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씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀

  • 기술번호 : KST2015145361
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 제1형불순물 반도체 기판상에 형성되어, 빛을 수광하여 전기적인 신호를 생성하기 위한 NMOS 및 제2형불순물로 도핑된 웰(well)을 포함하고, 상기 NMOS로부터 받은 신호를 출력하기 위한 PMOS를 포함하는 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀에 관한 것이다.따라서, 본 발명은 NMOS와 PMOS만으로 단위 픽셀을 구성함으로써 픽셀 자체의 피치 사이즈를 줄일 수 있어 이미지 센서의 전체 구현 면적을 획기적으로 줄일 수 있으며, 소량의 빛이 들어와도 많은 량의 전류가 흐를 수 있는 구조의 이미지센서를 구성함으로써 10lux의 저조도에서도 이미지의 구현이 우수한 특성이 있으며, 이와 더불어 NMOS로 광전변환부를 이용함으로써 이미지의 구현 속도가 빠른 단위 픽셀을 제공할 수 있으며, 고속의 동영상의 구현을 용이하게 한다.PMOS, NMOS, 이미지 센서
Int. CL H01L 27/146 (2011.01) H04N 5/3745 (2011.01)
CPC H01L 27/14612(2013.01) H01L 27/14612(2013.01) H01L 27/14612(2013.01)
출원번호/일자 1020060135846 (2006.12.28)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0061060 (2008.07.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.28)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박광수 대한민국 경기 구리시
2 정민재 대한민국 경기도 용인시
3 김상진 대한민국 경기 화성시
4 조영창 대한민국 경기 수원시 영통구
5 김 훈 대한민국 서울 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.12.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0973659-21
2 선행기술조사의뢰서(내부)
Request for Prior Art Search (Inside)
2007.10.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.11.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2007-0049972-94
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.01.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0026752-39
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.03.21 수리 (Accepted) 1-1-2008-0207865-99
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.03.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0207870-17
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.07.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0401129-56
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1형불순물 반도체 기판상에 형성되어, 빛을 수광하여 전기적인 신호를 생성하기 위한 NMOS; 및제2형불순물로 도핑된 웰(well)을 포함하고, 상기 NMOS로부터 받은 신호를 출력하기 위한 PMOS를 포함하는 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
2 2
제 1 항에 있어서,상기 NMOS는 게이트와 바디를 플로팅시킨 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
3 3
제 2 항에 있어서,상기 NMOS는 그라운드와 연결하기 위하여 바디와 동일한 불순물형으로 형성된 그라운드 연결부를 더 포함하는 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
4 4
제 3 항에 있어서,상기 그라운드 연결부의 불순물 농도는 바디의 불순물 농도보다 고농도인 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
5 5
제 1 항에 있어서,상기 PMOS의 게이트는 외부로부터 선택신호를 인가받는 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
6 6
제 5 항에 있어서,상기 PMOS는 전원전압과 연결하기 위하여 웰과 동일한 불순물형으로 형성된 전원전압 연결부를 더 포함하는 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
7 7
제 6 항에 있어서,상기 전원전압 연결부의 불순물 농도는 웰의 불순물 농도보다 고농도인 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
8 8
제 1 항에 있어서,상기 제1형불순물은 P형인 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
9 9
제 1 항에 있어서,상기 제2형불순물은 N형인 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
10 10
제1 불순물형 반도체 기판상에 형성되어, 빛을 수광하여 전기적인 신호를 생성하기 위한 NMOS; 및제2형불순물로 도핑된 웰(well)을 포함하고, 상기 NMOS로부터 받은 신호를 출력하기 위한 PMOS를 포함하며,상기 NMOS는 컬러 이미지를 구현하기 위하여 상부에 컬러 필터가 형성된 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 컬러 필터는, 청색 컬러 필터, 녹색 컬러 필터, 적색 컬러 필터 중 적어도 어느 하나인 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
12 12
제1 불순물형 반도체 기판상에 형성되어, 녹색, 청색 및 적색의 빛을 각각 수광하여 전기적인 신호를 생성하기 위한 복수의 NMOS; 및제2형불순물로 도핑된 웰(well)을 포함하고, 상기 각각의 NMOS로부터 받은 신호를 각각 출력하기 위한 복수의 PMOS를 포함하며,상기 각각의 NMOS는 게이트 전극의 두께가 다른 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
13 13
제 12항에 있어서,상기 게이트 전극의 두께는 녹색 빛을 수광하기 위한 NMOS의 게이트 전극의 두께를 청색 빛을 수광하기 위한 NMOS의 게이트 전극의 두께보다는 두껍게 적색 빛을 수광하기 위한 NMOS의 게이트 전극의 두께보다는 얇게 형성하는 씨모스 이미지 센서의 단위 픽셀
14 14
제 13 항에 있어서,상기 녹색 빛을 수광하기 위한 NMOS의 게이트 전극의 두께는 0
15 15
제 13 항에 있어서,상기 청색 빛을 수광하기 위한 NMOS의 게이트 전극의 두께는 0
16 16
제 13 항에 있어서,상기 적색 빛을 수광하기 위한 NMOS의 게이트 전극의 두께는 4
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.