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EUV 리소그래피용 펠리클

  • 기술번호 : KST2015142170
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 EUV 리소그래피용 펠리클을 제공한다. EUV 리소그래피용 펠리클은 소광계수가 0.02 이하인 무기물을 포함하는 제1 무기물층, 상기 제1 무기물층 상에 위치하고, 카테콜계열의 작용기를 갖는 유기물을 포함하는 제1 결합층 및 상기 제1 결합층 상에 위치하고, 탄소 나노구조체를 포함하는 강도보강층을 포함할 수 있다. 이때의 제1 결합층은 상기 제1 무기물층과 상기 강도보강층의 결합력을 강화시키는 것을 특징으로 한다. 따라서, 탄소 나노구조체를 포함하는 강도보강층을 구비함으로써 펠리클막의 강도를 향상시킬 수 있다. 또한, 무기물층과 강도보강층의 사이에 유기물을 포함하는 결합층을 삽입함으로써, 무기물층과 강도보강층 사이의 결합력을 강화시킬 수 있고, 나아가 유기물층의 연성을 이용하여 무기물층의 취성을 보강해 줄 수 있다.
Int. CL G03F 1/64 (2012.01)
CPC G03F 1/64(2013.01) G03F 1/64(2013.01) G03F 1/64(2013.01) G03F 1/64(2013.01) G03F 1/64(2013.01)
출원번호/일자 1020140046210 (2014.04.17)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1676095-0000 (2016.11.08)
공개번호/일자 10-2015-0121292 (2015.10.29) 문서열기
공고번호/일자 (20161116) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.07.20)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안진호 대한민국 서울특별시 강남구
2 이재욱 대한민국 경상남도 양산시
3 홍성철 대한민국 서울특별시 성동구
4 이승민 대한민국 부산광역시 북구
5 김정환 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.04.17 수리 (Accepted) 1-1-2014-0368300-09
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2014-0562363-60
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
5 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2016-0705971-44
6 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2016.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2016-0704789-62
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.09.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0643597-85
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.10.06 수리 (Accepted) 1-1-2016-0967551-59
9 [지정기간단축]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Reduction of Designated Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2016.10.06 수리 (Accepted) 1-1-2016-0967572-18
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.10.06 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0967557-22
11 등록결정서
Decision to grant
2016.11.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0791973-21
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
소광계수가 0
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 무기물층은 Zr, Mo, Y, Si, Rb, Sr, Nb 또는 Ru를 포함하는 EUV 리소그래피용 펠리클
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 결합층은 도파민, 폴리도파민, 노르에피네프린, 폴리노르에피네프린, 에피네프린 또는 폴리에피네프린을 포함하는 EUV 리소그래피용 펠리클
4 4
제1항에 있어서,상기 제1 결합층의 두께는 10 nm 이하인 EUV 리소그래피용 펠리클
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서,상기 강도보강층은 탄소나노튜브 그물망인 것을 특징으로 하는 EUV 리소그래피용 펠리클
7 7
제1항에 있어서,상기 강도보강층 상에 위치하는 카테콜 계열의 작용기를 갖는 유기물을 포함하는 제2 결합층; 및상기 제2 결합층 상에 위치하고, 소광계수가 0
8 8
제7항에 있어서,상기 제2 결합층은 상기 강도보강층과 상기 제2 무기물층의 결합력을 강화시키는 것을 특징으로 하는 EUV 리소그래피용 펠리클
9 9
제7항에 있어서,상기 제2 결합층은 도파민, 폴리도파민, 노르에피네프린, 폴리노르에피네프린, 에피네프린 또는 폴리에피네프린을 포함하는 EUV 리소그래피용 펠리클
10 10
제7항에 있어서,상기 제2 무기물층은 Zr, Mo, Y, Si, Rb, Sr, Nb 또는 Ru를 포함하는 EUV 리소그래피용 펠리클
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN106233202 CN 중국 FAMILY
2 KR101680937 KR 대한민국 FAMILY
3 US09958770 US 미국 FAMILY
4 US20170038675 US 미국 FAMILY
5 WO2015160185 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN106233202 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN106233202 CN 중국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한양대학교 산학협력단 중견연구자지원사업 반도체 극한 패터닝을 위한 마스크 소재 및 마스크 특성평가 기술연구