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적층형 이미지 센서 및 그의 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015141426
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 실시예에 따른 적층형 이미지 센서는, 기판의 일면에 P형 반도체들 및 N형 반도체들이 교대로 적층되어 형성되며, 입사되는 입사빔의 적색, 녹색 및 청색 파장대역의 빛을 선택적으로 흡수하는 복수의 광전변환층; 및 복수의 광전변환층 중 적색 파장대역의 빛을 흡수하는 광전변환층의 일측에 구비되어, 적색 파장영역의 빛이 적색 파장대역의 빛을 흡수하는 광전변환층에 도달하기 전에 산란시키는 적색광 산란층;을 포함할 수 있다. 본 발명의 실시예에 따르면, 상대적으로 장파장을 갖는 적색 파장대역의 빛에 이르기까지 광 포획을 확실히 할 수 있어 광 흡수도를 증가시킬 수 있으며, 이에 따라 광 손실을 줄이고 특히 적색 파장대역의 감도를 증가시켜 구현되는 색감을 향상시킬 수 있다.
Int. CL H01L 27/146 (2006.01.01)
CPC H01L 27/14647(2013.01) H01L 27/14647(2013.01) H01L 27/14647(2013.01)
출원번호/일자 1020110099970 (2011.09.30)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1434716-0000 (2014.08.20)
공개번호/일자 10-2013-0035580 (2013.04.09) 문서열기
공고번호/일자 (20140901) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.01.04)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한영근 대한민국 서울시 성북구
2 김현주 대한민국 서울특별시 동작구
3 박상오 대한민국 서울특별시 광진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.09.30 수리 (Accepted) 1-1-2011-0767676-38
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2013.01.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0009127-96
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.08.27 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.10.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0080012-07
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.11.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0820946-65
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2014-0065994-80
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.01.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0065993-34
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.05.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0361740-13
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.07.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0693698-88
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.07.23 수리 (Accepted) 1-1-2014-0693696-97
12 등록결정서
Decision to grant
2014.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0555625-10
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판의 일면에 P형 반도체들 및 N형 반도체들이 교대로 적층되어 형성되며, 입사되는 입사빔의 적색, 녹색 및 청색 파장대역의 빛을 선택적으로 흡수하는 복수의 광전변환층; 상기 복수의 광전변환층 중 적색 파장대역의 빛을 흡수하는 광전변환층의 일측에 구비되어, 상기 적색 파장영역의 빛이 상기 적색 파장대역의 빛을 흡수하는 광전변환층에 도달하기 전에 산란시키는 적색광 산란층; 및상기 P형 반도체들 및 상기 N형 반도체들 중 최상단에 적층된 반도체의 표면에 표면 처리를 통하여 형성되어 상기 입사빔의 반사율을 저하시키는 표면 나노 구조층;을 포함하는 적층형 이미지 센서
