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전차선의 높이 및 편위 측정 방법, 장치 및 이를 위한기록매체

  • 기술번호 : KST2015140733
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전차선의 높이 및 편위 측정 방법, 장치 및 이를 위한 기록매체에 관한 것으로서, 본 발명에 따르면, 전차선에 광원을 조사하는 광원 소스 및 하나 이상의 이미지 센서를 포함하는 측정 장치에서 전차선의 높이 및 편위를 측정하는 방법으로서, (a) 상기 하나 이상의 이미지 센서에서 캡쳐된 상기 전차선 이미지에 상응하는 하나 이상의 픽셀 데이터를 수신하는 단계; (b) 각 이미지 센서에 대해 서브 픽셀 단위로 상기 전차선의 중심 위치를 결정하는 단계; 및 (c) 상기 결정된 전차선의 중심 위치를 이용하여 상기 전차선의 높이 및 편위를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 방법이 제공된다. 본 발명에 따르면, 적은 부품을 사용하더라도 전차선의 높이 및 편위 측정의 정확도를 높일 수 있는 장점이 있다. 전차선, 픽셀, 서브 픽셀, 높이, 편위, 중심 위치, 레이저, 직선 조정
Int. CL G01B 11/06 (2006.01.01) G01M 11/02 (2019.01.01) G01M 17/08 (2019.01.01) B60M 1/28 (2006.01.01) G01N 21/01 (2006.01.01)
CPC G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01) G01B 11/0608(2013.01)
출원번호/일자 1020060053229 (2006.06.13)
출원인 한양대학교 산학협력단, 투아이시스(주)
등록번호/일자 10-0811823-0000 (2008.03.03)
공개번호/일자 10-2007-0118922 (2007.12.18) 문서열기
공고번호/일자 (20080310) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.06.13)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
2 투아이시스(주) 대한민국 경기도 군포시 고산로 ***번길 ** ,

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김회율 대한민국 서울시 강남구
2 장경영 대한민국 서울 강남구
3 박종국 대한민국 경기 안양시 동안구
4 김현철 대한민국 서울 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이경란 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
2 투아이시스(주) 대한민국 경기도 군포시 고산로 ***번길 ** ,
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.06.13 수리 (Accepted) 1-1-2006-0414412-51
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.02.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2007-0014243-58
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.06.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0327828-03
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2007.08.16 수리 (Accepted) 1-1-2007-0592235-30
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2007.08.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0592254-08
7 등록결정서
Decision to grant
2007.12.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0655024-61
8 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2008-0145569-46
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5037763-28
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.09.04 수리 (Accepted) 4-1-2013-0041715-10
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.09.05 수리 (Accepted) 4-1-2013-5121562-14
