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질화물 반도체 디바이스 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015144587
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 질화물 반도체 디바이스 및 그 제조 방법이 개시된다. 개시된 질화물 반도체 디바이스는, 기판과, 기판 상의 서로 다른 재질의 제1나노입자와 제2나노입자의 나노 복합체를 포함하는 전위 제어층, 전위 제어층 상에 형성되는 질화물 반도체층을 포함한다.
Int. CL H01L 33/02 (2014.01) H01L 33/32 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020120098485 (2012.09.05)
출원인 삼성전자주식회사, 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2014-0031759 (2014.03.13) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.03.23)
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이문상 대한민국 서울 양천구
2 박성수 대한민국 경기 성남시 분당구
3 윤대호 대한민국 경기 수원시 장안구
4 강봉균 대한민국 경기 광명시 아방리

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
2 성균관대학교 산학협력단 경기도 수원시 장안구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.09.05 수리 (Accepted) 1-1-2012-0718362-15
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2013-0924700-11
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.03.23 수리 (Accepted) 1-1-2017-0287139-24
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2018.01.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0010334-63
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0042024-30
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.03.19 수리 (Accepted) 1-1-2018-0274805-65
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.03.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0274806-11
10 등록결정서
Decision to grant
2018.06.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0437910-21
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번호 청구항
1 1
기판과;상기 기판 상의 서로 다른 재질의 제1나노입자와 제2나노입자의 나노 복합체를 포함하는 전위 제어층;상기 전위 제어층 상에 형성되는 질화물 반도체층;을 포함하며,상기 나노 복합체는 상기 제1나노입자 표면에 적어도 하나의 상기 제2나노입자가 결합된 구조로 형성되는 질화물 반도체 디바이스
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1나노입자는 OH 리간드를 가지는 물질로 이루어진 질화물 반도체 디바이스
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1나노입자는 SiO2, ZnO 중 어느 하나로 이루어지는 질화물 반도체 디바이스
5 5
제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제2나노입자는 GaN, β-Ga2O3 중 어느 하나로 이루어지는 질화물 반도체 디바이스
6 6
제1항에 있어서, 상기 나노 복합체는, SiO2 나노입자와 이에 결합된 적어도 하나의 GaN 나노입자를 포함하는 나노 복합체이거나, SiO2 나노입자와 이에 결합된 적어도 하나의 β-Ga2O3 나노입자를 포함하는 나노 복합체인 질화물 반도체 디바이스
7 7
제6항에 있어서, 상기 SiO2 나노입자는 200nm 내지 3μm 의 크기를 가지는 질화물 반도체 디바이스
8 8
제1항에 있어서, 상기 기판은 사파이어 기판, 실리콘 기판, 실리콘 카바이드 기판 중 어느 하나를 사용하는 질화물 반도체 디바이스
9 9
제1항, 제2항, 제4항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 질화물 반도체층은,제1도전형 질화갈륨층, 질화갈륨에 바탕을 둔 다층 양자 우물 구조의 활성층, 상기 제1도전형과 반대형인 제2도전형 질화갈륨층을 포함하며, 상기 활성층에서 광이 발생되도록 전류를 인가하기 위한 제1 및 제2전극을 더 구비하여, 수직형이나 수평형의 질화물 반도체 발광소자로 사용되는 질화물 반도체 디바이스
10 10
제9항에 있어서, 상기 기판과 상기 질화물 반도체층 사이에 완충층;을 더 포함하는 질화물 반도체 디바이스
11 11
제10항에 있어서, 상기 완충층은, ZnO, BN, AlN, GaN, Al1-xGaxN을 포함하는 그룹 중에서 선택된 적어도 어느 한 물질로 이루어진 질화물 반도체 디바이스
12 12
기판을 준비하는 단계와;상기 기판 상에 서로 다른 재질의 제1나노입자와 제2나노입자의 나노 복합체를 포함하는 전위 제어층을 형성하는 단계와;상기 전위 제어층 상에 질화물 반도체층을 에피 성장하는 단계;를 포함하며,상기 나노 복합체는 상기 제1나노입자 표면에 적어도 하나의 상기 제2나노입자가 결합된 구조로 형성되는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
13 13
제12항에 있어서, 상기 전위 제어층을 형성하는 단계는, 상기 나노 복합체를 상기 기판 상에 분산시키기 위하여, 상기 나노 복합체가 포함된 용액을 준비하는 단계와;상기 기판 상에 상기 나노 복합체 용액을 스핀 코팅하는 단계;를 포함하는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
14 14
제13항에 있어서, 상기 기판을 준비하는 단계는,상기 기판을 표면 처리하여 친수성 기판으로 만드는 단계;를 포함하는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
15 15
제14항에 있어서, 상기 표면 처리는, H2SO4, H2O2, 탈이온수를 혼합한 용액을 이용하여 소정 시간동안 이루어지는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
16 16
제13항에 있어서, 상기 나노 복합체 용액의 용매로 탈이온수, 에탄올, 메탄올, 톨루엔 중 어느 하나를 사용하는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
17 17
제12항에 있어서, 상기 나노 복합체는, SiO2 나노입자 표면에 적어도 하나의 GaN 나노입자가 결합된 구조이고, 상기 나노 복합체는, SiO2 나노입자 표면에 적어도 하나의 β-Ga2O3 나노입자가 결합된 구조이고 분말 형태로 형성된 SiO2 0026# β-Ga2O3 나노 복합체를 열처리하고, 열처리된 SiO2 0026# β-Ga2O3 나노 복합체를 질화시켜 형성되는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
18 18
제12항에 있어서, SiO2 나노입자 표면에 적어도 하나의 GaN이나 β-Ga2O3 나노입자가 결합된 나노 복합체를 형성하기 위해, 용질로 Gallium nitrate, Gallium chloride 중 어느 하나를 사용하는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
19 19
제18항에 있어서, SiO2 나노입자 표면에 적어도 하나의 GaN이나 β-Ga2O3 나노입자가 결합된 나노 복합체를 형성하기 위해, 용매로는 탈이온수, 에탈올, 메탄올, 프로파놀 중 어느 하나를 사용하는 질화물 반도체 디바이스 제조 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09053955 US 미국 FAMILY
2 US20140061587 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2014061587 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9053955 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.