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중성빔 식각장치를 이용한 질화물 반도체 발광 소자 및 그제조 방법

  • 기술번호 : KST2015143537
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 중성빔 식각장치를 이용한 질화물 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 기판, 기판 상에 형성된 n형 질화물 반도체층, n형 질화물 반도체층 상에 형성된 활성층, 활성층 상에 형성되며 그 상면에 소정 패턴의 홀이 형성된 p형 질화물 반도체층 및 n형 질화물 반도체층 및 p형 질화물 반도체층 상에 각각 형성된 n측 전극 및 p측 본딩전극을 포함하고, 소정 패턴의 홀은 중성빔 식각장치에 의해 형성되는 구성을 마련한다.상기와 같은 중성빔 식각장치를 이용한 질화물 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법을 이용하는 것에 의해, 활성층 및 p형 질화물 반도체층에 많은 손상이 생기는 문제를 해소할 수 있다. 기판, 질화물 반도체, 활성층, 전극, 중성빔 식각장치
Int. CL H01L 33/22 (2014.01)
CPC H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01)
출원번호/일자 1020060014569 (2006.02.15)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-0698387-0000 (2007.03.15)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070323) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.02.15)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 염근영 대한민국 서울 송파구
2 박병재 대한민국 충남 계룡시
3 민경석 대한민국 경기 수원시 장안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인정직과특허 대한민국 서울 강남구 선릉로 ***(논현동, 썬라이더빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기 수원시 장안구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2006-0110673-19
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.10.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.11.13 수리 (Accepted) 9-1-2006-0071122-78
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.12.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0733874-15
5 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2007.02.08 수리 (Accepted) 1-1-2007-0119595-34
6 의견서
Written Opinion
2007.03.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0176853-90
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.03.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0176855-81
8 등록결정서
Decision to grant
2007.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0131329-35
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.08.10 수리 (Accepted) 4-1-2007-0015278-18
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090770-53
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.20 수리 (Accepted) 4-1-2012-5131828-19
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.27 수리 (Accepted) 4-1-2012-5137236-29
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
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번호 청구항
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기판 상에 n형 질화물 반도체층, 활성층 및 p형 질화물 반도체층을 순차적으로 성장시키는 단계,상기 n형 질화물 반도체층의 일부가 노출되도록, 상기 활성층 및 p형 질화물 반도체층의 일부를 식각하는 단계,상기 식각 단계에서 식각되지 않은 상기 p형 질화물 반도체층의 상면에 소정 패턴의 홀을 형성하는 단계 및상기 식각에 의해 노출된 n형 질화물 반도체층 및 상기 소정 패턴의 홀이 형성된 상기 p형 질화물 반도체층 상에 각각 n측 전극 및 p측 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기 소정 패턴의 홀은 중성빔 식각장치에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제7항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀을 형성하기 전에 상기 n형 질화물 반도체층을 마스크하여 상기 n형 질화물 반도체층에는 상기 소정 패턴의 홀이 형성되지 않는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제8항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀은 상기 질화물 반도체 발광 소자가 웨이퍼에서 셀로 분리된 후 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제9항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀은 1㎚ 내지 100㎛의 직경을 갖는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제10항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀은 광결정에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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기판 상에 n형 질화물 반도체층, 활성층 및 p형 질화물 반도체층을 순차적으로 성장시키는 단계,상기 n형 질화물 반도체층의 일부가 노출되도록, 상기 활성층 및 p형 질화물 반도체층의 일부를 식각하는 단계,상기 식각에 의해 노출된 상기 n형 질화물 반도체층 및 상기 식각 단계에서 식각되지 않은 상기 p형 질화물 반도체층 상에 각각 n측 전극 및 p측 전극을 형성하는 단계 및상기 p형 질화물 반도체층의 상면에 상기 p측 전극을 제외한 부분에 소정 패턴의 홀을 형성하는 단계를 포함하고,상기 소정 패턴의 홀은 중성빔 식각장치에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제12항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀을 형성하기 전에 상기 n형 질화물 반도체층과 상기 p측 전극을 마스크하여 상기 n형 질화물 반도체층 및 상기 p측 전극에는 상기 소정 패턴의 홀이 형성되지 않는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제13항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀은 상기 질화물 반도체 발광 소자가 웨이퍼에서 셀로 분리된 후 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제14항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀은 1㎚ 내지 100㎛의 직경을 갖는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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제15항에 있어서,상기 소정 패턴의 홀은 광결정에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 발광소자의 제조방법
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패밀리정보가 없습니다
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