2 2
제1항에 있어서,상기 복수의 광전변환층은 상기 P형 반도체들 및 상기 N형 반도체들의 접합 영역에서 형성되는 적어도 3개의 광전변환층이며,상기 광전변환층은, 상기 기판으로부터 가장 인접하도록 형성되어 상기 적색 파장대역의 빛을 흡수하는 적색광 광전변환층; 상기 기판과 대향되도록 상기 적색광 광전변환층의 일측에 형성되어 녹색 파장대역의 빛을 흡수하는 녹색광 광전변환층; 및 상기 적색광 광전변환층과 대향되도록 상기 녹색광 광전변환층의 일측에 형성되어 청색 파장대역의 빛을 흡수하는 청색광 광전변환층으로 이루어지며, 상기 적색광 산란층은 상기 적색광 광전변환층 및 상기 녹색광 광전변환층의 사이의 상기 반도체 내에 형성되는 적층형 이미지 센서
3 3
제2항에 있어서,상기 기판은 상기 적색광 산란층에 의해 확산되어 상기 기판 방향으로 이동하는 상기 적색 파장대역의 빛을 다시 상기 적색광 광전변환층으로 반사시키는 금속 반사층으로 형성되는 적층형 이미지 센서
4 4
제1항에 있어서,상기 적색광 산란층은 미정질 물질에 의해 나노(nano) 구조로 형성되는 적층형 이미지 센서
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서,상기 표면 나노 구조층은 상기 최상단에 적층된 반도체의 표면에 형성된 패턴의 주기, 크기 또는 모양의 프로파일에 따라 상기 입사빔의 반사율 또는 상기 입사빔의 입사각에 대한 의존도를 조절하는 적층형 이미지 센서
7 7
제1항에 있어서,상기 표면 나노 구조층은, 간섭무늬를 이용한 홀로그램 리소그래피 방법을 이용하여 나노 크기의 주기적인 포토감광(photoresist) 마스크 패턴을 상기 반도체의 표면에 형성시키고 유도 결합 플라즈마(Inductively coupled plasma) 건식 식각을 통해 상기 반도체의 표면에 형성되는 적층형 이미지 센서
8 8
제1항에 있어서,상기 표면 나노 구조층은 금속 입자 마스크 패턴을 상기 반도체의 표면에 형성한 후 유도 결합 플라즈마 건식 식각을 통해 상기 반도체의 표면에 형성되는 적층형 이미지 센서
9 9
제2항에 있어서,상기 기판의 일면에 두 쌍으로 구비되는 제1 P형 반도체, 제1 N형 반도체, 제2 P형 반도체 및 제2 N형 반도체가 순서대로 적층되고, 상기 제1 P형 반도체 및 상기 제1 N형 반도체의 접합 영역에 상기 적색광 광전변환층이 형성되고, 상기 제1 N형 반도체 및 상기 제2 P형 반도체의 접합 영역에 상기 녹색광 광전변환층이 형성되며, 상기 제2 P형 반도체 및 상기 제2 N형 반도체의 접합 영역에 상기 청색광 광전변환층이 형성되고, 상기 제1 N형 반도체 내에 상기 적색광 산란층이 형성되는 적층형 이미지 센서
10 10
제2항에 있어서,상기 기판의 일면에 세 쌍으로 구비되는 제1 P형 반도체와 제1 N형 반도체, 제2 P형 반도체와 제2 N형 반도체, 제3 P형 반도체와 제3 N형 반도체가 순서대로 적층되고, 상기 제1 P형 반도체와 상기 제1 N형 반도체의 접합 영역에 상기 적색광 광전변환층이 형성되고, 상기 제2 P형 반도체와 상기 제2 N형 반도체의 접합 영역에 상기 녹색광 광전변환층이 형성되며, 상기 제3 P형 반도체와 상기 제3 N형 반도체의 접합 영역에 상기 청색광 광전변환층이 형성되고, 상기 제2 P형 반도체 내에 상기 적색광 산란층이 형성되는 적층형 이미지 센서
11 11
제10항에 있어서,각각의 쌍을 이루는 상기 P형 반도체 및 상기 N형 반도체의 상하에는 각각 한 쌍의 전극인 공통 전극과 광전변환층 전극이 배치되는 적층형 이미지 센서
12 12
제10항에 있어서,상기 제1 N형 반도체 및 상기 제2 P형 반도체의 사이, 상기 제2 N형 반도체 및 상기 제3 P형 반도체의 사이에는 층간 절연을 위한 절연층이 형성되는 적층형 이미지 센서
13 13
제1항에 따른 적층형 이미지 센서의 형성 방법에 있어서,상기 기판을 형성하는 금속 반사층 상에 P형 반도체들 및 N형 반도체들을 교대로 적층하여 광전변환층들을 형성하는, 적층 단계; 및 입사빔 중 적색 파장영역의 빛이 상기 광전변환층들 중 상기 적색 파장영역의 빛을 흡수하는 적색광 광전변환층에 도달하기 전에 산란될 수 있도록, 상기 적색광 광전변환층과 상기 광전변환층들 중 녹색 파장대역의 빛을 흡수하는 녹색광 광전변환층 사이의 반도체에 미정질 물질의 나노 구조로 형성되는 적색광 산란층을 형성하는, 산란층 형성 단계;를 포함하는 적층형 이미지 센서의 형성 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.