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초광대역 신호의 시간 지연 추정 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015142189
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 초광대역 신호의 시간 지연 추정 장치 및 그 방법이 개시된다. 본 발명의 시간 지연 추정 장치는 다중 경로로 입력된 초광대역(UWB) 신호를 샘플링 다운 변환(SDC) 방식을 이용하여 샘플링하는 샘플링부, 상기 초광대역 신호의 샘플링된 샘플 값들을 기초로 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하고, 상기 경로 감쇄 계수를 기초로 다중 경로 프로파일을 생성하는 프로파일 생성부 및 상기 다중 경로 프로파일을 통해 직선 경로의 시간 지연을 추정하는 시간 지연 추정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.시간 지연, UWB, MP, 다중 경로
Int. CL H04B 7/02 (2018.01.01) H04L 27/34 (2006.01.01) H04B 7/005 (2006.01.01) H04B 7/26 (2006.01.01)
CPC H04B 1/7163(2013.01) H04B 1/7163(2013.01) H04B 1/7163(2013.01) H04B 1/7163(2013.01) H04B 1/7163(2013.01) H04B 1/7163(2013.01) H04B 1/7163(2013.01)
출원번호/일자 1020070001463 (2007.01.05)
출원인 삼성전자주식회사, 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0064488 (2008.07.09) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김완진 대한민국 서울특별시 서대문구
2 김선우 대한민국 서울특별시 서대문구
3 정민섭 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 천성진 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)(특허법인 무한)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.01.05 수리 (Accepted) 1-1-2007-0012886-95
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.11 수리 (Accepted) 4-1-2008-5037763-28
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다중 경로로 입력된 초광대역(UWB) 신호를 샘플링 다운 변환(SDC) 방식을 이용하여 샘플링하는 샘플링부;상기 초광대역 신호의 샘플링된 샘플 값들을 기초로 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하고, 상기 경로 감쇄 계수를 기초로 다중 경로 프로파일을 생성하는 프로파일 생성부; 및상기 다중 경로 프로파일을 통해 직선 경로의 시간 지연을 추정하는 시간 지연 추정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 프로파일 생성부는matching pursuit(MP) 알고리즘을 이용하여 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 프로파일 생성부는상기 초광대역 신호에 대한 샘플링 벡터와 상기 샘플링 벡터에 대한 레퍼런스(reference) 벡터의 상관도를 기초로 상기 경로 감쇄 계수를 추정하는 계수 추정부; 및상기 추정된 경로 감쇄 계수를 기초로 상기 다중 경로 프로파일을 생성하는 다중 경로 프로파일 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
4 4
제3항에 있어서,상기 계수 추정부는상기 샘플링 벡터와 상기 레퍼런스 벡터의 상관도를 측정하는 상관도 측정부;상기 측정된 상관도 중 가장 높은 상관도를 갖는 상기 레퍼런스 벡터의 인덱스를 추출하고, 그 추출된 인덱스에 해당하는 상기 경로 감쇄 계수를 계산하는 계수 계산부; 및상기 추출된 인덱스에 해당하는 상기 레퍼런스 벡터의 성분을 소거하고, 상기 인덱스에 해당하는 성분이 소거된 상기 상기 레퍼런스 벡터를 상기 상관도 측정부로 피드백하는 피드백부를 포함하고,상기 상관도 측정부는 상기 샘플링 벡터와 상기 피드백된 레퍼런스 벡터의 상관도를 측정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 시간 지연 추정부는상기 다중 경로 프로파일의 최대값을 기초로 기 결정된 임계값을 초과하는 첫 번째 시간을 상기 직선 경로의 시간 지연으로 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 초광대역 신호는IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers) 802
7 7
제6항에 있어서,상기 시간 지연 추정 장치는상기 샘플 값들 중 손실된 샘플 값을 복원하는 샘플 값 복원부를 더 포함하고,상기 프로파일 생성부는 상기 손실된 샘플 값이 복원된 상기 샘플 값들을 기초로 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
8 8
다중 경로로 입력된 초광대역(UWB) 신호를 샘플링 다운 변환(SDC) 방식을 이용하여 샘플링하는 단계;상기 초광대역 신호의 샘플링된 샘플 값들을 기초로 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하는 단계;상기 경로 감쇄 계수를 기초로 다중 경로 프로파일을 생성하는 단계; 및상기 다중 경로 프로파일을 통해 직선 경로의 시간 지연을 추정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 경로 감쇄 계수를 추정하는 단계는matching pursuit(MP) 알고리즘을 이용하여 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 방법
10 10
제8항에 있어서,상기 경로 감쇄 계수를 추정하는 단계는상기 초광대역 신호에 대한 샘플링 벡터와 상기 샘플링 벡터에 대한 레퍼런스 벡터의 상관도를 기초로 상기 경로 감쇄 계수를 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 방법
11 11
제10항에 있어서,상기 경로 감쇄 계수를 추정하는 단계는상기 샘플링 벡터와 상기 레퍼런스 벡터의 상관도를 측정하는 단계;상기 측정된 상관도 중 가장 높은 상관도를 갖는 상기 레퍼런스 벡터의 인덱스를 추출하는 단계;상기 추출된 인덱스에 해당하는 상기 경로 감쇄 계수를 계산하는 단계; 상기 추출된 인덱스에 해당하는 상기 레퍼런스 벡터의 성분을 소거하는 단계; 및상기 인덱스에 해당하는 성분이 소거된 상기 레퍼런스 벡터를 이용하여 상기 상관도를 측정하는 단계로 피드백하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 장치
12 12
제8항에 있어서,상기 직선 경로의 시간 지연을 추정하는 단계는상기 다중 경로 프로파일의 최대값을 기초로 기 결정된 임계값을 초과하는 첫 번째 시간을 상기 직선 경로의 시간 지연으로 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 방법
13 13
제8항에 있어서,상기 초광대역 신호는IEEE 802
14 14
제13항에 있어서,상기 시간 지연 추정 방법은상기 샘플 값들 중 손실된 샘플 값을 복원하는 단계를 더 포함하고,상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하는 단계는 상기 손실된 샘플 값이 복원된 상기 샘플 값들을 기초로 상기 다중 경로의 경로 감쇄 계수를 추정하는 것을 특징으로 하는 시간 지연 추정 방법
15 15
제8항 내지 제14항 중 어느 한 항의 방법을 실행하기 위한 프로그램이 기록되어 있는 것을 특징으로 하는 컴퓨터에서 판독 가능한 기록 매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.