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전차선에 광원을 조사하는 광원 소스 및 하나 이상의 이미지 센서를 포함하는 측정 장치에서 전차선의 높이 및 편위를 측정하는 방법으로서, (a) 복수의 단위 픽셀이 라인 또는 영역 형태 중 적어도 하나로 배치되는 CCD(Charge-Coupled Device) 센서 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 센서인 상기 하나 이상의 이미지 센서에서 캡쳐된 상기 전차선 이미지에 상응하는 하나 이상의 픽셀 데이터를 수신하는 단계;(b) 각 이미지 센서에 대해 서브 픽셀 단위로 상기 전차선의 중심 위치를 결정하는 단계; 및(c) 상기 결정된 전차선의 중심 위치를 이용하여 상기 전차선의 높이 및 편위를 계산하는 단계를 포함하되,상기 복수의 단위 픽셀이 영역 형태이고 레이저가 원형성인 경우, 상기 하나 이상의 픽셀 데이터를 직선 조정하는 단계; 및상기 직선 조정된 데이터와 상기 측정 장치의 현재 위치와의 교점을 결정하는 단계를 더 포함하되, 상기 (b) 단계는 상기 교점을 상기 전차선의 중심 위치로 결정하는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 광원 소스는 원형성 또는 직선성 중 적어도 하나에 해당하는 레이저를 조사하는 레이저 소스인 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 방법
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서,상기 (b) 단계는 상기 복수의 단위 픽셀이 라인 형태인 경우, 또는 상기 복수의 단위 픽셀이 영역 형태이고 레이져가 직선성인 경우, 가로 방향으로 인접한 픽셀에 캡쳐되는 전차선 이미지에 상응하는 픽셀 데이터를 기반으로 상기 전차선의 중심 위치를 서브 픽셀 단위로 결정하는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 방법
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서,상기 측정 장치의 다음 구간으로 이동시키는 단계; 상기 이동된 구간에서 상기 (a) 내지 (c) 단계를 반복 수행하는 단계; 및미리 설정된 개수의 구간에서의 높이 및 편위 측정이 완료되는 경우, 상기 각 구간에서 높이 및 편위 값을 직선 조정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 방법
7 7
전차선의 높이 및 편위를 측정하기 위하여 디지털 처리 장치에 의해 실행될 수 있는 명령어들의 프로그램이 유형적으로 구현되어 있으며 디지털 처리 장치에 의해 판독될 수 있는 기록매체로서, (a) 복수의 단위 픽셀이 라인 또는 영역 형태 중 적어도 하나로 배치되는 CCD(Charge-Coupled Device) 센서 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 센서인 하나 이상의 이미지 센서에서 캡쳐된 상기 전차선 이미지에 상응하는 하나 이상의 픽셀 데이터를 수신하는 단계;(b) 각 이미지 센서에 대해 서브 픽셀 단위로 상기 전차선의 중심 위치를 결정하는 단계; 및(c) 상기 결정된 전차선의 중심 위치를 이용하여 상기 전차선의 높이 및 편위를 계산하는 단계를 수행하되,상기 복수의 단위 픽셀이 영역 형태이고 레이저가 원형성인 경우, 상기 하나 이상의 픽셀 데이터를 직선 조정하는 단계; 및상기 직선 조정된 데이터와 상기 측정 장치의 현재 위치와의 교점을 결정하는 단계를 더 수행하되, 상기 (b) 단계는 상기 교점을 상기 전차선의 중심 위치로 결정하는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능한 기록매체
8 8
전차선의 높이 및 편위를 측정하는 장치에 있어서, 상기 전차선에서 광원을 조사하는 광원 소스;복수의 단위 픽셀이 라인 또는 영역 형태 중 적어도 하나로 배치되는 CCD(Charge-Coupled Device) 센서 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 센서이고, 상기 광원에 의해 상기 전차선이 반사하는 빛 신호를 캡쳐하여 상기 전차선 이미지에 상응하는 픽셀 데이터를 출력하는 하나 이상의 이미지 센서; 및상기 픽셀 데이터를 이용하여 각 이미지 센서에 대해 서브 픽셀 단위로 상기 전차선의 중심 위치를 결정하는 중심 위치 결정부; 및상기 결정된 전차선의 중심 위치를 이용하여 상기 전차선의 높이 및 편위를 계산하는 계산부를 포함하되,상기 복수의 단위 픽셀이 영역 형태이고 레이져가 원형성인 경우, 상기 중심 위치 결정부는 상기 하나 이상의 픽셀 데이터를 직선 조정하고, 상기 조정된 직선과 상기 측정 장치의 현재 위치와의 교점을 상기 전차선의 중심 위치로 결정하는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 광원 소스는 원형성 또는 직선성 중 적어도 하나에 해당하는 레이저를 조사하는 레이저 소스인 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 장치
10 10
삭제
11 11
제8항에 있어서,상기 복수의 단위 픽셀이 라인 형태인 경우, 또는 상기 복수의 단위 픽셀이 영역 형태이고 레이져가 직선성인 경우, 가로 방향으로 인접한 픽셀에 캡쳐되는 전차선 이미지에 상응하는 픽셀 데이터를 기반으로 상기 전차선의 중심 위치를 결정하는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 장치
12 12
삭제
13 13
제8항에 있어서, 미리 설정된 개수의 구간에서 계산된 복수의 전차선의 높이 및 편위 데이터를 저장하는 메모리를 더 포함하되, 상기 복수의 높이 및 편위 데이터는 직선 조정되어 상기 메모리에 저장되는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 장치
14 14
제8항에 있어서,상기 광원 소스는 상기 하나 이상의 이미지 센서를 연결하는 중심 선보다 앞서서 배치되는 것을 특징으로 하는 전차선의 높이 및 편위 측정 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.