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자기이방성상수 측정장치

  • 기술번호 : KST2015135529
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 자기이방성상수 측정장치 및 측정방법에 관한 것이다. 더욱 구체적으로, 전기저항 또는 홀 전압 측정을 통해 자성체의 자기이방성상수를 측정하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 자기이방성상수 측정장치는, 균일한 자기장을 인가하여 자기공간을 형성하는 자기장발생부, 자기공간 내에서 자성체를 일정한 축을 중심으로 회전시키는 회전부, 자성체의 자화용이축과 자성체에 인가되는 자기장의 방향이 이루는 각도인, 외부자기장의 각도()에 따라 자성체의 저항값(R)을 측정하는 데이터측정부, 및 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)을 이용하여 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 자기이방성상수 연산부를 포함한다. 본 발명에 따르면, 자기이방성상수를 측정하기 위한 데이터를 측정하는데 있어서, 외부진동과 마찰에 민감하지 않으며, 마이크로 또는 나노미터 크기의 시료까지 측정이 가능하며 시료의 원하는 부분을 선별적으로 측정할 수 있다. 자기이방성상수(magnetic anisotropy constant), 마그네토미터(magnetometer), AMR(anisotropy magneto resistance), PMA(perpendicular magnetic anisotropy)
Int. CL G01R 33/09 (2006.01.01) G01R 33/07 (2006.01.01) G01R 27/00 (2006.01.01)
CPC G01R 33/096(2013.01) G01R 33/096(2013.01) G01R 33/096(2013.01)
출원번호/일자 1020090044199 (2009.05.20)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0125144 (2010.11.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.05.20)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최석봉 대한민국 서울 관악구
2 문경웅 대한민국 서울 구로구
3 이재철 대한민국 인천 남동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성호 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동,미진빌딩 *층)(KNP 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.05.20 수리 (Accepted) 1-1-2009-0303560-33
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.01.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0042337-63
3 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.03.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0172729-17
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
수평자기이방성을 갖는 자성체의 자기이방성상수를 측정하는 장치로서, 균일한 자기장을 인가하여 자기공간을 형성하는 자기장발생부; 상기 자기공간 내에서 상기 자성체를 일정한 축을 중심으로 회전시키는 회전부; 상기 자성체의 자화용이축과 상기 자성체에 인가되는 자기장의 방향이 이루는 각도인, 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 저항값(R)을 측정하는 데이터측정부; 및 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)을 이용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 자기이방성상수 연산부 를 포함하는 자기이방성상수 측정장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 데이터측정부는, 상기 자성체의 양단의 전극과 연결되고, 상기 자성체의 양단의 전극을 통해 상기 자성체에 일정한 전류를 공급하는 전류공급부; 상기 자성체의 양단의 전극과 연결되고, 상기 자성체의 양단의 전극을 통해 상기 자성체의 전압값을 측정하되, 상기 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 전압값을 측정하는 전압측정부; 및 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 전압값을, 상기 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)으로 변환하는 데이터변환부를 포함하는, 자기이방성상수 측정장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 자기이방성상수 연산부는, 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)을 이용하여, 상기 측정된 저항값(R)과 상기 외부자기장의 각도()의 함수를, 상기 자성체의 자화용이축과 자화방향이 이루는 각도인 자화각도(θ)와 상기 외부자기장의 각도()의 함수로 변환하고, 상기 자화각도(θ)와 상기 외부자기장의 각도()의 함수를, 이론식 에 적용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하며, 상기 H는 상기 자성체 인가되는 자기장의 세기이며, 상기 M은 상기 자성체의 포화자화상수인, 자기이방성상수 측정장치
4 4
