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MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법으로서,매트릭스 및 시료를 포함하는 시편에 에너지를 가하여 형성되는 이온들을 검출기에서 검출함으로써 복수의 질량 스펙트럼을 획득하는 단계;상기 복수의 질량 스펙트럼 중에서, 상기 검출기에서 검출된 전체 이온 개수가 미리 설정된 범위 내인 스펙트럼들을 이용하여 상기 시료를 정량 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는,MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제1항에 있어서, 상기 시편에 에너지를 가하는 수단이 레이저인 것을 특징으로 하는, MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제2항에 있어서, 상기 레이저가 질소 레이저 또는 Nd:YAG 레이저인 것을 특징으로 하는, MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제3항에 있어서, 상기 레이저를 시편에 조사함에 있어서 한 지점에 복수 회 조사하는 것을 특징으로 하는, MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제3항에 있어서, 상기 레이저를 시편에 조사함에 있어서 복수의 지점에 조사하는 것을 특징으로 하는, MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제 1항에 있어서,상기 시료를 정량 분석하는 단계는 상기 매트릭스와 상기 시료 간의 양성자 교환 반응의 평형상수를 이용하여 수행되며,상기 평형상수는, 미리 설정된 양의 시료 및 미리 설정된 양의 매트릭스를 포함하는 기준 시편의 MALDI 질량 스펙트럼들에서 시료 이온 신호 세기를 매트릭스 이온 신호 세기로 나눈 값(이온 신호 비율)을 측정하는 단계; 및상기 이온 신호 비율을, 상기 기준 시편의 시료 농도를 매트릭스 농도로 나눈 값(농도 비율)으로 나누는 단계에 의하여 산출되는 것을 특징으로 하는, MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제 6항에 있어서,상기 시료를 정량 분석하는 단계는,상기 시편의 시료의 몰농도를 [A]라 하고, 상기 시편의 매트릭스의 몰농도를 [M]이라 하며, 상기 전체 이온 개수가 미리 설정된 범위 내인 스펙트럼들에서 측정된 이온 신호 비율을 IAH+/IMH+라 하고, 상기 평형상수를 K라 할 경우, 하기 수학식에 의하여 상기 시료의 몰농도를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는,[A] = (IAH+/IMH+)[M]/K (7)MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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제1항에 있어서, 상기 매트릭스는 CHCA(α-cyano-4-hydroxycinnamic acid), DHB(2,5-dihydroxybenzoic acid), 시나핀산, 4-하이드록시-3-메톡시시나민산, 피콜린산, 3-하이드록시피콜린산, 2,6-디하이드록시아세토페논, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,4,6-트리하이드록시아세토페논, 2-(4'-하이드록시벤젠아조) 벤조산, 2-머캡토벤조티아졸, 클로로-시아노신남산 및 플루오로-시아노신남산으로 이루어진 군으로부터 선택되는 것임을 특징으로 하는, MALDI 질량분석법을 이용한 시료의 정량 분석 방법
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매트릭스와 시료가 혼합된 시편에 대한 MALDI 질량 스펙트럼을 얻는 방법에 있어서,선형 모드를 통해 이온들을 검출하는 제1 검출기 및 리플렉트론 모드를 통해 이온들을 검출하는 제2 검출기를 사용하되, 이온이 검출되는 도중 디플렉터의 가동을 개시 또는 중단하는 것에 의하여 이온들의 경로를 상기 제1 검출기 방향 또는 상기 제2 검출기 방향으로 선택적으로 변경하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 질량 스펙트럼을 얻는 방법
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제40항에 있어서, 상기 선형 모드에 의해 검출되는 이온들이 시료-유래 이온들인 것을 특징으로 하는, 질량 스펙트럼을 얻는 방법
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제40항에 있어서, 상기 리플렉트론 모드에 의해 검출되는 이온들이 매트릭스-유래 이온들인 것을 특징으로 하는, 질량 스펙트럼을 얻는 방법
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매트릭스와 시료가 혼합된 시편에 대한 MALDI 질량 스펙트럼을 얻기 위한 질량 분석기로서,선형 모드를 통해 이온들을 검출하는 제1 검출기; 리플렉트론 모드를 통해 이온들을 검출하는 제2 검출기; 및상기 질량 분석기에 의하여 이온이 검출되는 도중 가동이 개시 또는 중단됨으로써 이온들의 경로를 상기 제1 검출기 방향 또는 상기 제2 검출기 방향으로 선택적으로 굴절시키도록 구성된 디플렉터를 포함하는 것을 특징으로 하는, 질량 분석기
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제46항에 있어서, 상기 디플렉터에 전압을 인가하는 전압원을 더 포함하며, 상기 전압원은 상기 디플렉터에 의해 굴절된 이온이 상기 제1 검출기 또는 상기 제2 검출기에 도달하도록 상기 디플렉터에 인가되는 전압을 조절하도록 구성된, 질량 분석기
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