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시그마-델타 변조부를 포함하는 양자화 장치, 이를 포함하는 ADC 및 이를 이용한 양자화 방법

  • 기술번호 : KST2015137550
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요약 본 발명은 신호 보간부와 시그마-델타 변조부를 이용하여 적은 수의 비교기로 높은 SN 비를 얻을 수 있는 양자화 장치, 이를 포함하는 ADC 및 이를 이용한 양자화 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 양자화 장치, ADC 및 양자화 방법은 양자화 에러를 감소시키고 노이즈 쉐이핑 차수를 증가시킨다.
Int. CL H03M 3/02 (2006.01.01) H03M 1/12 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020130059253 (2013.05.24)
출원인 엔시트론 주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1485467-0000 (2015.01.16)
공개번호/일자 10-2014-0137947 (2014.12.03) 문서열기
공고번호/일자 (20150122) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.05.24)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엔시트론 주식회사 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조준수 대한민국 서울특별시 은평구
2 이현중 대한민국 서울특별시 관악구
3 김수환 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이창범 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 **,*층 (서초동, 헤라피스빌딩)(제이엠인터내셔널)
2 박준용 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 **(역삼동, 대우디오빌플러스) ***호(새론국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엔시트론 주식회사 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.05.24 수리 (Accepted) 1-1-2013-0462241-41
2 보정요구서
Request for Amendment
2013.06.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0061123-16
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2013-0491693-33
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.12.26 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.02.11 수리 (Accepted) 9-1-2014-0011001-33
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.06.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0416467-10
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.08.11 수리 (Accepted) 1-1-2014-0755364-87
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.08.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0755365-22
9 등록결정서
Decision to grant
2014.10.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0732831-61
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-0029602-57
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.09.11 수리 (Accepted) 4-1-2015-5122362-37
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.09.19 수리 (Accepted) 4-1-2017-5151468-16
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.24 수리 (Accepted) 4-1-2017-5190781-51
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
샘플링된 신호에 포함된 제1 샘플 내지 제N 샘플을 각각 보간하여 보간된 신호를 생성하는 신호 보간부;상기 보간된 신호를 시그마-델타 변조하여 시그마-델타 변조 신호를 생성하는 시그마-델타 변조부;상기 시그마-델타 변조 신호를 애버리징하여 애버리지 신호를 생성하는 애버리징 필터;상기 애버리지 신호를 다운샘플링하는 다운샘플러;상기 다운샘플러의 출력 신호를 적분하여 출력하는 적분기; 및상기 적분기의 출력 신호와 상기 샘플링된 신호의 차이를 상기 신호 보간부로 입력하는 차분기를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 장치(단 N은 자연수)
2 2
제1항에 있어서,상기 신호 보간부는 상기 제1 샘플 내지 제N 샘플을 각각 M회 반복하여 M*N개의 샘플을 생성하는 M배 샘플 리피터를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 장치(단 M은 자연수)
3 3
제2항에 있어서,상기 다운샘플러는 상기 애버리지 신호를 M배 다운샘플링하는 M배 다운샘플러를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 장치
4 4
제2항에 있어서,상기 시그마-델타 변조부는 비교기 및 상기 비교기의 입력단과 출력단 사이에 연결된 시그마-델타 루프를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 시그마-델타 변조부는 상기 비교기의 쓰레시홀드와 상기 M*N개의 샘플 각각의 크기를 비교하여 상기 쓰레시홀드와 상기 M*N개의 샘플 각각의 크기의 차이에 대응하는 제1 펄스 신호 내지 제N 펄스 신호를 상기 시그마-델타 변조 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 양자화 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 애버리징 필터는 상기 제1 펄스 신호 내지 제N 펄스 신호 각각에 대한 애버리징을 수행하여 얻어진 상기 애버리지 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 양자화 장치
7 7
삭제
8 8
(a) 샘플링된 신호에 포함된 제1 샘플 내지 제N 샘플을 각각 반복하여 보간된 신호를 생성하는 단계;(b) 상기 보간된 신호를 시그마-델타 변조하여 시그마-델타 변조 신호를 생성하는 단계;(c) 상기 시그마-델타 변조 신호를 애버리징하여 애버리지 신호를 생성하는 단계;(d) 상기 (c) 단계에서 생성된 애버리지 신호를 다운샘플링하는 단계;(e) 상기 (d) 단계에서 다운샘플링하여 얻어진 신호를 적분하는 단계; 및(f) 상기 (e) 단계에서 얻어진 적분된 신호와 상기 샘플링된 신호의 차이를 보간하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 방법(단 N은 자연수)
9 9
제8항에 있어서,상기 (a) 단계는 상기 제1 샘플 내지 제N 샘플을 각각 M회 반복하여 M*N개의 샘플을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 방법(단 M은 자연수)
10 10
제9항에 있어서,상기 (d) 단계는 상기 애버리지 신호를 M배 다운샘플링하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 방법
11 11
제9항에 있어서,상기 (b) 단계는 쓰레시홀드와 상기 M*N개의 샘플 각각의 크기를 비교하여 상기 쓰레시홀드와 상기 M*N개의 샘플 각각의 크기의 차이에 대응하는 제1 펄스 신호 내지 제N 펄스 신호를 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 (c) 단계는 상기 제1 펄스 신호 내지 제N 펄스 신호 각각에 대한 애버리징을 수행하여 얻어진 상기 출력 신호를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 양자화 방법
13 13
삭제
14 14
아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 ADC에 있어서,상기 아날로그 신호를 샘플링하여 얻어진 샘플링된 신호에 포함된 제1 샘플 내지 제N 샘플을 각각 보간하여 보간된 신호를 생성하는 신호 보간부; 상기 보간된 신호를 시그마-델타 변조하여 시그마-델타 변조 신호를 생성하는 시그마-델타 변조부; 상기 시그마-델타 변조 신호를 애버리징하여 애버리지 신호를 생성하는 애버리징 필터; 상기 애버리지 신호를 다운샘플링하는 다운샘플러; 상기 다운샘플러의 출력 신호를 적분하여 출력하는 적분기; 및 상기 적분기의 출력 신호와 상기 샘플링된 신호의 차이를 상기 신호 보간부로 입력하는 차분기를 포함하는 양자화 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 ADC(단 N은 자연수)
15 15
제14항에 있어서,상기 신호 보간부는 상기 제1 샘플 내지 제N 샘플을 각각 M회 반복하여 M*N개의 샘플을 생성하는 M배 샘플 리피터를 포함하는 것을 특징으로 하는 ADC(단 M은 자연수)
16 16
제15항에 있어서,상기 다운샘플러는 상기 애버리지 신호를 M배 다운샘플링하는 M배 다운샘플러를 포함하는 것을 특징으로 하는 ADC
17 17
제15항에 있어서,상기 시그마-델타 변조부는 비교기 및 상기 비교기의 입력단과 출력단 사이에 연결된 시그마-델타 루프를 포함하는 것을 특징으로 하는 ADC
18 18
제17항에 있어서,상기 시그마-델타 변조부는 상기 비교기의 쓰레시홀드와 상기 M*N개의 샘플 각각의 크기를 비교하여 상기 쓰레시홀드와 상기 M*N개의 샘플 각각의 크기의 차이에 대응하는 제1 펄스 신호 내지 제N 펄스 신호를 상기 시그마-델타 변조 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 ADC
19 19
제18항에 있어서,상기 애버리징 필터는 상기 제1 펄스 신호 내지 제N 펄스 신호 각각에 대한 애버리징을 수행하여 얻어진 상기 애버리지 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 ADC
20 20
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2 US20140347200 US 미국 FAMILY

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