맞춤기술찾기

이전대상기술

반도체 검출장치 및 검출방법

  • 기술번호 : KST2015142899
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 반도체 검출장치 및 검출방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 반도체 검출장치는 가이거 모드 영역(Geiger Mode Region)에서 동작하여 방사선의 세기에 대응하는 제1 아날로그 신호를 출력하는 가이거 모드 반도체 검출기와; 상기 가이거 모드 반도체 검출기로부터 출력되는 상기 제1 아날로그 신호를 증폭하여 제2 아날로그 신호를 생성하는 전치증폭부와; 상기 전치증폭부에 의해 생성되는 상기 제2 아날로그 신호가 기 설정된 기준 범위를 벗어나는 시간을 카운트하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 신호세기 검출부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 가이거 모드 반도체 검출기로부터 출력되는 아날로그 신호의 세기를 ADC(Analog to Digital Converter)를 사용하지 않고 디지털 신호로 변환함으로써, 데이터의 처리 시간을 단축하고 제작 비용을 절감할 수 있다.
Int. CL G01N 23/02 (2006.01) G01N 23/00 (2006.01)
CPC G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01) G01T 1/24(2013.01)
출원번호/일자 1020070039498 (2007.04.23)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0871615-0000 (2008.11.26)
공개번호/일자 10-2008-0095120 (2008.10.28) 문서열기
공고번호/일자 (20081205) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.04.23)
심사청구항수 6

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 조준동 대한민국 경기 성남시 분당구
2 김재곤 대한민국 경기 수원시 장안구
3 김교석 대한민국 경남 창원시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김인철 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로**길 **, 매강빌딩*층 에이치앤에이치 H&H 국제특허법률사무소 (서초동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2007-0306934-51
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.08.10 수리 (Accepted) 4-1-2007-0015278-18
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.01.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.02.14 수리 (Accepted) 9-1-2008-0010896-93
5 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2008.03.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0171640-45
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.07.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0394361-77
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2008.09.26 수리 (Accepted) 1-1-2008-0678096-19
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.10.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0713454-17
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2008-0713452-26
10 등록결정서
Decision to grant
2008.11.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0585108-67
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090770-53
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.20 수리 (Accepted) 4-1-2012-5131828-19
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.27 수리 (Accepted) 4-1-2012-5137236-29
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 아날로그 신호를 출력하는 가이거 모드 반도체 검출기와;상기 가이거 모드 반도체 검출기로부터 출력되는 상기 제1 아날로그 신호를 증폭하여 제2 아날로그 신호를 생성하는 전치증폭부와;상기 전치증폭부에 의해 생성되는 상기 제2 아날로그 신호의 폭이 기 설정된 기준폭을 벗어나는 시간을 카운트하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 신호세기 검출부를 포함하되,상기 신호세기 검출부는,상기 전치증폭부에 의해 생성된 상기 제2 아날로그 신호의 폭이 상기 기준폭을 벗어나는지 여부를 감지하는 비교부와;소정 주기의 펄스신호를 생성하는 펄스발생부와;상기 비교부의 감지 결과에 기초하여 상기 제2 아날로그 신호의 폭이 상기 기준폭을 벗어나는 시간 동안 상기 펄스발생부에 의해 생성된 상기 펄스신호를 카운트하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 카운터를 포함하며, 상기 전치증폭부는,상기 제1 아날로그 신호를 증폭하는 증폭기와,상기 증폭기로부터의 출력이 기 설정된 비율로 증폭되는지 여부에 따라 상기 증폭기로부터의 출력을 피드백하는 피드백회로부를 포함하며;상기 신호세기 검출부는 상기 피드백회로부에 의해 피드백되는 신호를 상기 제2 아날로그 신호로 인식하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 것을 특징으로 하는 반도체 검출장치
2 2
삭제
3 3
제1항에 있어서,상기 제1 아날로그 신호는 상기 방사선의 세기에 대응하는 전하량 형태로 출력되고;상기 제2 아날로그 신호는 상기 전하량 형태의 제1 아날로그 신호가 증폭된 전압 형태로 출력되는 것을 특징으로 하는 반도체 검출장치
4 4
삭제
5 5
제3항에 있어서,상기 신호세기 검출부는 상기 증폭기 및 상기 피드백회로부에 의해 상기 기 설정된 비율로 증폭된 신호를 상기 제2 아날로그 신호로 인식하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 것을 특징으로 하는 반도체 검출장치
6 6
가이거 모드 영역(Geiger Mode Region)에서 동작하는 가이거 모드 반도체 검출기로부터 방사선의 세기에 대응하여 출력되는 제1 아날로그 신호로부터 방사선의 세기를 측정하는 검출방법에 있어서,(a) 상기 제1 아날로그 신호를 증폭하여 제2 아날로그 신호를 생성하는 단계와;(b) 상기 제2 아날로그 신호의 폭이 기 설정된 기준폭을 벗어나는 시간을 카운트하는 단계와;(c) 상기 카운트된 시간에 기초하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 단계를 포함하되,상기 (b) 단계는(b-1) 소정 주기의 펄스신호를 생성하는 단계와,(b-2) 상기 제2 아날로그 신호의 기준폭을 벗어나는 동안 상기 펄스신호를 카운트하는 단계를 포함하며;상기 (c) 단계는 상기 카운트된 펄스신호에 기초하여 상기 방사선의 세기를 측정하는 단계를 포함하며,상기 (a) 단계는(a-1) 상기 제1 아날로그 신호를 증폭하는 단계와,(a-2) 상기 증폭된 제1 아날로그 신호가 기 설정된 비율로 증폭될 때까지 피드백하여 상기 (a-1) 단계를 수행하는 단계를 포함하며;상기 (b) 단계에서는 상기 (a-1) 단계 및 상기 (a-2) 단계의 수행과정 중 피드백되는 신호를 상기 제2 아날로그 신호로 인식하는 것을 특징으로 하는 검출방법
7 7
삭제
8 8
제6항에 있어서,상기 제1 아날로그 신호는 상기 방사선의 세기에 대응하는 전하량 형태로 상기 가이거 모드 반도체 검출기로부터 출력되며;상기 (a) 단계에서 상기 제2 아날로그 신호는 상기 전하량 형태의 제1 아날로그 신호가 증폭된 전압 형태로 생성되는 것을 특징으로 하는 검출방법
9 9
삭제
10 10
제8항에 있어서,상기 (a) 단계에서 상기 제1 아날로그 신호가 상기 (a-1) 단계 및 상기 (a-2) 단계를 거쳐 상기 기 설정된 비율로 최종적으로 증폭된 신호를 상기 제2 아날로그 신호로 인식하는 것을 특징으로 하는 검출방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.