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박막 구조체 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015137376
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 질화갈륨의 결함 밀도를 현저하게 감소시킬 수 있는 박막 구조체 및 그 제조방법으로서, 사파이어를 포함하는 지지기판 및 상기 지지기판 상에 배치되며 질화갈륨을 포함하는 에피층을 포함하며, 상기 에피층에 대향되는 상기 지지기판의 상부는 규소가 상기 지지기판의 상부면을 통하여 확산되거나 이온주입된 층으로 이루어지는, 박막 구조체를 제공한다.
Int. CL C30B 29/38 (2006.01.01) C23C 14/48 (2006.01.01)
CPC C30B 29/38(2013.01)C30B 29/38(2013.01)
출원번호/일자 1020130111909 (2013.09.17)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1547546-0000 (2015.08.20)
공개번호/일자 10-2015-0032427 (2015.03.26) 문서열기
공고번호/일자 (20150828) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.09.17)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이성보 대한민국 서울 서초구
2 한흥남 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김남식 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)
2 한윤호 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **(삼성동) 명지빌딩, *층(선정국제특허법률사무소)
3 양기혁 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **(삼성동) 명지빌딩, *층(선정국제특허법률사무소)
4 이인행 대한민국 서울특별시 서초구 남부순환로***길 *-*, *층 (양재동, 가람빌딩)(율민국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2013-0852115-99
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0666253-09
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.11.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-1059711-14
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.11.04 수리 (Accepted) 1-1-2014-1059710-79
5 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2015.02.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0139168-33
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.03.04 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2015-0214860-67
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2015-0214861-13
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
10 등록결정서
Decision to grant
2015.05.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0335471-16
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1물질을 포함하여 구성된 지지기판(supporting substrate);상기 지지기판 상에 배치되며 상기 제1물질과 제2물질을 포함하여 구성된 중간층(intermediate layer); 및상기 중간층 상에 배치되며 제3물질을 포함하여 구성된 에피층(epilayer);을 구비하고,상기 제2물질의 체적탄성계수는 상기 제1물질의 체적탄성계수 및 상기 제3물질의 체적탄성계수보다 더 작고, 상기 중간층의 전단탄성계수는 상기 지지기판의 전단탄성계수 및 상기 에피층의 전단탄성계수보다 더 작고,상기 제1물질은 사파이어(sapphire)를 포함하고, 상기 제2물질은 규소(Si)를 포함하고, 상기 제3물질은 질화갈륨(GaN)을 포함하고,상기 중간층은, 산화규소를 포함하는 임시층을 형성하고, 상기 산화규소의 규소를 상기 지지기판으로 확산시켜 형성한, 박막 구조체
2 2
제1항에 있어서,상기 중간층은 상기 제1물질과 상기 제3물질 사이의 격자 부정합(mismatch)에 기인하여 생성된 전위를 수용할 수 있도록, 상기 중간층은 상기 에피층보다 탄성적으로 더 연성(elastically softer)인, 박막 구조체
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제1물질을 포함하여 구성된 지지기판;상기 지지기판 상에 배치되며, 상기 제1물질과 제2물질을 포함하여 구성된 컴플라이언트층(compliant layer); 및상기 컴플라이언트층 상에 배치되며, 제3물질을 포함하여 구성된 에피층;을 구비하고,상기 컴플라이언트층의 강성(elastic stiffness)은 상기 에피층의 강성보다 더 낮고,상기 제1물질은 사파이어(sapphire)를 포함하고, 상기 제2물질은 규소(Si)를 포함하고, 상기 제3물질은 질화갈륨(GaN)을 포함하고,상기 컴플라이언트층은, 산화규소를 포함하는 임시층을 형성하고, 상기 산화규소의 규소를 상기 지지기판으로 확산시켜 형성한, 박막 구조체
6 6
제5항에 있어서,상기 컴플라이언트층의 강성은 상기 지지기판의 강성보다 더 낮은 것을 특징으로 하는, 박막 구조체
7 7
삭제
8 8
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9 9
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10 10
삭제
11 11
제1항, 제2항, 제5항, 및 제6항 중 어느 하나의 항에 따른 상기 박막 구조체를 이용한 전자기 소자
12 12
제11항에 있어서,상기 전자기 소자는 박막 소자, 나노 소자, 반도체 소자, 메모리 소자, 분자 소자, 광소자, 광전 소자, 디스플레이 소자, 및 디지털 소자 중에서 선택된 적어도 어느 하나를 포함하는, 전자기 소자
13 13
제1물질을 포함하여 구성된 지지기판을 제공하는 단계;상기 지지기판 상에 제2물질을 포함하여 구성된 임시층을 형성하는 단계; 및상기 임시층 상에 제3물질을 포함하여 구성된 에피층을 형성하는 단계;를 구비하고,상기 임시층 상에 제3물질을 포함하는 에피층을 형성하는 단계에서, 상기 임시층에서 기인하는 상기 제2물질이 상기 지지기판의 상부면을 통하여 확산됨으로써 상기 지지기판의 상부에 상기 제1물질과 상기 제2물질을 포함하여 구성된 중간층이 형성되며,상기 제2물질의 체적탄성계수(bulk modulus)는 상기 제1물질의 체적탄성계수및 상기 제3물질의 체적탄성계수보다 더 작으며, 상기 중간층의 전단탄성계수는 상기 지지기판의 전단탄성계수 및 상기 에피층의 전단탄성계수보다 더 작고,상기 제1물질은 사파이어(sapphire)를 포함하고, 상기 제2물질은 규소(Si)를 포함하고, 상기 제3물질은 질화갈륨(GaN)을 포함하고,상기 중간층은, 산화규소를 포함하는 임시층을 형성하고, 상기 산화규소의 규소를 상기 지지기판으로 확산시켜 형성한, 박막 구조체의 제조방법
14 14
삭제
15 15
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16 16
사파이어를 포함하여 구성된 지지기판을 제공하는 단계;상기 지지기판 상에 규소를 포함하여 구성된 임시층을 형성하는 단계; 및상기 규소를 포함하여 구성된 임시층 상에 질화갈륨을 포함하여 구성된 에피층을 형성하는 단계;를 포함하고,상기 에피층을 형성하는 단계 동안, 상기 규소를 포함하여 구성된 임시층에서 기인하는 규소가 상기 지지기판의 상부면을 통하여 확산됨으로써 상기 지지기판의 상부에 규소가 확산된 층이 형성되고,상기 규소를 포함하여 구성된 임시층은 산화규소층인, 박막 구조체의 제조방법
17 17
삭제
18 18
제16항에 있어서,상기 질화갈륨은 우르차이트(wurtzite) 결정 구조를 가지는 질화갈륨을 포함하는, 박막 구조체의 제조방법
19 19
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09337021 US 미국 FAMILY
2 US20150325658 US 미국 FAMILY
3 WO2015041390 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2015325658 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9337021 US 미국 DOCDBFAMILY
3 WO2015041390 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 서울대학교 기초연구사업/중견연구자지원사업 고기능성 3차원 나노/마이크로 구조체의 물성 해석 및 최적 설계 기술 개발