요약 | 이 발명은 마이크로 빔 스플리터 제조 방법을 개시한다. 먼저 기판 상의 감광층 위에 제1 및 제2 프리즘 제조를 위한 패턴이 형성되어 있는 마스크를 위치시키고 상기 마스크로 X-선을 조사하여 상기 감광층을 노광시키고, 상기 감광층을 현상하여 상기 패턴에 해당하는 형상을 가지는 제1 및 제2 프리즘을 형성한다. 다음에, 상기 제1 프리즘과 제2 프리즘의 밑면에 각각 코팅막을 형성하고, 상기 제1 프리즘의 코팅막과 제2 프리즘의 코팅막 사이에 간섭막을 형성하여 마이크로 빔 스플리터를 제조한다 . 이와 같이 X-선 사진식각공정을 이용하여 마이크로 빔 스플리터를 제조함에 따라, 마이크로 크기를 가지는 빔 스플리터도 용이하게 제조할 수 있으며, 저가의 비용으로 보다 정밀한 형상을 가지는 마이크로 빔 스플리터를 제조할 수 있다. 빔스플리터, X-선 사진 식각 공정, 프리즘, 간섭필름 |
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Int. CL | G03F 7/20 (2006.01) |
CPC | G03F 7/70583(2013.01) G03F 7/70583(2013.01) G03F 7/70583(2013.01) G03F 7/70583(2013.01) G03F 7/70583(2013.01) |
출원번호/일자 | 1019990061062 (1999.12.23) |
출원인 | 전자부품연구원 |
등록번호/일자 | |
공개번호/일자 | 10-2001-0057689 (2001.07.05) 문서열기 |
공고번호/일자 | |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 거절 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (1999.12.23) |
심사청구항수 | 3 |