수직자기이방성을 갖는 자성체의 자기이방성상수를 측정하는 장치로서, 균일한 자기장을 인가하여 자기공간을 형성하는 자기장발생부; 상기 자기공간 내에서 상기 자성체를 일정한 축을 중심으로 회전시키는 회전부; 상기 자성체의 자화용이축과 상기 자성체에 인가되는 자기장의 방향이 이루는 각도인, 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 홀 전압값(VH)을 측정하는 데이터측정부; 및 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 홀 전압값(VH)을 이용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 자기이방성상수 연산부 를 포함하는 자기이방성상수 측정장치
5 5
제4항에 있어서, 상기 데이터측정부는, 상기 자성체의 제1 양단의 전극과 연결되고, 상기 제1 양단의 전극을 통해 상기 자성체에 일정한 전류를 공급하는 전류공급부; 및 상기 자성체의 제1 양단의 전극에 대하여 수직으로 교차하는 위치에 있는 제2 양단의 전극과 연결되고, 상기 제2 양단의 전극을 통해 상기 자성체의 홀 전압값(VH)을 측정하되, 상기 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 홀 전압값(VH)을 측정하는 전압측정부를 포함하는, 자기이방성상수 측정장치
6 6
제4항에 있어서, 상기 자기이방성상수 연산부는, 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 홀 전압값을 이용하여, 상기 측정된 홀전압(VH)과 상기 외부자기장의 각도()의 함수를, 상기 자성체의 자화용이축과 자화방향이 이루는 각도인 자화각도(θ)와 상기 외부자기장의 각도()의 함수로 변환하고, 상기 자화각도(θ)와 외부자기장의 각도()의 함수를, 이론식 에 적용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하며, 상기 H는 상기 자성체 인가되는 자기장의 세기이며, 상기 M은 상기 자성체의 포화자화상수인, 자기이방성상수 측정장치
7 7
수평자기이방성을 갖는 자성체의 자기이방성상수를 측정하는 방법에 있어서, 균일한 자기장을 인가하여 자기공간을 형성하는 자기장 인가단계; 상기 자기공간 내에서 상기 자성체를 일정한 축을 중심으로 회전시키는 회전단계; 상기 자성체의 자화용이축과 상기 자성체에 인가되는 자기장의 방향이 이루는 각도인, 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 저항값(R)을 측정하는 데이터측정단계; 및 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)을 이용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 자기이방성상수 연산단계 를 포함하는 자기이방성상수 측정방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 데이터측정단계는, 상기 자성체의 양단의 전극을 통해 상기 자성체에 일정한 전류를 공급하는 전류공급단계; 상기 자성체의 양단의 전극을 통해 상기 자성체의 전압을 측정하되, 상기 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 전압값을 측정하는 전압측정단계; 및 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 전압값을 상기 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)으로 변환하는 데이터변환단계를 포함하는, 자기이방성상수 측정방법
9 9
제7항에 있어서, 상기 자기이방성상수 연산단계는, 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 저항값(R)을 이용하여, 상기 측정된 저항값(R)과 상기 외부자기장의 각도()의 함수를, 상기 자성체의 자화용이축과 자화방향이 이루는 각도인 자화각도(θ)와 상기 외부자기장의 각도()의 함수로 변환하는 변환단계; 및 상기 자화각도(θ)와 외부자기장의 각도()의 함수를, 이론식 에 적용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 연산단계를 포함하고, 상기 H는 상기 자성체 인가되는 자기장의 세기이며, 상기 M은 상기 자성체의 포화자화상수인, 자기이방성상수 측정방법
10 10
수직자기이방성을 갖는 자성체의 자기이방성상수를 측정하는 방법에 있어서, 균일한 자기장을 인가하여 자기공간을 형성하는 자기장 인가단계; 상기 자기공간 내에서 상기 자성체를 일정한 축을 중심으로 회전시키는 회전단계; 상기 자성체의 자화용이축과 상기 자성체에 인가되는 자기장의 방향이 이루는 각도인, 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 홀 전압값(VH)을 측정하는 데이터측정단계; 및 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 홀 전압값(VH)을 이용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 자기이방성상수 연산단계 를 포함하는 자기이방성상수 측정방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 데이터측정단계는, 상기 자성체의 제1 양단의 전극을 통해 상기 자성체에 일정한 전류를 공급하는 전류공급단계; 및 상기 자성체의 제1 양단의 전극에 대하여 수직으로 교차하는 위치에 있는 제2 양단의 전극을 통해 상기 자성체의 홀 전압값(VH)을 측정하되, 상기 외부자기장의 각도()에 따라 상기 자성체의 홀 전압값(VH)을 측정하는 전압측정단계를 포함하는, 자기이방성상수 측정방법
12 12
제10항에 있어서, 상기 자기이방성상수 연산단계는, 상기 측정된 외부자기장의 각도()에 따른 홀 전압값을 이용하여, 상기 측정된 홀전압(VH)과 상기 외부자기장의 각도()의 함수를, 상기 자성체의 자화용이축과 자화방향이 이루는 각도인 자화각도(θ)와 상기 외부자기장의 각도()의 함수로 변환하는 변환단계; 및 상기 자화각도(θ)와 외부자기장의 각도()의 함수를, 이론식 에 적용하여 상기 자성체의 자기이방성상수(K)를 연산하는 연산단계를 포함하고, 상기 H는 상기 자성체 인가되는 자기장의 세기이며, 상기 M은, 상기 자성체의 포화자화상수인, 자기이방성상수 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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1 교육과학기술부 서울대학교 국가지정연구실사업 차세대 3차원-적층 소자를 위한 나노선폭 자구벽 기술