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에피택셜층의 성장 방법 및 반도체 구조물

  • 기술번호 : KST2015134575
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 실시예는 표면에 요철이 형성된 기판을 준비하는 단계; 기 요철의 요부 중 일부를 비정질화하는 단계; 및 상기 기판 상에 에피택셜층을 성장시키는 단계를 포함하는 에피택셜층의 성장 방법을 제공한다.
Int. CL C30B 25/18 (2006.01.01) C30B 25/04 (2006.01.01) C30B 29/40 (2006.01.01) H01L 21/205 (2006.01.01)
CPC C30B 25/186(2013.01) C30B 25/186(2013.01) C30B 25/186(2013.01) C30B 25/186(2013.01)
출원번호/일자 1020140028784 (2014.03.12)
출원인 엘지이노텍 주식회사, 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-2185686-0000 (2020.11.26)
공개번호/일자 10-2015-0106568 (2015.09.22) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.02.22)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지이노텍 주식회사 대한민국 서울특별시 강서구
2 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 진정근 대한민국 서울특별시 중구
2 변동진 대한민국 서울특별시 강남구
3 김대식 대한민국 서울특별시 동대문구
4 이제행 대한민국 서울특별시 관악구
5 이창민 대한민국 충청남도 천안시 서북구
6 강병훈 대한민국 경기도 광주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이승찬 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **길 ** 나라빌딩, *층(케이피에이치어소시에이츠)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.12 수리 (Accepted) 1-1-2014-0237995-60
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.10.27 수리 (Accepted) 4-1-2014-0093826-77
4 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.15 수리 (Accepted) 1-1-2014-1214063-84
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.08 수리 (Accepted) 4-1-2017-5035901-08
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.18 수리 (Accepted) 4-1-2018-5136723-03
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.02.22 수리 (Accepted) 1-1-2019-0189324-78
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.01.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5011221-01
10 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
11 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.06.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0119069-94
12 [복대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Sub-agent] Report on Agent (Representative)
2020.07.10 수리 (Accepted) 1-1-2020-0721339-12
13 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.07.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0745150-31
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.08.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0580569-23
15 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.10.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1101993-00
16 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.10.19 수리 (Accepted) 1-1-2020-1101994-45
17 등록결정서
Decision to grant
2020.11.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0792813-31
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
표면에 요철이 형성된 기판을 준비하는 단계;상기 요철의 요부 중 일부를 비정질화하는 단계; 및상기 기판 상에 에피택셜층을 성장시키는 단계를 포함하는 에피택셜층의 성장 방법
2 2
제1 항에 있어서,상기 요철의 요부 중 일부를 비정질화하는 단계는,상기 기판의 표면에 마스크를 도포하는 단계와,상기 마스크의 일부를 제거하여, 상기 요철의 요부 중 일부를 노출시키는 단계와,상기 노출된 기판의 요부를 처리하여 비정질화하는 단계를 포함하여 이루어지는 에피택셜층의 성장 방법
3 3
제2 항에 있어서,상기 마스크를 도포하는 단계는,실리콘 산화물을 상기 기판의 요부와 철부를 덮도록 도포하는 에피택셜층의 성장 방법
4 4
제2 항에 있어서,상기 마스크를 제거하는 단계는,상기 기판의 철부 중 적어도 일부를 덮는 마스크를 건식 식각 방법으로 제거하는 에피택셜층의 성장 방법
5 5
제2 항에 있어서,상기 비정질화 단계는,상기 기판의 노출된 철부에 이온을 주입하여 이루어지는 에피택셜층의 성장 방법
6 6
제5 항에 있어서,상기 기판은 사파이어 기판이고, 상기 이온을 주입하는 단계는 상기 기판에 질소를 주입하는 에피택셜층의 성장 방법
7 7
제5 항에 있어서,상기 이온을 상기 기판의 철부의 표면으로부터 적어도 100 나노미터의 깊이로 주입하는 에피택셜층의 성장 방법
8 8
제5 항에 있어서,상기 이온을 1×1017개/cm3의 밀도로 주입하는 에피택셜층의 성장 방법
9 9
제5 항에 있어서,상기 이온을 상기 요철의 철부의 상부면과 수직하게 주입하는 에피택셜층의 성장 방법
10 10
제2 항에 있어서,상기 마스크를 제거하고, 상기 기판을 세정하고 건조하는 단계를 더 포함하는 에피택셜층의 성장 방법
11 11
제2 항에 있어서,상기 마스크를 도포하는 단계는,상기 에피택셜층과 동일한 조성으로 마스크를 성장시키는 에피택셜층의 성장 방법
12 12
제2 항에 있어서,실리콘 질화물 또는 실리콘 산화물로 상기 마스크를 도포하는 에피택셜층의 성장 방법
13 13
표면에 요철이 형성된 기판;상기 요철의 철부의 상부에 형성된 비정질층; 및상기 기판의 상부에 형성된 에피택셜층을 포함하는 반도체 구조물
14 14
제13 항에 있어서,상기 기판은 사파이어 기판이고, 상기 에피택셜층은 GaN층이며, 상기 비정질층은 상기 기판에 질소 이온이 주입되어 형성된 반도체 구조물
15 15
제13 항에 있어서,상기 비정질층의 두께는 100 나노미터 이상인 반도체 구조물
16 16
제13 항에 있어서,상기 비정질층 내에는 이온이 1×1017/cm3이상의 밀도로 주입된 반도체 구조물
17 17
제13 항에 있어서,상기 비정질층의 두께는 상기 요철의 철부의 상부 영역에서 가장 두꺼운 반도체 구조물
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.