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전자기파 분석 공격에 대한 방어 장치

  • 기술번호 : KST2015141893
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자기파 분석 공격에 대한 방어 장치에 관한 것으로서, 암호 칩과, 상기 암호 칩의 적어도 일면에서, 상기 암호 칩으로부터 발생하거나, 또는 상기 암호 칩으로 전달되는 전자기파를 차단하는 차폐막을 포함할 수 있다.
Int. CL H05K 9/00 (2006.01)
CPC H05K 9/0084(2013.01)
출원번호/일자 1020130168713 (2013.12.31)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1563791-0000 (2015.10.21)
공개번호/일자 10-2015-0078887 (2015.07.08) 문서열기
공고번호/일자 (20151027) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.12.31)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최병덕 대한민국 서울 강동구
2 김동규 대한민국 서울 동대문구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2013-1211843-20
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.11.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0764436-23
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2015-0013553-41
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2015-0136594-19
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.02.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0136592-17
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.06.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0413340-41
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2015.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2015-0797121-18
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2015-0924171-26
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.09.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0924177-00
12 등록결정서
Decision to grant
2015.10.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0712329-28
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
암호화 과정을 수행하는 암호 칩; 및상기 암호 칩을 둘러싸도록 배치되고, 상기 암호화 과정에서 상기 암호 칩으로부터 발생하여 누설되는 전자기파, 또는 상기 암호 칩으로 전달되는 전자기파 형태의 공격파를 차단하는 차폐막을 칩 내부에 포함하고,상기 차폐막은 전압으로 바이어스 된 비아(via)로서 상기 암호 칩의 옆면을 둘러싸는 형태로 구성되는, 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 기판을 제외하는 나머지 면들에서 상기 전자기파를 차단하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 암호화 과정은, 입력 메시지에 미리지정된 비밀키를 적용하여 출력 메시지를 생성하는 것을 포함하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에 형성되는 메탈 레이어를 더 포함하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에서 미리지정된 폭을 갖는 와이어들이 미리지정된 빈공간으로 형성되는 제1 메탈 레이어를 포함하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에서 미리지정된 폭을 갖는 와이어들이 미리지정된 빈공간으로 형성되는 제2 메탈 레이어를 포함하고, 상기 제2 메탈 레이어의 와이어들은 상기 제1 메탈 레이어의 미리지정된 빈공간과 적어도 일부가 오버랩되는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
7 7
제4항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에서 미리지정된 폭을 갖는 와이어들이 메쉬 형태로 형성되는 제1 메탈 레이어를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에서 미리지정된 폭을 갖는 와이어들이 메쉬 형태로 형성되는 제2 메탈 레이어를 포함하고, 상기 제2 메탈 레이어의 와이어들은 상기 제1 메탈 레이어의 빈공간과 적어도 일부가 오버랩되는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
9 9
삭제
10 10
제1항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에서, 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향에서 미리지정된 빈공간으로 형성되는 복수의 제1 비아들을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
11 11
제10항에 있어서,상기 차폐막은 상기 암호 칩의 적어도 일면에서, 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향에서 미리지정된 빈공간으로 형성되는 복수의 제2 비아들을 포함하고, 상기 제2 비아들은 상기 제1 비아들의 미리지정된 빈공간과 적어도 일부가 오버랩되는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대응하는 방어 장치
12 12
암호화 과정을 수행하는 암호 칩의 윗면에서 미리지정된 폭을 갖는 와이어들이 미리지정된 빈공간으로 제1 메탈 레이어를 형성하는 단계; 및상기 제1 메탈 레이어의 윗면에서 미리지정된 폭을 갖는 와이어들이 미리지정된 빈공간으로 형성되는 제2 메탈 레이어를 형성하는 단계를 포함하고,상기 제2 메탈 레이어의 와이어들은 상기 제1 메탈 레이어의 미리지정된 빈공간과 적어도 일부가 오버랩되고,상기 암호 칩의 옆면에 해당하는 부분은, 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향에서 상기 암호 칩의 옆면을 둘러싸는 형태로 형성되는 적어도 하나의 비아(via)를 포함하여 상기 암호화 과정에서 상기 암호 칩으로부터 발생하여 누설되는 전자기파, 또는 상기 암호 칩으로 전달되는 전자기파 형태의 공격파를 차단하는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대한 방어 장치의 제조 방법
13 13
암호화 과정을 수행하는 암호 칩의 윗면에서 미리지정된 폭을 갖고, 메쉬 형태로 형성되는 와이어들을 포함하는 제1 메탈 레이어를 형성하는 단계; 및상기 제1 메탈 레이어의 윗면에서 미리지정된 폭을 갖고, 메쉬 형태로 형성되는 와이어들을 포함하는 제2 메탈 레이어를 형성하는 단계를 포함하고,상기 제2 메탈 레이어의 와이어들은 상기 제1 메탈 레이어의 빈공간과 적어도 일부가 오버랩되고,상기 암호 칩의 옆면에 해당하는 부분은, 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향에서 상기 암호 칩의 옆면을 둘러싸는 형태로 형성되는 적어도 하나의 비아(via)를 포함하여 상기 암호화 과정에서 상기 암호 칩으로부터 발생하여 누설되는 전자기파, 또는 상기 암호 칩으로 전달되는 전자기파 형태의 공격파를 차단하는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대한 방어 장치의 제조 방법
14 14
암호화 과정을 수행하는 암호 칩의 적어도 옆면에서, 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향에서 미리지정된 빈공간으로 복수의 제1 비아들을 형성하는 단계; 및상기 제1 비아들과 같은 암호 칩의 옆면에서, 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향에서 미리지정된 빈공간으로 복수의 제2 비아들을 형성하는 단계를 포함하고,상기 제2 비아들은 상기 제1 비아들의 미리지정된 빈공간과 적어도 일부가 오버랩되고, 상기 제1 비아들 및 상기 제2 비아들은 상기 암호화 과정에서 상기 암호 칩으로부터 발생하여 누설되는 전자기파, 또는 상기 암호 칩으로 전달되는 전자기파 형태의 공격파를 차단하는 것을 특징으로 하는 전자기파 분석 공격에 대한 방어 장치의 제조 방법
15 15
암호화 과정을 수행하는 암호 칩의 윗면에 와이어들을 포함하는 제1 메탈 레이어 및 제2 메탈 레이어를 배치하는 단계;상기 암호화 과정에서 상기 암호 칩으로부터 발생하여 누설되는 전자기파, 또는 상기 암호 칩으로 전달되는 전자기파 형태의 공격파를 차단하도록 상기 암호 칩의 적어도 하나 이상의 옆면에 상기 암호 칩의 윗면에서 기판으로 향하는 방향으로 비아들을 배치하는 단계를 포함하는 전자기파 분석 공격에 대한 방어 장치의 설계 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.