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열경화형 후막 레지스터 제조방법 및 이에 따른 레지스터

  • 기술번호 : KST2015146216
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 열경화형 후막 레지스터 제조방법 및 이에 따른 레지스터에 관한 것으로, 특히 기판 위에 금속 물질을 증착하는 단계; 사진 식각(Photo Etching) 공정으로 상기 금속 물질의 양쪽 일부 영역을 식각 하여 하부 금속 패드를 형성하는 단계; 상기 하부 금속 패드를 덮도록 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 도포하는 단계; 상기 도포 된 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 건조 및 열처리하여 저항체를 형성하는 단계; 상기 저항체가 형성되지 않은 기판 위에 절연체 물질을 도포함으로써 절연층을 형성하는 단계; 및 상기 저항체 및 절연층 위에 금속 물질을 증착한 후, 상기 금속 물질의 양쪽 일부를 식각하여 상부 금속 패드를 형성하는 단계로 이루어지는 열경화형 후막 레지스터 제조방법에 의하는 경우, 하부와 상부 금속 패드 사이에 레지스터가 위치하고, 금속 패드와 레지스터의 접촉면이 매우 정밀하게 형성되어 저항값이 현저하게 균일해진 레지스터를 제조할 수 있는 효과가 있다.후막 레지스터, 절연층, 금속 패드
Int. CL H01C 17/065 (2006.01) H01C 17/075 (2006.01)
CPC H01C 17/065(2013.01) H01C 17/065(2013.01) H01C 17/065(2013.01)
출원번호/일자 1020050069420 (2005.07.29)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0690354-0000 (2007.02.27)
공개번호/일자 10-2007-0014617 (2007.02.01) 문서열기
공고번호/일자 (20070309) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.07.29)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유명재 대한민국 서울특별시 광진구
2 박성대 대한민국 서울특별시 마포구
3 강남기 대한민국 서울특별시 서초구
4 박종철 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정종옥 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)
2 조현동 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 (도곡동, 덕영빌딩)(노벨국제특허법률사무소)
3 진천웅 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층 노벨국제특허법률사무소 (도곡동, 덕영빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2005-0419323-12
2 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
2006.04.17 수리 (Accepted) 1-1-2006-0263024-41
3 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent
2006.04.17 수리 (Accepted) 1-1-2006-0263470-91
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.07.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.08.11 수리 (Accepted) 9-1-2006-0051716-19
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.09.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0574281-10
7 의견서
Written Opinion
2006.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2006-0886990-11
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.11.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0886994-93
9 등록결정서
Decision to grant
2007.02.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0083367-00
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 위에 금속 물질을 증착하는 단계; 사진 식각(Photo Etching) 공정으로 상기 금속 물질의 양쪽 일부 영역을 식각 하여 하부 금속 패드를 형성하는 단계; 상기 하부 금속 패드를 덮도록 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 도포하는 단계; 상기 도포 된 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 건조 및 열처리하여 저항체를 형성하는 단계; 상기 저항체가 형성되지 않은 기판 위에 절연체 물질을 도포함으로써 절연층을 형성하는 단계 및 상기 저항체 및 절연층 위에 금속 물질을 증착한 후, 상기 금속 물질의 양쪽 일부를 식각하여 상부 금속 패드를 형성하는 단계로 이루어지는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 사진 식각 공정은, 상기 금속 물질 위에 포토레지스트(photoresist)를 도포하고; 상기 포토레지스트가 도포 된 금속 물질의 양쪽 일부 영역을 포토 마스크(Photomask)를 이용하여 빛으로 노광(exposure)시키며; 상기 노광된 포토레지스트를 현상(develop)한 후; 상기 금속 물질의 양쪽 일부 영역을 에칭(etching)하고; 상기 에칭 되지 않은 금속 물질의 상부에 남아있는 포토레지스트를 박리하는 것으로 이루어진 것을 특징으로 하는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
3 3
기판 위에 금속 물질을 증착한 후 상기 금속 물질의 양쪽 일부 영역을 식각 하여 하부 금속 패드를 형성하는 단계; 상기 하부 금속 패드를 덮도록 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 도포하는 단계; 상기 도포된 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 건조 및 열처리하여 저항체를 형성하는 단계; 상기 저항체 및 기판 위에 감광성 절연체 물질을 도포함으로써 감광성 절연층을 형성하는 단계; 상기 저항체 위에 있는 감광성 절연층 일부를 사진 식각 공정으로 식각하여 저항체 상부가 드러나도록 하는 단계 및 상기 드러난 저항체 및 감광성 절연층 위에 금속 물질을 증착한 후, 상기 금속 물질의 양쪽 일부를 식각하여 상부 금속 패드를 형성하는 단계로 이루어지는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 사진 식각 공정은, 상기 감광성 절연층 위에 포토레지스트를 도포하고; 상기 포토레지스트와 감광성 절연층이 형성된 저항체의 일부 영역을 포토 마스크를 이용하여 빛으로 노광시키며; 상기 노광 된 포토레지스트를 현상한 후; 상기 일부 영역의 감광성 절연층을 에칭하고; 상기 에칭 되지 않은 감광성 절연층의 상부에 남아있는 포토레지스트를 박리하는 것으로 이루어진 것을 특징으로 하는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
5 5
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 도포하는 단계는 구멍의 크기가 400 메쉬(mesh) 내지 1000 메쉬 범위 내이고, 두께는 10 ㎛ 내지 70 ㎛ 범위 내인 금속 마스크를 이용하여 스크린 프린팅(screen printing) 방법으로 도포하는 것을 특징으로 하는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
6 6
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 저항체를 형성하는 단계는 도포된 후막 레지스터 페이스트 또는 잉크를 평탄화(leveling)하고, 건조 및 열처리한 이후에 트리밍(trimming)하는 것을 특징으로 하는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
7 7
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 상부 금속 패드를 형성하는 단계 이후에 상기 열경화형 후막 레지스터의 모든 층들에 열과 압력을 가하면서 열처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 열경화형 후막 레지스터 제조방법
8 8
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 따른 방법으로 제조된 열경화형 후막 레지스터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.