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다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법 및 그 장치

  • 기술번호 : KST2015135381
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법은 임의의 공간 주파수를 갖는 광패턴을 투사기를 이용하여 3차원 물체에 투사하고, 디지털 카메라를 이용하여 물체를 촬영한다. 임의의 공간 주파수를 갖는 패턴은 물체 표면에서 깊이에 따라 상이한 굴곡과 형태를 보여주므로, 깊이에 따른 특정 굴곡과 형태를 기하학적 변수를 이용하여 물체의 형상 즉, 깊이를 측정한다.
Int. CL G01B 11/25 (2006.01.01) G01B 11/22 (2006.01.01) G01B 11/00 (2006.01.01) G01B 9/02 (2006.01.01)
CPC G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01) G01B 11/2518(2013.01)
출원번호/일자 1020100008088 (2010.01.28)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1173668-0000 (2012.08.07)
공개번호/일자 10-2011-0046222 (2011.05.04) 문서열기
공고번호/일자 (20120820) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020090102498   |   2009.10.27
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.01.28)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이병호 대한민국 서울특별시 서초구
2 김은희 대한민국 서울특별시 중랑구
3 한준구 대한민국 서울특별시 동작구
4 김 휘 대한민국 충청남도 연기군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0061582-41
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.06.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0360641-19
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.07.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0591392-49
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2011-0591391-04
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.01.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0037251-52
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.02.23 수리 (Accepted) 1-1-2012-0149691-29
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.02.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0149690-84
9 등록결정서
Decision to grant
2012.05.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0274772-75
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
3차원 물체의 깊이를 측정하는 장치에서,상기 3차원 물체로 적어도 2개 이상의 공간 주파수에 따른 패턴을 포함하는 다중 공간 주파수 패턴에 따라 해당하는 광을 투사하는 투사기;상기 광이 투사되는 3차원 물체의 영상을 촬영하고 그에 해당하는 디지털 영상 신호를 출력하는 촬영부;상기 디지털 영상 신호를 토대로 상기 물체의 깊이를 산출하는 측정부를 포함하고,상기 투사기는 상기 다중 공간 주파수 패턴을 구성하는 공간 주파수에 따른 패턴을 설정 단계별로 각각 위상을 천이시키면서 해당하는 광을 상기 3차원 물체로 투사하는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서상기 촬영부는상기 투사기로부터 상기 다중 공간 주파수 패턴에 따라 적어도 2개 이상의 공간 주파수들이 위상 천이되면서 해당하는 광이 투사된 상기 3차원 물체의 영상들을 획득하고,상기 획득한 영상들을 겹쳐서 상기 3차원 물체의 각 부분의 광의 강도가 다르게 나타난 디지털 영상 신호를 출력하는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 장치
4 4
제1항 또는 제3항에 있어서상기 측정부는 상기 디지털 영상 신호로부터, 상기 촬영부의 위치, 상기 투사기의 위치, 상기 물체에 대하여 설정된 수직 기준선을 기준으로 경사진 상기 촬영부의 시야각의 경사각, 상기 수직 기준선에 대한 투사기의 시야각의 경사각, 상기 디지털 영상 신호의 설정 지점에 해당하는 상기 촬영부의 각도, 상기 설정 지점에 해당하는 상기 투사기의 각도를 토대로, 상기 물체의 깊이를 산출하는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 장치
5 5
제4항에 있어서상기 설정 지점은 상기 디지털 영상 신호에서 광의 강도가 가장 큰 지점인, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 장치
6 6
3차원 물체의 깊이를 측정하는 방법에서,상기 3차원 물체로 적어도 2개 이상의 공간 주파수에 따른 패턴을 포함하는 다중 공간 주파수 패턴을 생성하는 단계;투사기를 이용하여, 상기 다중 공간 주파수 패턴을 구성하는 공간 주파수에 따른 패턴을 설정 단계별로 각각 위상을 천이시키면서 해당하는 광을 상기 3차원 물체로 투사하고, 촬영부를 이용하여 광을 투사할 때마다 상기 3차원 물체의 영상을 촬영하는 단계; 및상기 촬영된 영상으로부터 상기 물체의 깊이를 산출하는 단계를 포함하는 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법
7 7
제6항에 있어서상기 촬영하는 단계는, 상기 투사기로부터 상기 다중 공간 주파수 패턴에 따라 적어도 2개 이상의 공간 주파수들이 위상 천이되면서 해당하는 광이 투사된 상기 3차원 물체의 영상들을 획득하고, 상기 획득한 영상들을 겹쳐서 상기 3차원 물체의 각 부분의 광의 강도가 다르게 나타난 디지털 영상을 획득하는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법
8 8
제7항에 있어서상기 산출하는 단계는 상기 디지털 영상으로부터, 상기 촬영부의 위치, 상기 투사기의 위치, 상기 물체에 대하여 설정된 수직 기준선을 기준으로 경사진 상기 촬영부의 시야각의 경사각, 상기 수직 기준선에 대한 투사기의 시야각의 경사각, 상기 디지털 영상 신호의 설정 지점에 해당하는 상기 촬영부의 각도, 상기 설정 지점에 해당하는 상기 투사기의 각도를 토대로, 상기 물체의 깊이를 산출하는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법
9 9
제8항에 있어서상기 물체의 깊이는 다음의 조건을 토대로 산출되는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법
10 10
제6항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서상기 공간 주파수를 정의하는 함수는 푸리에 전개식의 계수를 이용하는, 다중 공간 주파수를 이용한 3차원 물체의 깊이 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.