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퀀치 파형 생성 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015144757
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 퀀치 파형을 생성하는 방법 및 장치에 관한 것으로, 일 측면에 있어서, 퀀치 파형 생성 장치는 가변 이득 증폭기의 출력전압을 검출하고, 상기 출력전압과 기준전압을 비교한 결과에 기초하여 에러 보정전압을 추정함으로써 주변 환경의 영향이 고려된 퀀치 전류를 생성할 수 있다.
Int. CL H03B 5/04 (2006.01.01)
CPC H03B 5/04(2013.01)
출원번호/일자 1020130068810 (2013.06.17)
출원인 삼성전자주식회사, 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-2110827-0000 (2020.05.08)
공개번호/일자 10-2014-0146688 (2014.12.29) 문서열기
공고번호/일자 (20200515) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.06.12)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재섭 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 박형구 대한민국 성균관대학교
3 김홍진 대한민국 성균관대학교
4 이강윤 대한민국 성균관대학교

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
2 성균관대학교산학협력단 경기도 수원시 장안구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2013-0533558-52
2 보정요구서
Request for Amendment
2013.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0072730-67
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.07.18 수리 (Accepted) 1-1-2013-0646975-05
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.06.12 수리 (Accepted) 1-1-2018-0574738-52
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.04.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.06.13 수리 (Accepted) 9-1-2019-0028414-56
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.10.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0712365-11
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.11.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-1222251-87
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.11.27 수리 (Accepted) 1-1-2019-1222250-31
11 등록결정서
Decision to grant
2020.02.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0102440-65
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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가변 이득 증폭기의 출력전압을 검출하는 검출부;상기 출력전압과 기준전압을 비교한 결과에 기초하여 비트값을 결정함으로써, 상기 결정된 비트값에 기초하여 에러 보정전압을 추정하는 디지털 제어부;상기 디지털 제어부에서 추정된 에러 보정전압에 기초하여 비트 별로 설정된 전류 소스의 동작을 제어함으로써, 발진기의 발진을 제어하기 위한 제1 퀀치 전류를 생성하는 제1 퀀치 전류 생성부;상기 디지털 제어부에서 추정된 에러 보정전압과 이전에 추정된 에러 보정전압 간의 차이가 기 설정된 값보다 작으면, 아날로그 제어부를 활성화 시키는 활성화부;상기 제1 퀀치 전류가 상기 발진기로 제공되고, 상기 발진기에서 다시 상기 가변 이득 증폭기로 전달되면, 상기 가변 이득 증폭기로부터 출력되는 새로운 출력전압과 상기 기준전압 간의 차이를 감소시키는 에러 보정전압을 추정하는 아날로그 제어부; 및 상기 아날로그 제어부에서 추정된 에러 보정전압에 기초하여, 전류 소스의 동작을 제어함으로써 상기 제1 퀀치 전류를 보정하여 상기 발진기의 발진을 제어하기 위한 제2 퀀치 전류를 생성하는 제2 퀀치 전류 생성부를 포함하는 퀀치 파형 생성 장치
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제1항에 있어서,상기 디지털 제어부는상기 출력전압과 상기 기준전압을 비교하여 상기 출력전압이 상기 기준전압보다 큰 값을 가지는지 여부에 따라 하이 신호 또는 로우 신호를 출력하는 비교부; 및상기 비교부의 출력 값에 기초하여 설정된 복수의 비트들의 비트값을 결정하는 비트값 제어부를 포함하는 퀀치 파형 생성 장치
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제1항에 있어서,상기 검출부는차동 증폭기들의 출력을 서로 연결한 에버리지(average) 구조를 이용하여, 상기 가변 이득 증폭기의 출력전압의 피크값을 검출하는퀀치 파형 생성 장치
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가변 이득 증폭기의 출력전압을 검출하는 단계;디지털 제어부를 이용하여 상기 출력전압과 기준전압을 비교한 결과에 기초하여 비트값을 결정함으로써, 상기 결정된 비트값에 기초하여 에러 보정전압을 추정하는 단계;상기 추정된 에러 보정전압에 기초하여, 비트 별로 설정된 전류 소스의 동작을 제어함으로써, 발진기의 발진을 제어하기 위한 제1 퀀치 전류를 생성하는 단계;상기 추정된 에러 보정전압과 이전에 추정된 에러 보정전압 간의 차이가 기 설정된 값보다 작으면, 아날로그 제어부를 활성화하는 단계;상기 제1 퀀치 전류가 상기 발진기로 제공되고, 상기 발진기에서 다시 상기 가변 이득 증폭기로 전달되면, 상기 아날로그 제어부를 이용하여 상기 가변 이득 증폭기로부터 출력되는 새로운 출력전압과 상기 기준전압 간의 차이를 감소시키는 에러 보정전압을 추정하는 단계; 및상기 아날로그 제어부에서 추정된 에러 보정전압에 기초하여, 전류 소스의 동작을 제어함으로써 상기 제1 퀀치 전류를 보정하여 상기 발진기의 발진을 제어하기 위한 제2 퀀치 전류를 생성하는 단계를 포함하는 퀀치 파형 생성 방법
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제10항에 있어서,상기 결정된 비트값에 기초하여 에러 보정전압을 추정하는 단계는상기 출력전압과 상기 기준전압을 비교하여 상기 출력전압이 상기 기준전압보다 큰 값을 가지는지 여부에 따라 하이 신호 또는 로우 신호를 출력하는 단계; 및상기 하이 신호 또는 상기 로우 신호를 출력하는 단계에서 출력된 출력 값에 기초하여 설정된 복수의 비트들의 비트값을 결정하는 단계를 포함하는 퀀치 파형 생성 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.