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RFID 시스템으로써
태그로부터 수신되는 심볼 신호 내의 샘플로부터 영점을 검출하고, 상기 검출된 영점으로부터 피크 샘플까지의 거리를 산출한 후, 상기 산출된 거리 만큼의 다음 피크 샘플을 산출하는 대표값 산출수단을 포함하는 심볼 검출 장치
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제 1항에 있어서, 상기 대표값 산출수단은
상기 검출된 영점이 왜곡에 의한 잘못된 영점인 경우, 상기 잘못된 영점 이후에 검출된 영점을 실제 영점으로 판단하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 장치
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제 2항에 있어서, 상기 대표값 산출수단은
입력되는 상기 샘플로부터 부호 변환이 일어나는 두 개의 샘플 크기를 비교하여 더 작은 샘플을 영점 샘플로 검출하는 영점 검출부;
이전 1/2 심볼 내에서 최대값을 갖는 샘플로부터 상기 검출된 영점 샘플까지의 거리를 측정하는 거리 측정부; 및
다음 1/2 심볼에 상기 측정된 거리 만큼 떨어져 있는 샘플을 최대값을 갖는 샘플로 지정하는 매핑부를 포함하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 장치
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제 3항에 있어서,
상기 입력되는 상기 샘플에 대하여 극대의 출력값을 상기 영점 검출부로 출력하는 매치 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 장치
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제 3항에 있어서,
상기 영점 검출부에서 검출된 영점 이후 소정 기간 이내에 발생하는 영점을 왜곡 샘플로 검출하는 왜곡 검출부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 장치
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제 4항에 있어서, 상기 왜곡 샘플이 검출된 경우
상기 영점 검출기는 상기 왜곡 샘플 다음의 샘플들로부터 부호 변환이 일어나는 두 개의 샘플 크기를 비교하여 더 작은 샘플을 새로운 영점 샘플로 검출하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 장치
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(a) 태그로부터 수신되는 심볼 신호 내의 샘플로부터 영점 샘플을 검출하는 단계;
(b) 이전 1/2 심볼 내에서 최대값을 갖는 샘플로부터 상기 검출된 영점 샘플까지의 거리를 측정하는 단계; 및
(c) 다음 1/2 심볼에 상기 측정된 거리 만큼 떨어져 있는 샘플을 최대값을 갖는 샘플로 지정하는 단계를 포함하는 심볼 검출 방법
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제 7항에 있어서, 상기 (a)단계 이전에 상기 심볼 신호 내의 샘플들을 매치 필터링 하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 방법
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제 7항에 있어서, 상기 (a) 단계는
(a-1) 상기 샘플로부터 부호 변환이 일어나는 두 개의 샘플을 검색하는 단계;
(a-2) 상기 검색된 두 개의 샘플 크기를 비교하는 단계; 및
(a-3) 상기 비교 결과, 크기가 더 작은 샘플을 영점 샘플로 검출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 방법
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제 7항에 있어서,
상기 (a) 단계 이후에 검출된 영점 이후 소정 기간 이내에 발생하는 영점을 왜곡 샘플로 검출하고, 상기 검출된 왜곡 샘플 다음의 샘플들로부터 영점 샘플을 검출하는 (a)단계를 반복하는 것을 특징으로 하는 심볼 검출 방법
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