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고감도 이미지 센서 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015145136
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 이미지 센서에 관한 것으로, 보다 자세하게는 다결정 실리콘의 결정립 사이즈를 조절하여 결정립 내부에 캐리어를 트랩시켜 트랜지스터의 문턱전압을 변조하여 광전류를 얻어내는 방법을 이용하여, 적은 빛이 수광되더라도 고효율의 수광능력을 갖는 고감도 이미지 센서 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명의 상기 목적은 실리콘 기판의 상부에 실리콘 산화막과 실리콘 박막을 순차적으로 형성시킨 SOI 기판, 상기 SOI 기판의 상부에 형성된 게이트 절연막, 상기 게이트 절연막 상부에 형성된 게이트, 상기 게이트의 하부 양측에 제 2도전형으로 형성된 소오스와 드레인 및 상기 게이트 및 소오스를 연결하는 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서에 의해 달성된다. 따라서, 본 발명의 고감도 이미지 센서는 일정한 사이즈의 다결정 실리콘에 빛을 조사하면 광여기된 전자-전공 쌍이 생성되며, 이때 소오스 전극에 일부를 연결하고 바이어스를 걸면 전자는 전극으로 흘러가고 정공은 다결정 실리콘의 각 결정립에 포획된다. 상기 포획된 정공은 각각의 결정립에서 포지티브 전하로써 존재하므로 다결정 실리콘 게이트 아래의 FET 채널의 문턱전압을 포획된 전하의 수만큼 낮추게 되어 신호전하를 유기시켜 광전변환 시킨다. 또한 다결정 실리콘의 결정립 사이즈를 조절하여 결정립 내부에 캐리어를 트랩시켜 광전류를 얻어내는 방법을 이용하여, 적은 빛이 수광되더라도 큰 광전변환 효율을 얻을 수 있다. 또한 SOI 구조의 기판을 사용하여 소자의 직접도를 향상시킬 수 있다. 이미지 센서, CMOS, CCD, 고감도, 결정립, 다결정 실리콘
Int. CL H01L 27/146 (2006.01)
CPC H01L 27/14616(2013.01)
출원번호/일자 1020030087357 (2003.12.03)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0558527-0000 (2006.03.02)
공개번호/일자 10-2005-0054069 (2005.06.10) 문서열기
공고번호/일자 (20060310) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.12.03)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김훈 대한민국 경기도용인시수지읍

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2003-0462662-14
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
3 선행기술조사의뢰서(내부)
Request for Prior Art Search (Inside)
2005.05.25 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.08.16 수리 (Accepted) 9-1-2005-0049351-10
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0400349-12
6 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period
2005.10.21 수리 (Accepted) 1-1-2005-0597906-50
7 의견서
Written Opinion
2005.10.28 수리 (Accepted) 1-1-2005-0620703-29
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.10.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0620702-84
9 등록결정서
Decision to grant
2005.12.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0619390-43
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
이미지 센서에 있어서,실리콘 기판의 상부에 실리콘 산화막과 실리콘 박막을 순차적으로 형성시킨 SOI 기판;상기 SOI 기판의 상부에 형성된 게이트 절연막;상기 게이트 절연막 상부에 형성되고, 도전체에서 발생된 캐리어 중 소수 캐리어를 포획시킬 수 있는 단결정을 다수개 구비하고 있는 도핑되지 않은 다결정 실리콘;상기 다결정 실리콘 상부에 형성되고, 빛의 수광에 의하여 캐리어가 발생되는 금속 또는 도핑된 다결정 실리콘인 도전체;상기 실리콘 산화막의 상부와 상기 게이트의 하부 양측에 제 2도전형으로 형성된 소오스와 드레인; 및상기 게이트와 소오스를 연결하는 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제 1항에 있어서,상기 연결부는 상기 다결정 실리콘과 소오스를 연결하는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서
6 6
이미지 센서의 제조방법에 있어서,실리콘 기판의 상부에 실리콘 산화막과 실리콘 박막을 형성시키는 단계;상기 실리콘 박막의 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계;상기 게이트 절연막의 상부에 도핑되지 않은 다결정 실리콘과 도전체를 증착시키는 단계;상기 실리콘 박막에 이온주입을 통하여 소오스 및 드레인을 형성하는 단계; 및상기 게이트와 소오스를 연결하는 연결부를 형성하는 단계를 포함하는 고감도 이미지 센서의 제조방법
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제 6항에 있어서,상기 다결정 실리콘과 도전체를 증착시키는 단계는 포토공정으로 게이트 절연막, 다결정 실리콘 및 도전체를 식각하여 상기 게이트 절연막과 다결정 실리콘 및 도전체의 이중구조로 형성된 게이트로 형성되는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서의 제조방법
8 8
제 6항에 있어서,상기 연결부를 형성하는 단계는 상기 다결정 실리콘과 소오스를 연결하는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서의 제조방법
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제 6항에 있어서, 상기 연결부는 금속배선공정으로 형성하는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서의 제조방법
10 9
제 6항에 있어서, 상기 연결부는 금속배선공정으로 형성하는 것을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.