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광을 발생시키는 광원과 연결된 연결부의 갈래 중 일 갈래에 결합되며, 사람의 지문을 인식하는 지문 인식 프로브;상기 연결부의 갈래 중 다른 갈래에 결합되며 상기 광원으로부터의 광을 반사시키는 리퍼런스 미러; 및상기 연결부의 또 다른 갈래에 결합되며, 상기 지문 인식 프로브 및 상기 리퍼런스 미러를 지나온 광을 검출하는 광 검출부;를 포함하며,상기 지문 인식 프로브는 상기 광원으로부터 제공되는 광의 저 결맞음 현상을 이용하여 지문의 외부 지문층 또는 내부 지문층을 인식하며,상기 지문 인식 프로브는 투명 박막으로 형성된 지문면을 갖는 케이스를 포함하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제1항에 있어서,상기 지문 인식 프로브는 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 프로브이며,상기 지문 인식 프로브는,상기 케이스 내에 배치되며 상기 연결부를 통해 인입된 선 형태의 광을 면 형태의 광으로 확장함으로써 일 방향 및 그의 수직 방향으로 평면 스캔을 수행하는 MEMS 미러; 및상기 MEMS 미러의 일측에 위치되도록 상기 케이스에 장착되며 상기 MEMS 미러를 지난 광신호를 평행하게 방향 전환하여 상기 지문면으로 제공하는 평행 구현 렌즈를 더 포함하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제1항에 있어서,상기 투명 박막은 유리, 아크릴, PMMA, 폴리프로필렌, PET 중 어느 하나의 폴리머 기반 박막이며, 상기 투명 박막은 광투과도 증대를 위해 안티-리플렉션(anti-reflection) 코팅 처리되는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제2항에 있어서,상기 평행 구현 렌즈는 초점이 평면을 이루는 F-세타(F-theta) 렌즈인, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제1항에 있어서,상기 지문 인식 프로브의 지문면에는 복수 개의 지문이 로딩 가능하며,상기 지문 인식 프로브를 통해 상기 투명 박막의 전 구간을 스캔한 후 상기 복수 개의 지문이 닿은 영역에 해당하는 정보를 분류하거나 상기 투명 박막의 영역 중 상기 복수 개의 지문이 닿은 부분에 한해 스캔하여 지문 정보를 획득함으로써 복수 개의 지문에 대한 정보를 획득하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제1항에 있어서,상기 연결부에는 커플러가 구비되며,상기 커플러는, LiNbO3 웨이브가이드 커플러, 이온 변환 글래스 커플러, SiO2/Si 웨이브가이드 커플러, 폴리머 웨이브가이드 커플러 중 어느 하나의 웨이브가이드 커플러로 마련되는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제1항에 있어서,상기 광원은, 반도체 기반 광대역 광원 및 반도체 기반 파장가변 레이저 중 어느 하나이며, 상기 광원을 사용하고 상기 리퍼런스 미러를 이동시키면서 단층 정보를 획득하는 시간 영역의 저 결맞음 간섭계 기술과, 상기 광원을 사용하여 상기 지문을 측정하고 돌아오는 광의 스펙트럼 정보를 이용하여 단층 정보를 획득하는 스펙트럼 영역의 저 결맞음 간섭계 기술을 이용하여 상기 지문을 인식하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제1항에 있어서,상기 광 검출부에 연결되며, 광전 변환 과정을 통해 상기 지문 인식 프로브를 지나온 광 및 상기 리퍼런스 미러를 지나온 광의 위상 차이 정보를 획득하는 데이터 획득부; 및상기 데이터 획득부로부터 전달된 데이터를 토대로 저 결맞음 간섭 정보를 획득함으로써 상기 지문에 대한 정보를 획득하는 신호 처리부를 더 포함하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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제8항에 있어서,상기 신호 처리부와 연결되어, 상기 신호 처리부에 의해 신호 처리된 상기 지문에 대한 영상 정보를 실시간으로 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 장치
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적어도 하나의 지문이 로딩 가능한 투명 박막으로 마련되는 지문면을 갖는 케이스;상기 케이스 내에 배치되며, 인입된 선 형태의 광을 면 형태의 광으로 확장함으로써 일 방향 및 그의 수직 방향으로 평면 스캔을 수행하는 MEMS 미러; 및상기 MEMS 미러의 일측에 위치되도록 상기 케이스에 장착되며 상기 MEMS 미러를 지난 광신호를 평행하게 방향 전환하여 상기 지문면으로 제공하는 평행 구현 렌즈;를 포함하며,상기 광의 저 결맞음 현상을 이용하여 지문의 외부 지문층 또는 내부 지문층을 인식하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 프로브
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제10항에 있어서,상기 광의 조사를 통해 상기 투명 박막의 전 구간을 스캔한 후 상기 적어도 하나의 지문이 닿은 영역에 해당하는 정보를 분류하거나 상기 투명 박막의 영역 중 상기 적어도 하나의 지문이 닿은 부분에 한해 스캔하여 지문 정보를 획득함으로써 상기 적어도 하나의 지문에 대한 정보를 획득하는, 저 결맞음 간섭계 기반 지문 인식 프로브
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