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도핑영역층과 비도핑영역층을 구비하여 두께 방향으로 성분상에 있어서 복합 및 비대칭적인 복합박막에 있어서,상기 도핑영역층은 단원자 증착(atomic layer deposition, ALD)법으로 형성된 적층구조로서, 도판트 전구체를 이용하여 형성된 도판트 원자층 1 이상을 구비한 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 도핑영역층은 박막 매트릭스 전구체를 이용하여 형성된 박막 매트릭스 원자층 1 이상을 추가로 구비하며,도판트 원자층과 박막 매트릭스 원자층의 적층시 일정한 ALD사이클 순환 규칙에 따라 적층되거나, 일정한 규칙 없이 적층된 것이 특징인 복합박막
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제2항에 있어서, 상기 도핑영역층 내 도판트 원자층은 N개이고, 박막 매트릭스 원자층은 M개일 때(N과 M은 1 이상의 정수),N:M은 1:1 내지 1:40인 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 도핑영역층 내 도판트 전구체를 이용하여 형성된 2개 이상의 도판트 원자층이 연속적으로 적층된 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 복합박막은 기판 상에 형성된 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 복합박막은 DRAM의 절연막이고, 상기 도핑영역층은 전극과 접합하는 부위에 형성되어 있는 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 복합박막은 박막 트랜지스터의 동작층이고, 상기 도핑영역층은 반도체와의 계면에 형성되어 있는 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 복합박막은 박막 트랜지스터의 동작층이고, 상기 도핑영역층은 복합박막의 표면에 형성되어 있는 것이 특징인 복합박막
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제1항에 있어서, 상기 도핑영역층은 2nm 내지 4nm인 것이 특징인 복합박막
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제2항에 있어서, 상기 도판트 전구체 및 박막 매트릭스 전구체는 각각 서로 다른 금속 소스 화합물이며, 상기 금속은 Ti, Hf, Zr, Si, Al, Ta, Sr, Ba, Sc, Y, La, Eu 및 Dy로 이루어진 군에서 선택된 것이 특징인 복합박막
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제2항에 있어서, 상기 도판트 전구체는 트리메틸 알루미늄(trimethyl aluminum, TMA)을 포함하고,상기 박막 매트릭스 전구체는 디에틸 아연(dietyl zinc, DEZ)을 포함하는 것이 특징인 복합박막
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단원자 증착(atomic layer deposition, ALD)법을 이용하여, 기판 상에, 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 복합박막을 제조하는 방법으로서,도판트 전구체를 이용하여 1 이상의 도판트 원자층을 적층하여 도핑영역층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 도핑영역층을 형성하는 단계는, 반응 챔버 내에 도판트 전구체를 펄스(pulse)하여 ALD사이클에 의해 상기 도판트 원자층을 적층하는 제1단계; 및박막 매트릭스 전구체를 펄스하여 ALD사이클에 의해 박막 매트릭스 원자층을 적층하는 제2단계를 포함하며,상기 제1단계 및 제2단계는 서로 상반된 순서로 진행될 수 있는 것이 특징인 제조 방법
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제12항에 있어서, 상기 ALD사이클은,반응 챔버 내에 도판트 전구체 또는 박막 매트릭스 전구체를 펄스하는 제a단계;상기 반응 챔버로부터 여분의 도판트 전구체 또는 박막 매트릭스 전구체를 제거하는 제b단계;상기 반응 챔버 내에 반응물을 펄스하는 제c단계; 및상기 반응 챔버로부터 여분의 반응물 및 반응 생성물을 제거하는 제d단계를 포함하는 것이 특징인 제조 방법
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제12항에 있어서, 상기 제1단계의 ALD사이클은 n번 수행되고,상기 제2단계의 ALD사이클은 m번 수행되며,상기 n과 m의 횟수를 조절하여 도핑 농도를 조절할 수 있는 것이 특징인 제조 방법
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제14항에 있어서, 상기 n:m은 1:1 내지 1:40인 것이 특징인 제조 방법
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제14항에 있어서, 상기 제1단계 및 제2단계는 반복하여 수행되는 것이 특징인 제조 방법
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제12항에 있어서, 상기 도판트 전구체 및 박막 매트릭스 전구체는 각각 서로 다른 금속 소스 화합물이며, 상기 금속은 Ti, Hf, Zr, Si, Al, Ta, Sr, Ba, Sc, Y, La, Eu 및 Dy로 이루어진 군에서 선택된 것이 특징인 제조 방법
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제12항에 있어서, 상기 도판트 전구체는 트리메틸 알루미늄(trimethyl aluminum, TMA)을 포함하고,상기 박막 매트릭스 전구체는 디에틸 아연(dietyl zinc, DEZ)을 포함하는 것이 특징인 제조 방법
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제13항에 있어서, 상기 제c단계의 반응물은 H2O, O2, O3, O 라디칼들, H2O2 및 D2O로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상인 것이 특징인 제조 방법
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제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 복합박막을 구비한 것이 특징인 전자 소자
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제20항에 있어서, 트랜지스터 또는 DRAM인 것이 특징인 전자 소자
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