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2차원 반도체의 도핑방법 및 스위칭 소자

  • 기술번호 : KST2015144005
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 2차원 반도체의 도핑방법이 개시된다. 개시된 2차원 반도체의 도핑방법은 기판 상에 반도체층을 형성하는 단계와, 상기 반도체층에 이온을 주입하는 단계와, 상기 반도체층 상에 2차원 반도체 또는 유기물 반도체로 이루어진 도프층을 형성하는 단계와 상기 기판을 열처리하여 상기 반도체층의 상기 이온을 상기 도프층으로 확산시켜서 상기 도프층을 도핑하는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 21/265 (2006.01.01) H01L 21/84 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020140010889 (2014.01.28)
출원인 삼성전자주식회사, 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0089841 (2015.08.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.12.27)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박진홍 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 박형열 대한민국 경기도 김포시 걸포*로 **, **
3 심재우 대한민국 경기도 부천시 원미구
4 이재호 대한민국 . 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0094742-61
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
3 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2018-1308810-59
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2020.01.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2020.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0048674-53
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.04.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0283284-83
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.06.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0641809-15
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.06.22 수리 (Accepted) 1-1-2020-0641808-69
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.09.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0621249-24
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2020-1197386-78
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.11.09 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1197387-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 반도체층을 형성하는 단계;상기 반도체층에 이온을 주입하는 단계;상기 반도체층 상에 2차원 반도체 또는 유기물 반도체로 이루어진 도프층을 형성하는 단계; 및상기 기판을 열처리하여 상기 반도체층의 상기 이온을 상기 도프층으로 확산시켜서 상기 도프층을 도핑하는 단계를 구비하는 2차원 반도체의 도핑방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 반도체층은 게르마늄으로 이루어진 도핑방법
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 반도체 형성 단계는 상기 게르마늄을 1㎛~3㎛ 두께로 형성하는 단계인 도핑방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 2차원 반도체는 그래핀, MoS2, WS2, MoSe2, WSe2 중 선택된 적어도 하나로 이루어진 도핑방법
5 5
제 4 항에 있어서,상기 도프층은 상기 2차원 반도체 1층 내지 30nm 두께로 이루어진 도핑방법
6 6
제 1 항에 있어서,상기 유기물 반도체는 pentacene, anthracene, rubrene, polyacetylene, poly(2-hexylthiophene), poly(p-phenylene vinylene) 중 적어도 하나로 이루어진 도핑방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 도프층은 상기 유기물 반도체로 5nm 내지 30nm 두께로 이루어진 도핑방법
8 8
제 1 항에 있어서,상기 열처리 단계는 질소 분위기의 퍼니스에서 대략 300~600℃ 로 열처리하는 단계인 도핑방법
9 9
기판 상에 절연층을 형성하는 단계;상기 기판을 일차적으로 열처리하여 상기 절연층 내의 불순물을 상기 절연층 표면으로 이동시키는 단계;상기 절연층 상에 2차원 반도체 또는 유기물 반도체로 이루어진 도프층을 형성하는 단계; 및상기 기판을 2차적으로 열처리하여 상기 불순물을 상기 도프층으로 확산시켜서 상기 도프층을 도핑하는 단계를 구비하는 2차원 반도체의 도핑방법
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 절연층은 PSG (phosphorus silica glass), BSG (boron silica glass), BPSG (boron phosphorus silica glass), ASG (arsenic silica glass)를 포함하는 도핑방법
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 절연층은 30nm ~ 300nm 두께로 형성되는 도핑방법
12 12
제 9 항에 있어서,상기 2차원 반도체는 그래핀, MoS2, WS2, MoSe2, WSe2 중 선택된 적어도 하나로 이루어진 도핑방법
13 13
제 12 항에 있어서,상기 도프층은 상기 2차원 반도체 1층 내지 30nm 두께로 이루어진 도핑방법
14 14
제 9 항에 있어서,상기 유기물 반도체는 pentacene, anthracene, rubrene, polyacetylene, poly(2-hexylthiophene), poly(p-phenylene vinylene) 중 적어도 하나로 이루어진 도핑방법
15 15
제 14 항에 있어서,상기 도프층은 상기 유기물 반도체로 5nm 내지 30nm 두께로 이루어진 도핑방법
16 16
제 9 항에 있어서,상기 일차적 열처리 단계는 질소 분위기의 퍼니스에서 대략 700~900℃ 로 상기 기판을 열처리하는 단계인 도핑방법
17 17
제 9 항에 있어서,상기 이차적 열처리 단계는 질소 분위기의 퍼니스에서 대략 300~600℃ 로 상기 기판을 열처리하는 단계인 도핑방법
18 18
기판 상의 불순물로 도핑된 도프층;상기 기판 상에서 상기 기판의 양단에 각각 전기적으로 연결된 소스 전극 및 드레인 전극;상기 도프층 상에서 상기 소스 전극 및 상기 드레인 전극 사이의 게이트 절연층; 및상기 게이트 절연층 상의 게이트 전극;을 구비하며, 상기 도프층은 2차원 반도체 또는 유기물 반도체로 이루어진 스위칭 소자
19 19
제 18 항에 있어서, 상기 도프층은 n형 또는 p형으로 도핑된 스위칭 소자
20 20
제 18 항에 있어서,상기 2차원 반도체는 그래핀, MoS2, WS2, MoSe2, WSe2 중 선택된 적어도 하나로 이루어진 스위칭 소자
21 21
제 20 항에 있어서,상기 도프층은 상기 2차원 반도체 1층 내지 30nm 두께로 이루어진 스위칭 소자
22 22
제 18 항에 있어서,상기 유기물 반도체는 pentacene, anthracene, rubrene, polyacetylene, poly(2-hexylthiophene), poly(p-phenylene vinylene) 중 적어도 하나로 이루어진 스위칭 소자
23 23
제 22 항에 있어서,상기 도프층은 상기 유기물 반도체로 5nm 내지 30nm 두께로 이루어진 스위칭 소자
24 24
제 18 항에 있어서, 상기 게이트 절연층은 폴리머로 이루어진 그래핀 스위칭 소자
25 25
제 18 항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 상기 도프층의 극성과 동일한 극성의 트랜지스터인 스위칭 소자
26 26
제 18 항에 있어서, 상기 기판은 플라스틱으로 이루어진 스위칭 소자
27 27
제 18 항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 플렉서블한 스위칭 소자
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09570684 US 미국 FAMILY
2 US20150214482 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2015214482 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9570684 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.