| 1 |
1
자동 시험 시스템에 있어서,
제1 싱글 디지털 신호를 발생시키는 ATE(automatic test equipment)와,
상기 ATE로부터 발생되는 상기 제1 싱글 디지털 신호와, 상기 제1 싱글 디지털 신호의 극성을 반전시켜 생성한 제2 싱글 디지털 신호를 기반으로 차등 디지털 신호를 생성하는 신호 변환부와,
상기 신호 변환부에서 생성되는 상기 차등 디지털 신호를 인가받는 DUT(Device Under Test)를 포함하는 자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 장치
|
| 2 |
2
제1 항에 있어서,
상기 ATE로부터 발생되는 신호를 상기 DUT로 전송하는 테스트 보드를 더 포함하는 자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 장치
|
| 3 |
3
제1 항에 있어서, 상기 신호 변환부는,
테스트 보드 상에 상기 DUT에 가까운 영역에 구현되거나, 별도의 보드로 구현되어, 상기 테스트 보드와 DUT 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 장치
|
| 4 |
4
자동 시험 시스템에 있어서,
제1 싱글 디지털 신호를 발생시키는 ATE(automatic test equipment)와,
상기 ATE로부터 발생되는 상기 제1 싱글 디지털 신호와, 상기 제1 싱글 디지털 신호의 극성을 반전시켜 생성한 제2 싱글 디지털 신호를 기반으로 완전한 차등 디지털 신호를 생성하는 테스트 보드와,
상기 테스트 보드에서 생성되는 상기 차등 디지털 신호를 인가받는 DUT(Device Under Test)를 포함하는 자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 장치
|
| 5 |
5
제4 항에 있어서, 상기 테스트 보드는,
상기 ATE로부터 발생되는 상기 제1 싱글 디지털 신호를 기반으로 상기 차등 디지털 신호를 생성하는 신호 변환부를 포함하는 자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 장치
|
| 6 |
6
자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 방법에 있어서,
ATE가 제1 싱글 디지털 신호를 발생시키는 단계와,
신호 변환부가 상기 ATE로부터 발생되는 상기 제1 싱글 디지털 신호와, 상기 제1 싱글 디지털 신호의 극성을 반전시켜 생성한 제2 싱글 디지털 신호를 기반으로 완전한 차등 디지털 신호를 생성하는 단계와,
상기 신호 발생부가 상기 차등 디지털 신호를 DUT에 인가하는 단계와,
상기 ATE가 상기 DUT에 인가되는 차등 디지털 신호를 기반으로 테스트 및 측정하는 단계를 포함하는 자동 시험 시스템의 차등 신호 발생 방법
|
