13
제 10 항에 있어서,상기 드리프트 영역을 형성하는 단계는p 타입으로 고동도로 도핑된 실리콘의 전면층에 에피 실리콘을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 분할형 애노드를 갖는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.