맞춤기술찾기

이전대상기술

공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

  • 기술번호 : KST2015144848
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치는 미러에 빛을 조사하는 발광부와, 미러에 의해 반사되는 빛을 수광하여 미러의 진동각에 따른 신호를 출력하는 수광부와, 수광부의 출력 신호로부터 미러의 진동각을 산출하는 진동각 산출부와, 미러의 진동을 제어하는 콘트롤러부를 포함한다. 이 미러의 진동각 측정 장치로부터 미러의 진동각을 정확하고 용이하게 측정할 수 있다.
Int. CL G01M 7/02 (2006.01.01) G02B 26/08 (2006.01.01) H03M 1/12 (2006.01.01) H03K 7/08 (2006.01.01)
CPC G01M 7/025(2013.01) G01M 7/025(2013.01) G01M 7/025(2013.01) G01M 7/025(2013.01) G01M 7/025(2013.01)
출원번호/일자 1019980006882 (1998.03.03)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자 10-0261977-0000 (2000.04.25)
공개번호/일자 10-1999-0073771 (1999.10.05) 문서열기
공고번호/일자 (20000715) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.03.03)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 정중기 대한민국 경기도 평택시

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 송만호 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)
2 장성구 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))
3 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 평택시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1998.03.03 수리 (Accepted) 1-1-1998-0021870-41
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1998.03.03 수리 (Accepted) 1-1-1998-0021871-97
3 출원심사청구서
Request for Examination
1998.03.03 수리 (Accepted) 1-1-1998-0021872-32
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.14 수리 (Accepted) 4-1-1999-0005793-30
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1999.02.23 수리 (Accepted) 1-1-1999-5084193-22
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2000.02.16 수리 (Accepted) 9-1-2000-9001341-11
7 등록사정서
Decision to grant
2000.04.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0078736-74
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

공진 스캐너에 장착되는 미러의 진동각 측정 장치에 있어서,

상기 미러에 빛을 조사하는 발광부와;

상기 미러에 의해 반사되는 빛을 수광하여 상기 미러의 진동각에 따른 신호를 출력하는 수광부와;

상기 수광부의 출력 신호로부터 상기 미러의 진동각을 산출하는 진동각 산출부를 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

2 2

제1항에서,

상기 미러의 진동을 제어하는 콘트롤러부를 더 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

3 3

제2항에서,

상기 콘트롤러부는

상기 미러의 진동 주파수를 조정하기 위한 진동 주파수 제어부와;

상기 공진 주파수에 인가되는 전류의 펄스폭을 변조하여 상기 미러의 진동각을 조정하기 위한 펄스폭 변조부를 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

4 4

제1항에서,

상기 수광부는 입사되는 빛의 수광 위치에 따라 출력 전압의 크기가 변하는 포토 센서티브 디바이스인 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

5 5

제1항에서,

상기 진동각 산출부는

상기 수광부의 출력 신호를 증폭하는 신호 증폭부와;

상기 신호 증폭부의 출력 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그/디지털 변환부와;

상기 아날로그/디지털 변환부의 출력값으로부터 미러의 진동각을 계산하는 진동각 계산부를 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

6 6

제1항에서,

상기 발광부의 거리를 1축 직선 방향으로 조절하도록 하는 발광부 거리 조절수단을 더 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

7 7

제6항에서,

상기 발광부 거리 조절 수단은

상기 발광부의 거리를 1축 직선 방향으로 미세하게 조절하도록 하는 마이크로 미터를 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

8 8

제1항에서,

상기 수광부의 위치를 상호 직교하는 2축 직선 방향으로 조절하도록 하는 수광부 위치 조절 수단을 더 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

9 9

제8항에서,

상기 수광부 위치 조절 수단은

상기 수광부의 거리를 제1 방향으로 조절하는 제1 방향 위치 조절 수단과;

상기 수광부의 거리를 상기 제1 방향과 직교하는 제2 방향으로 조절하는 제2 방향 위치 조절 수단을 포함하는 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

10 10

제9항에서,

상기 제1 및 제2 방향 위치 조절 수단은 수광부의 거리를 미세하게 조절하도록 하는 마이크로 미터로 이루어진 공진 스캐너용 미러 진동각 측정 장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.